公开(公告)号：CN106768307A

公开(公告)日：2017-05-31

申请号：CN201611191459.X

申请日：2016-12-21

Applicant: 福建省计量科学研究院

Inventor： 黄伟 ,  廖小华 ,  方用 ,  李杰

IPC: G01J1/00 ,  G01J1/02 ,  G01J1/08

CPC classification number: G01J1/00 ,  G01J1/0295 ,  G01J1/08 ,  G01J2001/0481 ,  G01J2001/083

Abstract: 本发明提供一种紫外辐照度计的校准装置，包括紫外光源设备、积分球、可调光阑组件、以及光阑控制器；所述积分球上设置有光源进光口、至少三个标准紫外辐照度计测试口、以及一个被检紫外辐照度计测试口；所述紫外光源设备的发射口与积分球的光源进光口位于同一水平面上，且所述可调光阑组件设置于发射口和光源进光口之间，所述光阑控制器控制所述可调光阑组件的开口大小的调节。本发明提高紫外辐射照度计的校准效率的同时降低其校准不确定度。

公开(公告)号：CN103728015B

公开(公告)日：2016-04-20

申请号：CN201310432079.0

申请日：2013-09-22

Applicant: 台湾超微光学股份有限公司

Inventor： 洪健翔

IPC: G01J1/04 ,  G01J3/02

CPC classification number: G02B5/0273 ,  G01J1/0295 ,  G01J1/0414 ,  G01J1/0422 ,  G01J1/0425 ,  G01J1/044 ,  G01J1/0474 ,  G01J1/42 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/18 ,  G02B19/0076

Abstract: 本发明公开了一种接收入射光的光学头及使用其的光学系统，其中一实施例的光学头包含穿透式余弦校正元件以及朝向穿透式余弦校正元件配置的反射元件。穿透式余弦校正元件配置于入射光的一光径上，并对反射元件遮蔽入射光。入射光在射入穿透式余弦校正元件后被转换为朗伯光形的一散射光。反射元件具有光学输出区与反光区，其中光学输出区使散射光通过，而反光区反射散射光至穿透式余弦校正元件及/或反光区的其他部分。本发明提高了散射光进入光学输出区的比例从而增加光学头可收集的入射光。

公开(公告)号：CN103383347B

公开(公告)日：2015-09-09

申请号：CN201310279839.9

申请日：2013-07-04

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 孙若端 ,  马煜

IPC: G01N21/17

CPC classification number: G01J1/0295 ,  G01J1/0437 ,  G01J1/0462 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0254 ,  G01J3/0297

Abstract: 本发明提供了一种非线性误差的绝对测量方法及装置，其中，非线性误差的绝对测量方法包括：将N个拼接在一起的反射板同时放置于光学测量仪器的样品口，其中，各个所述反射板在所述样品口的覆盖面积相同；在所述光学测量仪器的光路中放置光阑；按照所述光学测量仪器需要测量非线性误差的测量量程，调整使用的反射板的个数，并在每次调整后，获取调整后的所述反射板放置于所述样品口时，所述光学测量仪器的输出结果；对所述输出结果进行非线性误差计算处理，获取所述光学测量仪器输出结果的非线性误差。通过本申请，在保证非线性误差测量精度的同时，实现了对光学测量仪器最终输出结果的非线性误差的测量。

公开(公告)号：CN103728015A

公开(公告)日：2014-04-16

申请号：CN201310432079.0

申请日：2013-09-22

Applicant: 台湾超微光学股份有限公司

Inventor： 洪健翔

IPC: G01J1/04 ,  G01J3/02

CPC classification number: G02B5/0273 ,  G01J1/0295 ,  G01J1/0414 ,  G01J1/0422 ,  G01J1/0425 ,  G01J1/044 ,  G01J1/0474 ,  G01J1/42 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/18 ,  G02B19/0076

