PROCEDE DE FABRICATION D'UNE MEMOIRE NON VOLATILE

    公开(公告)号:FR2987697A1

    公开(公告)日:2013-09-06

    申请号:FR1251968

    申请日:2012-03-05

    Abstract: L'invention concerne un procédé de fabrication d'une mémoire non volatile comprenant au moins deux cellules mémoire (C31, C32) comportant chacune un transistor à accumulation de charges (FGT31, FGT32) en série avec un transistor de sélection (ST31, ST32), comprenant les étapes consistant à réaliser une grille enterrée (SGC) dans le substrat; implanter, le long d'un premier bord supérieur de la grille enterrée (SGC), une première région dopée (n2) formant une région de drain du transistor de sélection (ST31) d'une première cellule mémoire, et, le long d'un second bord supérieur de la grille enterrée, une seconde région dopée (n2) formant une région de drain du transistor de sélection (ST32) d'une seconde cellule mémoire (C32), et une étape consistant à implanter une troisième région dopée (NISO) s'étendant le long de deux bords inférieurs de la grille enterrée et formant une région de source (S) des transistors de sélection.

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