半导体装置及其制造方法
    48.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1531071A

    公开(公告)日:2004-09-22

    申请号:CN200410028381.0

    申请日:2004-03-11

    Inventor: 臼井良辅

    Abstract: 一种半导体装置。其包括:层间绝缘膜(405)以及绝缘膜(409);埋设在绝缘膜(409)内的配线(407、408a、408b);载置在绝缘膜(409)上的电路元件(410a、410b);覆盖电路元件(410a、410b)而形成的封闭膜(415);覆盖封闭膜(415)而形成的导电性的遮蔽膜(416)。形成配线(408a、408b)与遮蔽膜(416)电连接的结构。

    制造半导体器件的方法
    49.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1396649A

    公开(公告)日:2003-02-12

    申请号:CN02140933.1

    申请日:2002-07-10

    CPC classification number: H01L21/76802 H01L21/7682 H01L21/76831 H01L23/485

    Abstract: 本发明公开了一种制造半导体器件的方法,即使在高度集成地设计该半导体器件时也能以高电可靠性形成连接孔。该半导体器件包括下层布线和形成在下层布线上并具有于下层布线连接的连接孔的层间绝缘膜。该方法包括通过刻蚀层间绝缘膜形成连接孔。连接孔使通过以下步骤形成的:在第一刻蚀条件下通过至少在下层布线附近的物理反应,刻蚀部分下层布线,并在保证相对于下层布线的选择率的第二刻蚀条件下,刻蚀部分层间绝缘膜。

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