Abstract: 本发明公开了一种接收入射光的光学头及使用其的光学系统，其中一实施例的光学头包含穿透式余弦校正元件以及朝向穿透式余弦校正元件配置的反射元件。穿透式余弦校正元件配置于入射光的一光径上，并对反射元件遮蔽入射光。入射光在射入穿透式余弦校正元件后被转换为朗伯光形的一散射光。反射元件具有光学输出区与反光区，其中光学输出区使散射光通过，而反光区反射散射光至穿透式余弦校正元件及/或反光区的其他部分。本发明提高了散射光进入光学输出区的比例从而增加光学头可收集的入射光。

公开(公告)号：CN103383347A

公开(公告)日：2013-11-06

申请号：CN201310279839.9

申请日：2013-07-04

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 孙若端 ,  马煜

IPC: G01N21/17

CPC classification number: G01J1/0295 ,  G01J1/0437 ,  G01J1/0462 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0254 ,  G01J3/0297

Abstract: 本发明提供了一种非线性误差的绝对测量方法及装置，其中，非线性误差的绝对测量方法包括：将N个拼接在一起的反射板同时放置于光学测量仪器的样品口，其中，各个所述反射板在所述样品口的覆盖面积相同；在所述光学测量仪器的光路中放置光阑；按照所述光学测量仪器需要测量非线性误差的测量量程，调整使用的反射板的个数，并在每次调整后，获取调整后的所述反射板放置于所述样品口时，所述光学测量仪器的输出结果；对所述输出结果进行非线性误差计算处理，获取所述光学测量仪器输出结果的非线性误差。通过本申请，在保证非线性误差测量精度的同时，实现了对光学测量仪器最终输出结果的非线性误差的测量。

公开(公告)号：CN102667425A

公开(公告)日：2012-09-12

申请号：CN201080052663.8

申请日：2010-02-02

Applicant: 韩国标准科学研究院

Inventor： 朴盛钟 ,  李东勋 ,  朴承男

IPC: G01J1/02

CPC classification number: G01J1/02 ,  G01J1/0295 ,  G01J2001/0481 ,  G01J2001/061 ,  G01J2001/4247

Abstract: 本发明提供了一种积分球光度计及其测量方法。所述积分球光度计包括：积分球，包括左半球和右半球；光度计，置于右半球的中心面；光度计挡板，置于光度计前面且与光度计间隔开；待测光源，置于积分球的中心区，至少向左半球的照明区发光；辅助灯部，置于左半球和右半球之间的接触区附近，以向照明区发光；以及辅助灯挡板，置于辅助灯部周围，以防止待测光源发出的光直接照射到辅助灯部，并且也防止从辅助灯部发出的光直接照射到待测光源。

公开(公告)号：CN101162726A

公开(公告)日：2008-04-16

申请号：CN200710181178.0

申请日：2007-10-12

Applicant: 三洋电机株式会社 ,  三洋半导体株式会社

Inventor： 武市吉正

IPC: H01L27/146 ,  H01L31/0232 ,  G02B5/20 ,  G02B5/28

CPC classification number: H04N9/04 ,  G01J1/02 ,  G01J1/0209 ,  G01J1/0228 ,  G01J1/0295 ,  G01J1/04 ,  G01J1/0407 ,  G01J1/0488 ,  G01J1/42 ,  H01L31/0203 ,  H01L31/02162

Abstract: 以前的光电变换装置中虽然拦截了不需要的红外线，但同时也存在可见光区域的光的透光率也减少这一问题。本发明的光电变换装置中，具有形成有光电变换元件的半导体基板(2)、设置在半导体基板(2)上的滤色片(8)、以及粘合在滤色片(8)上的支撑基体(21)，支撑基体(21)具有层叠了多个电介质层的反射红外线的干涉膜滤片(11)，通过这样能够解决上述问题。进而，通过将滤色片(8)的透光性调整成人类的可见度，能够实现一种被调整成了人类的可见度的光电变换装置。

