中科微点-全球专利检索

  1. Login
  2. Sign Up

Search Results

94 records (took 0.02 seconds)

    Optical metrology system for spectral imaging of a sample
    31.
    发明授权
    Optical metrology system for spectral imaging of a sample 有权
    用于样品光谱成像的光学计量系统

    公开(公告)号：US09182351B2

    公开(公告)日：2015-11-10

    申请号：US14091199

    申请日：2013-11-26

    Applicant: Nanometrics Incorporated

    Inventor： Andrzej Buczkowski

    IPC: G01N21/00 ,  G01N21/64 ,  G01N21/47 ,  G01N21/55 ,  G01N21/88 ,  H04N3/14 ,  G01B11/06 ,  G01N21/95

    CPC classification number: G01N21/6489 ,  G01B11/0625 ,  G01N21/47 ,  G01N21/55 ,  G01N21/6456 ,  G01N21/88 ,  G01N21/9501 ,  G01N2021/4735 ,  G01N2021/646 ,  G01N2021/8822 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/1042 ,  G01N2201/1053 ,  H04N3/155

    Abstract: An optical metrology device is capable of detection of any combination of photoluminescence light, specular reflection of broadband light, and scattered light from a line across the width of a sample. The metrology device includes a first light source that produces a first illumination line on the sample. A scanning system may be used to scan an illumination spot across the sample to form the illumination line. A detector spectrally images the photoluminescence light emitted along the illumination line. Additionally, a broadband illumination source may be used to produce a second illumination line on the sample, where the detector spectrally images specular reflection of the broadband illumination along the second illumination line. The detector may also image scattered light from the first illumination line. The illumination lines may be scanned across the sample so that all positions on the sample may be measured.

    Abstract translation: 光学测量装置能够检测光致发光的任何组合，宽带光的镜面反射以及穿过样品宽度的线的散射光。 测量装置包括在样品上产生第一照明线的第一光源。 可以使用扫描系统扫描样品上的照明点以形成照明线。 检测器对沿着照明线发射的光致发光进行光谱成像。 另外，宽带照明源可以用于在样本上产生第二照明线，其中检测器对第二照明线的宽带照明进行光谱反射。 检测器还可以对来自第一照明线的散射光进行成像。 可以在样品上扫描照明线，使得可以测量样品上的所有位置。

    NON-IONISING IMAGER
    32.
    发明申请
    NON-IONISING IMAGER 有权
    非离子成像

    公开(公告)号：US20100137722A1

    公开(公告)日：2010-06-03

    申请号：US12594095

    申请日：2008-03-28

    Applicant: John Michael Girkin ,  Simon Poland ,  Christopher Longbottom

    Inventor： John Michael Girkin ,  Simon Poland ,  Christopher Longbottom

    IPC: A61B6/14 ,  H01L27/146

    CPC classification number: A61B5/0088 ,  A61B5/0082 ,  G01N21/359 ,  G01N21/49 ,  G01N2021/4707 ,  G01N2021/4719 ,  G01N2201/1053 ,  G01N2201/1085

    Abstract: A medical imager, primarily for use in oral and dental applications. The imager has a source for providing a plurality of collimated beams of non-ionizing radiation, in particular near-infrared light, and a plurality of correlated detectors. Each detector is arranged to receive unscattered light from one or part of one of said collimated beams and scattered light from one or more other beams. The imager further comprises means for using both the unscattered and scattered light to form an image.

    Abstract translation: 一种医用成像仪，主要用于口腔和牙科应用。 成像器具有用于提供多个非电离辐射的准直束，特别是近红外光的源和多个相关检测器的源。 每个检测器布置成从所述准直束中的一个或一部分接收未散射的光并且来自一个或多个其它光束的散射光。 成像器还包括用于使用未散射光和散射光两者来形成图像的装置。

    MICROSCOPE
    33.
    发明申请
    MICROSCOPE 审中-公开
    显微镜

    公开(公告)号：US20100014156A1

    公开(公告)日：2010-01-21

    申请号：US12438994

    申请日：2007-08-08

    Applicant: Yoshinori Iketaki

    Inventor： Yoshinori Iketaki

    IPC: G02B21/06

    CPC classification number: G02B21/16 ,  G01N21/6458 ,  G01N2021/6415 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/104 ,  G01N2201/1053 ,  G02B5/20 ,  G02B5/3083 ,  G02B21/002 ,  G02B26/06 ,  G02B2207/113

