公开(公告)号：CN108387311A

公开(公告)日：2018-08-10

申请号：CN201710063963.X

申请日：2017-02-03

Applicant: 山东华光光电子股份有限公司

Inventor： 张骋 ,  梁盼 ,  刘存志 ,  汤庆敏 ,  徐现刚

IPC: G01J1/04

CPC classification number: G01J1/0411

Abstract: 一种利用反射光实现可调档位的激光功率计，包括驱动电源、激光器、可调档位反光镜和传感器，激光器与驱动电源连接，可调档位反光镜包括至少一级反光镜，第一级反光镜设置在激光器的出光方向上，后一级反光镜设置在前一级反光镜的反射光方向上，传感器设置于最后一级反光镜的反射光方向上，每一级反光镜的反光侧设置反射膜。该激光功率计通过对激光的反射衰减，用同一个光电传感器接收后对光功率检测，拓宽了常规功率计的可测功率范围，通过选择不同倍率的可调档位反光镜，也实现跳度较大的测试，测量相应时间短，测试效率高。

公开(公告)号：CN107621680A

公开(公告)日：2018-01-23

申请号：CN201610896400.4

申请日：2016-10-14

Applicant: 高准精密工业股份有限公司

Inventor： 陈志隆 ,  颜智敏

IPC: G02B13/00 ,  G02B7/02 ,  G02B27/09 ,  G02B15/16

CPC classification number: G01J1/0411 ,  G02B3/0062 ,  G02B5/1814 ,  G02B5/1842 ,  G02B5/1866 ,  G02B5/1871 ,  G02B5/1876 ,  G02B5/1895 ,  G02B13/0055 ,  G02B27/0037 ,  G02B27/0944 ,  G02B27/4205 ,  G02B27/44

Abstract: 本发明提供一种光学装置及其光学透镜组。该光学装置包括光学透镜组、感测单元以及壳体。该光学透镜组至少包括一第一光学透镜以及一第二光学透镜，且该第一光学透镜为一非球面透镜或一球面透镜，而该第二光学透镜为一平板式透镜，且该平板式透镜具有至少一第一微结构，用以对通过其中的光束进行光束整形。而感测单元则用以感应来自光学装置外并通过光学透镜组的光束。壳体用以承载或固定该光学透镜组以及该感测单元。本发明采用平板式透镜而能够有效缩短镜头总长并利于组装定位与降低对温度变化的敏感度。

公开(公告)号：CN104136902B

公开(公告)日：2018-01-23

申请号：CN201380005404.3

申请日：2013-01-07

Applicant: 卡斯蒂安测试与服务公司

Inventor： E·皮特 ,  V·派逖特 ,  P·勒科克

IPC: G01M11/04 ,  G01J1/02 ,  G02B15/16 ,  G02B26/08 ,  H04N17/00

CPC classification number: G01M11/04 ,  F21V13/02 ,  F21V14/06 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/0448 ,  G01J1/08 ,  G01J1/4257 ,  G02B15/161 ,  G02B27/30

Abstract: 一种光学系统，包括：称为准直光波(OLcol)的平面光波的生成装置(106)，和准直光波偏置装置(114)，用于提供称为测试光波(OLtest)的光波，所述偏置装置(114)呈现可调的焦距。

公开(公告)号：CN103477375B

公开(公告)日：2017-06-09

申请号：CN201280018345.9

申请日：2012-04-20

Applicant: 喜平电子有限公司

Inventor： 安托万·伊凡·麦斯欧 ,  梅林·米尔纳 ,  保罗·曼斯

IPC: G08B13/193

CPC classification number: G08B13/193 ,  G01J1/0411 ,  G02B13/14

Abstract: 无源红外探测器包括多个无源红外传感器（4、5）和布置成将来自目标区域的辐射引导到传感器上的透镜构件（2）。透镜构件（2）形成红外传感器（4、5）周围的实质上半球形的圆顶。圆顶具有中心轴和分布在中心轴周围的多个邻接的小面（2a‑2g）。每个小面具有平外表面和形成透镜以将辐射引导到传感器上的内表面。探测器包括与圆顶的中心轴对齐并具有实质上与中心轴正交的敏感表面的第一无源红外传感器（4）和分布在圆顶的中心轴周围的多个第二无源红外传感器（5）。第二无源红外传感器（5）倾斜，使得从每个第二无源红外传感器（5）的敏感表面向外的法线与中心轴的向外方向成锐角。探测器能够在一个宽区之上相当大的高度探测该区内的人的运动。

公开(公告)号：CN106456070A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201580027058.8

申请日：2015-06-17

Applicant: 索尼公司

Inventor： 小泽谦

IPC: A61B5/1455 ,  G01J3/02 ,  G01J4/04 ,  G01J3/453 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J1/42 ,  A61B5/0075 ,  A61B5/14532 ,  A61B5/14546 ,  A61B5/14551 ,  A61B5/14552 ,  A61B5/14558 ,  A61B5/681 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/0429 ,  G01J1/0488 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/027 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/4531 ,  G01J4/04 ,  G01J2004/005 ,  G01N21/314 ,  G01N21/359 ,  G01N2021/3595 ,  A61B5/1455