公开(公告)号：CN106605130B

公开(公告)日：2019-06-28

申请号：CN201580039107.X

申请日：2015-05-19

Applicant: IDT欧洲有限责任公司

Inventor： T·雷谢尔 ,  L·西弗纳 ,  M·加尔扎罗利 ,  M·桑迪格 ,  L·格普费特

IPC: G01J1/02 ,  G01J5/02 ,  G01J5/04 ,  H01L31/0203 ,  H01L31/0216

CPC classification number: G01J1/0214 ,  G01J1/0295 ,  G01J1/429 ,  G01J1/44 ,  G01J5/0285 ,  G01J5/045 ,  G01J2001/0276 ,  G01J2001/446 ,  H01L27/1462 ,  H01L27/14623 ,  H01L27/14636 ,  H01L27/14643 ,  H01L31/0203 ,  H01L31/02164 ,  H01L2224/48091 ,  H01L2224/49175 ,  H01L2924/00014

Abstract: 本发明涉及在CMOS方法中产生的紫外光传感器，包括带有表面的基底，设计在上述基底中并检测射线的一个或多个传感器元件，至少一个置于上述基底表面上方的钝化层，以及置于上述钝化层上方并以至少一个滤光层形式设计的功能层。根据配置，通过直接设计在平坦钝化层上的滤光层，以及上述至少一个传感器元件周围和/或所述紫外光传感器周围的杂散光抑制装置，解决了通过本发明提供专门在紫外线波长范围内灵敏的紫外光传感器所处理的问题。根据上述方法，通过测量来自至少两个适用不同滤光层的光敏二极管的两个输出信号，并通过确定上述两个输出信号之间的数学关系，解决了上述问题。

公开(公告)号：CN107449510A

公开(公告)日：2017-12-08

申请号：CN201710514011.5

申请日：2017-06-29

Applicant: 成都旭光光电技术有限责任公司

Inventor： 黄卫斌 ,  冯达敏 ,  徐晓华 ,  张宝文 ,  詹定鹏 ,  黄菊

IPC: G01J1/42 ,  G01J1/44 ,  G01J1/02 ,  G05B19/042

CPC classification number: G01J1/429 ,  G01J1/0295 ,  G01J1/4228 ,  G01J1/44 ,  G01J2001/444 ,  G05B19/042 ,  G05B19/0423 ,  G05B2219/21137 ,  G05B2219/25257

Abstract: 本发明公开了一种紫外光检测模块，其方法为采用多个相同型号的紫外光敏元件来同步探测所处环境中的紫外光，将各个紫外光敏元件输出的探测信号转换为相应的脉冲信号后，通过检测脉冲信号间的时间间隔，当有时间间隔的长度不超过设定值时，产生预警信号，从而表明各个紫外光敏元件探测到所处环境中出现紫外光，而不是紫外光敏元件自身因电子噪声触发而不定时产生的脉冲响应。因此，本发明应用在日光光照和环境温度升高的情况下，能够避免由于电子噪声触发而导致的紫外光检测有效性的大幅降低，容易产生误报的情况发生。

公开(公告)号：CN106840384A

公开(公告)日：2017-06-13

申请号：CN201611106106.5

申请日：2016-12-05

Applicant: 欧普照明股份有限公司

Inventor： 周志贤 ,  刘亚龙 ,  张正华 ,  宫兴致 ,  武俊

IPC: G01J1/02

CPC classification number: G01J1/0295

Abstract: 本发明实施例公开了一种校正装置和应用该校正装置的校正方法，校正装置用于校正工具，其包括：基座，包括收容部，收容部用于收容参考传感器与所述工具内目标传感器；控制器，与位于收容部内的所述参考传感器和目标传感器以及工具内处理器均电性连接，控制器用于：将参考传感器和目标传感器所采集到光线的数据做比对的结果作为校正系数；将校正系数写入处理器，处理器通过校正系数来校正从目标传感器获取到的数据。通过上述方案，处理器能够基于校正系数来校正目标传感器所采集到数据，而使得目标传感器所采集到的数据更准确。实现仅从软件层面做校正，不会对工具内硬件带来变化，大幅降低了校正成本，具有很强的应用前景。