    Abstract: A microscope for observing a sample containing a substance having at least two excited quantum states includes a pump light source 21 for emitting pump light, an erase light source 22 for emitting erase light, a light combining section 23 to 26 for coaxially combining the pump light and the erase light, a light collecting section 62 for collecting the combined lights, a scanning section 44 and 45 for scanning the sample with the combined lights, a detecting section 50 for detecting photoresponsive signals generated from the sample, a wavelength selecting element 42 arranged in the light path of the combined lights and provided with an erase light selecting region having a high wavelength selectivity for the erase light and with a pump light selecting region having a high wavelength selectivity for the pump light, and a space modulating element 43 arranged in the light path of the combined lights for spatially modulating the erase light corresponding to the erase light selecting region of the wavelength selecting element.

    Abstract translation: 用于观察含有具有至少两个激发量子态的物质的样品的显微镜包括用于发射泵浦光的泵浦光源21，用于发射擦除光的擦除光源22，用于同时组合泵浦光的光合成部23至26 擦除光，用于收集组合光的光收集部分62，用于组合光扫描样本的扫描部分44和45;检测部分50，用于检测从样本产生的光响应信号;波长选择元件42，被布置 在组合光的光路中设置有对于擦除光具有高波长选择性的擦除光选择区域和对泵浦光具有高波长选择性的泵浦光选择区域，以及空间调制元件43，其布置在 用于空间调制对应于擦除光选择区域的擦除光的组合光的光路 的波长选择元件。

    OPTICAL ILLUMINATION APPARATUS AND METHOD
    35.
    发明公开
    OPTICAL ILLUMINATION APPARATUS AND METHOD 审中-公开
    光导照明装置及其方法

    公开(公告)号：EP2283343A1

    公开(公告)日：2011-02-16

    申请号：EP09754241.9

    申请日：2009-05-18

    Applicant: Koninklijke Philips Electronics N.V.

    Inventor： VAN DIJK, Erik, M., H., P. ,  HEZEMANS, Cornelius, A.

    IPC: G01N21/64 ,  G02B21/00

    CPC classification number: G01N21/6452 ,  G01N2021/6463 ,  G01N2201/1053 ,  G02B21/0032

    Abstract: An optical system for detecting light from a 2D area of a sample (36) comprises a collection lens (34) for collecting light from a collection region of the sample. A light detector (44) is positionally fixed with respect to the sample, and a reflector arrangement (61) directs collected light to the detector. The reflector arrangement comprises movable components and the collection lens (34) is movable relative to the sample. The collection lens and the movable components are configurable to define different collection regions, and the movement of the components effects a direction of the light from the collection region to a substantially unchanged area of the light detector (44). This arrangement avoids the need for a bulky detector in order to detect signals from a 2D sample area formed by scanning across the sample. This enables a more compact, cheaper and simpler solution.

    Photothermisches Untersuchungsverfahren, Einrichtung zu seiner Durchführung und Verwendung des Verfahrens
    36.
    发明公开
    Photothermisches Untersuchungsverfahren, Einrichtung zu seiner Durchführung und Verwendung des Verfahrens 失效
    光热审查程序，设备及其实施和使用的方法。

    公开(公告)号：EP0394932A2

    公开(公告)日：1990-10-31

    申请号：EP90107682.8

    申请日：1990-04-23

    Applicant: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT ,  Petry, Harald, Dr.

    Inventor： Winschuh, Erich ,  Petry, Harald, Dr.