Abstract: 本发明提供了一种成像装置和成像方法。将来自被摄体的光作为多个光束集提供至具有多个元件的相位差阵列。所述相位差阵列被配置成针对多个光束集中的至少一些光束集内所包括的光提供不同的光路。在成像元件阵列处接收来自所述相位差阵列的光。所述成像元件阵列包括多个成像元件。可以显示基于所述成像元件阵列的输出信号根据高光谱成像数据所获得的信息。

公开(公告)号：CN104718481B

公开(公告)日：2016-06-08

申请号：CN201380002886.7

申请日：2013-03-14

Applicant: 索尔思光电(成都)有限公司

Inventor： 马克·海姆巴赫 ,  周一鸣

IPC: G02B6/42 ,  H04B10/25 ,  G02B6/293

CPC classification number: G01J1/0411 ,  G01J3/021 ,  G01J2003/1217 ,  G02B6/29367 ,  G02B6/2938 ,  G02B6/4204 ,  G02B6/4227 ,  H01L25/50 ,  H01L2924/00 ,  H01L2924/0002

Abstract: 本申请公开了一种多通道光器件和其制造方法。光器件包括位于探测器安装基板(450)上的多个探测器(451-458)，和光器件内表面上相应的多个透镜(431-438)。每个探测器(451-458)探测具有特定中心波长的光。每个中心波长对应光器件的一个通道。每个透镜(431-438)汇聚光线至对应的探测器(451-458)。每个探测器(451-458)都具有与相应透镜(431-438)汇聚的光的焦点相对应的位置。制造所述光器件的方法包括将透镜(431-438)设置在光器件外罩表面上，通过透镜(431-438)传递具有多个中心波长的光，在探测器安装基板(450)上确定透镜(431-438)汇聚各光束的位置，并在各个位置上设置探测器(451-458)。

公开(公告)号：CN103443600B

公开(公告)日：2016-05-04

申请号：CN201280005343.6

申请日：2012-01-10

Applicant: UL有限责任公司

Inventor： 伊恩·列文 ,  约翰·奥法雷尔

IPC: G01J1/02 ,  G01J1/04

CPC classification number: G01J1/02 ,  G01C3/085 ,  G01J1/0219 ,  G01J1/0228 ,  G01J1/0242 ,  G01J1/0266 ,  G01J1/04 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/0437 ,  G01J1/0448 ,  G01J1/0466 ,  G02B7/32

Abstract: 本发明涉及光测量装置及其使用方法。该装置用于测量从远处光源散发出来的光的光度量。与发明人所知的其他装置相比，此装置能更精确地测量选定光的光场。

公开(公告)号：CN103415932B

公开(公告)日：2016-04-06

申请号：CN201180069039.3

申请日：2011-03-07

Applicant: 日本先锋公司 ,  先锋自动化设备股份有限公司

Inventor： 望月学 ,  藤森昭一 ,  广田浩义 ,  市川美穗

IPC: H01L33/00 ,  G01J1/00

CPC classification number: G01J1/0411 ,  G01J2001/4252

Abstract: 本发明提供一种高速测定半导体发光元件的发光状况，并能够根据测定结果检查半导体发光元件的发光状况测定装置。一种发光状况测定装置（3），其接收LED（101）所发射的光，并测定发光状况，其特征在于，具有：CCD（105），其设置在LED（101）的发光中心轴上并且与LED（101）相面对的位置，用于拍摄LED（101）的发光状况；以及透镜部（123），其接收LED（101）所发射的光，并且将该光面向CCD（105）发射。透镜部（123）设置于LED（101）与CCD（105）之间并且较靠近LED（101）的位置。

公开(公告)号：CN103314281B

公开(公告)日：2016-03-30

申请号：CN201180064710.5

申请日：2011-11-25

Applicant: 意法半导体(R&D)有限公司

Inventor： E·芬德雷

IPC: G01J1/16 ,  G01J1/32

CPC classification number: G01J1/32 ,  G01J1/0209 ,  G01J1/0266 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/0488 ,  G01J1/1626 ,  G01J1/4204 ,  G01J1/4228 ,  G01J2001/4242

Abstract: 本发明提供一种辐射传感器，该辐射传感器包括第一像素和第二像素以及定位于第一像素之上的辐射吸收滤波器。吸收滤波器和第一像素的组合谱响应具有第一像素通带和第一像素阻带。辐射传感器还包括定位于第一像素和第二像素之上的干涉滤波器。干涉滤波器具有基本上在第一像素通带内的第一干涉滤波器通带和基本上在第一像素阻带内的第二干涉滤波器通带。

公开(公告)号：CN105424178A

公开(公告)日：2016-03-23

申请号：CN201510751001.4

申请日：2015-11-06

Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

Inventor： 陈波 ,  王海峰 ,  王晓光

IPC: G01J1/42 ,  G01J1/04

CPC classification number: G01J1/42 ,  G01J1/0407 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/429

Abstract: 本发明公开了一种双波段微光成像仪，包括：反射式紫外波段成像系统（a）、可见光波段成像系统（b）以及将所述反射式紫外波段成像系统（a）获得的图像和所述可见光波段成像系统（b）获得的图像融合到一个图像上的图像融合单元（11），该光成像仪可实现在紫外波段和可见光波段对同一目标成像，同时监测的功能，具有结构简单，设计合理，无色差，检测的准确率高等优点。