    IPC: G01N21/17 ,  G01N25/72

    CPC classification number: G01N25/72 ,  G01J2001/4242 ,  G01N21/171 ,  G01N21/71 ,  G01N2021/1714 ,  G01N2201/1053

    Abstract: Innerhalb eines portablen Meßkopfes (A) befindet sich die Laserlichtquelle (FL), vorzugsweise ein direkt modulierter, diodengepumpter Neodym/YAG-Laser. Dessen Laserstrahl (f₁) wird lichtleiterfrei über eine Scanner-Anordnung (5) und eine Doppeloptik (6) auf die Scan-Zone der zu untersuchenden Materialprobe (B) gerichtet. Die Anstrahl-Meßbahn ist z.B. mäanderförmig mit Strahlablenkung in x- und y-Richtung. Die Doppeloptik (6) läßt die von der Probe (B) emittierten IR-Lichtsignale (- Δ f₃) durch. Diese werden über die Scanner-Anordnung (5) und einen Koppelspiegel (4b) in Form eines dichroitischen Spiegels, welcher die Laserstrahlen (f₁) in der einen Richtung reflektiert und in der anderen Richtung in Bezug auf die IR-Lichtsignale (- Δ f₃) wie ein durchlässiges Fenster wirkt, über eine IR-Optik (7) auf einen IR-Detektor (8) fokussiert und von diesem in entsprechende elektrische Signale umgeformt. Der Meßkopf (A) ist über ein flexibles elektrisches Verbindungskabel mit einer elektronischen Bilderzeugungseinheit verbunden, von welcher die elektrischen Signale zur Steuerung des Lasers (FL) und zur Strahlführung kommen.
    Gegenstand der Erfindung sind auch eine Reihe vorteilhafter Verwendungen des Verfahrens sowie eine Einrichtung zu dessen Durchführung.

    Abstract translation: 位于便携式测量头（A）的内部是激光光源（FL），优选直接调制，二极管泵浦的钕/ YAG激光。 其激光束（F1）被引导，而无需使用一个扫描仪装置（5）和一个双光学系统（6）到材料样品（B）的扫描区域被观察光波导。 所照射的测量轨道是，例如，蜿蜒形，在x和y方向上的束偏转。 双光学系统（6）发送的IR光信号 - 通过将样品（B）发出的光（DELTA F3）。 这些集中在到IR检测器（8）经由扫描器装置（5）和一个耦合镜（4B）中的二向色镜，其反映了在一个方向上的激光束（F1），并作为相对于一个透明窗口的形式 到IR光信号（ - DELTA F3）在另一个方向上，并且经由IR光学系统（7）上。 成相应的电信号 - （DELTA F3）IR检测器（8）的IR光信号转换。 所述测量头（A）经由柔性电连接电缆连接到电子图像生成单元从该电信号用于控制激光器（FL）和引导束起源。 ... 因此，本发明涉及一种数的方法的有利使用的，并因此用于执行它的装置。 ... ...

    FAST TWO-PHOTON IMAGING BY DIFFRACTED SWEPT-LASER EXCITATION
    37.
    发明申请
    FAST TWO-PHOTON IMAGING BY DIFFRACTED SWEPT-LASER EXCITATION 审中-公开
    衍射快速激发的快速双光子成像

    公开(公告)号：WO2018005623A1

    公开(公告)日：2018-01-04

    申请号：PCT/US2017/039705

    申请日：2017-06-28

    Applicant: THE REGENTS OF THE UNIVERSITY OF CALIFORNIA ,  UNIVERSITAET ZU LUEBECK

    Inventor： JALALI, Bahram ,  KARPF, Sebastian ,  HUBER, Robert

    IPC: H01S3/10 ,  H01S3/00 ,  H01S3/09 ,  H01S3/30

    CPC classification number: G01N21/6402 ,  A61B5/0071 ,  A61B5/0075 ,  G01N21/00 ,  G01N21/6408 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/0696 ,  G01N2201/1053 ,  G02B21/0076 ,  G02B21/0084 ,  H01S3/0071 ,  H01S3/0085 ,  H01S3/06712 ,  H01S3/06758 ,  H01S3/083 ,  H01S3/1305 ,  H01S3/1618 ,  H01S5/146 ,  H01S5/50

    Abstract: An apparatus and methods for high-speed non-linear spectrally encoded multi-photon imaging that are particularly suited for use in two photon fluorescence and fluorescence lifetime imaging. The system is capable of optical image compression and scale invariant digital zoom. A wavelength agile laser with digitally synthesized electro-optic modulation in a master oscillator-power amplifier configuration is combined with spectral encoding to eliminate the speed limitations of inertial scanning. The technique for fast two photon fluorescent imaging with simultaneous lifetime imaging independently detects the location, amplitude and lifetime of fluorescent emission by synthesizing a sequential excitation beam via digital electro-optic modulation of a quasi-CW swept source followed by time encoded detection. For fluorescent imaging, spectral and temporal mappings are employed separately, with quasi-CW spectral encoding used for pumping and time encoding for constructing the image at fluorescence wavelength.

    Abstract translation: 一种用于高速非线性光谱编码的多光子成像的设备和方法，其特别适用于双光子荧光和荧光寿命成像。 该系统能够进行光学图像压缩和尺度不变的数字变焦。 在主振荡器 - 功率放大器配置中采用数字合成电光调制的波长捷变激光器与光谱编码相结合，以消除惯性扫描的速度限制。 具有同时寿命成像的快速双光子荧光成像技术独立检测荧光发射的位置，幅度和寿命，通过合成顺序激发光束，通过准CW扫频源的数字电光调制，然后进行时间编码检测。 对于荧光成像，分别采用光谱和时间映射，准连续光谱编码用于泵浦和时间编码以构建荧光波长的图像。

    顕微鏡および顕微鏡観察方法
    39.
    发明申请
    顕微鏡および顕微鏡観察方法 审中-公开
    显微镜和微观观察方法

    公开(公告)号：WO2015163261A1

    公开(公告)日：2015-10-29

    申请号：PCT/JP2015/061905

    申请日：2015-04-17

    Applicant: オリンパス株式会社

    Inventor： 井元　兼太郎 ,  瀧本　真一 ,  高橋　晋太郎 ,  土井　厚志

    IPC: G02B21/36 ,  G01N21/64 ,  G02B21/06

    CPC classification number: G02B21/0076 ,  G01N21/6458 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/1053 ,  G01N2201/12 ,  G02B21/0032 ,  G02B21/006 ,  G02B21/0068 ,  G02B21/008 ,  G02B21/0084

    Abstract: 　焦点蛍光から焦点外蛍光を除去して鮮明な蛍光画像を取得する。　光源２からの励起光を走査するスキャナ（７）と、走査される励起光を試料Ａに集光する一方、各走査位置で試料Ａにおいて発生した蛍光を集光する対物光学系（８）と、集光された蛍光を検出する検出器（１２）と、該検出器１２と対物光学系８との間に配置され該対物光学系（８）により集光された蛍光を部分的に遮断する遮光部材（１１）と、該遮光部材（１１）と試料Ａにおける励起光の集光点との位置関係を、該集光点から発せられる焦点蛍光が遮光部材（１１）を通過する光学的に共役な位置関係と焦点蛍光が遮光部材（１１）によって遮断される非共役な位置関係とに切り替える切替部（８）と、２種類の位置関係において検出器（１２）により取得された蛍光信号の差分を演算する演算部（５）とを備える顕微鏡（１）を提供する。

    Abstract translation: 本发明的目的是消除来自局部荧光的局部外荧光并获得尖锐的荧光图像。 本发明提供一种显微镜（1），其配备有用于扫描来自光源（2）的激发光的扫描仪（7）; 用于将扫描的激发光聚焦到测试样品（A）上的物镜光学系统（8），同时在每个扫描位置聚焦在测试样品（A）中产生的荧光; 用于检测聚焦荧光的检测器（12）; 位于检测器（12）和物镜光学系统（8）之间的用于选择性地阻挡由物镜光学系统（8）聚焦的荧光的遮光件（11）; 切换单元（3），用于在从焦点发出的聚焦荧光通过的光耦合位置关系之间切换遮光构件（11）的位置关系和激发光的焦点在测试样品（A）上 通过遮光部件（11），以及非耦合位置关系，其中聚焦荧光被遮光部件（11）阻挡; 以及计算单元（5），用于计算由所述检测器（12）在两个不同位置关系处获取的荧光信号的差异。

Patent Agency Ranking