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公开(公告)号：CN103175607A
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN201310062602.5
申请日：2013-02-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J1/00
Abstract: 本发明涉及紫外辐射量测量技术领域，具体的讲是一种真空紫外光谱辐照度标定方法及系统。获取紫外光源115nm-400nm波段范围的紫外光谱辐亮度L(λ)；获取该紫外光源250nm-400nm波段范围的紫外光谱辐照度E(λ)；利用Ω＝E(λ)/L(λ)，计算得到250nm-400nm波段范围的光源立体角Ω；根据所述250nm-400nm波段范围的光源立体角Ω得到115nm～250nm波段范围内的光源立体角Ω1；利用E1(λ)＝L(λ)·Ω1得到115nm～250nm波段范围内的紫外光谱辐照度E1(λ)。通过本发明实施例解决了光源真空紫外光谱辐照度标定波长下限不能达到250nm以下的难题。
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公开(公告)号：CN103017899A
公开(公告)日：2013-04-03
申请号：CN201210478694.0
申请日：2012-11-23
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种汇聚摆镜，包括摆镜和旋转位移平台，其中，摆镜包括两块非反射面贴合的凹面反射镜，两块反射镜中心轴线重合，所述凹面反射镜曲面半径范围为50mm～5000mm，其中一块反射镜的反射面A镀30nm～200nm高反射膜，另一块反射面B镀60nm～200nm高反射膜，低于60nm光谱反射率较低。所述摆镜通过旋转位移平台进行平移和旋转运动。本发明可实现标准光源与待测光源的快速切换；并且可实现在光源光谱辐射度校准和探测器响应度校准中高级次光谱杂散辐射的有效滤除，减少测量误差，提升测量精度。
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公开(公告)号：CN203455075U
公开(公告)日：2014-02-26
申请号：CN201320090602.1
申请日：2013-02-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本实用新型涉及光学测试技术领域，具体的讲是一种抑制二级光谱的紫外光谱测量系统，其中包括当进行110nm-200nm波段的紫外光谱测量时，将真空仓抽真空，紫外辐射透过所述真空仓的氟化镁窗口进入到检测设备，其中所述氟化镁窗口用于吸收波段在110nm以下的紫外辐射；当进行200nm-400nm波段的紫外光谱测量时，向所述真空仓中注入气体，所述紫外辐射通过所述真空仓中的空气和所述氟化镁窗口进入到检测设备，其中所述空气吸收波段在200nm以下的紫外辐射。通过本实用新型的实施例，在紫外光谱测量时光源光谱辐射度校准和探测器响应度校准中，将二级光谱的杂散辐射有效滤除，减少测量误差，提升测量精度。
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公开(公告)号：CN203083708U
公开(公告)日：2013-07-24
申请号：CN201320090606.X
申请日：2013-02-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本实用新型涉及红外目标特性仿真领域，具体的讲是一种适应宽温范围环境的透射式红外温差标准源，其中第一黑体提供目标辐射能量；第二黑体提供环境辐射能量；红外靶标中心具有通孔，周边为反射面；第一黑体中心部分的目标辐射能量通过红外靶标的通孔和半反半透镜，并经过无热化透射式红外光学系统会聚后输出；第二黑体提供的环境辐射能量经由半反半透镜反射到红外靶标的反射面上，反射的环境辐射能量通过半反半透镜，并经过无热化透射式红外光学系统会聚后输出。本实用新型通过辐射源系统采用双黑体，消除工作环境温度变化在整个系统中的影响。
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公开(公告)号：CN203376060U
公开(公告)日：2014-01-01
申请号：CN201320373649.9
申请日：2013-06-27
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本实用新型涉及光学测试技术领域，具体的讲是一种外场型红外辐射计，其中汇聚主镜与斩波器相连接，斩波器与标准参考黑体源相连接，斩波器还与滤光片相连接，滤光片与中性衰减片相连接，中性衰减片与光谱校正片相连接，光谱校正片与红外探测器相连接，信号采集部件分别与红外探测器和所述斩波器相连接。通过上述实施例，通过光谱校正片可以使整个系统在测量波段内的光谱相应曲线为一条平坦的曲线，提高了整个系统的线性度和测量精度，避免测量结构受被测目标辐射光谱的影响；采用不同衰减比的中性滤光片，扩展设备的动态范围，使设备具有多个量程，能够测量强辐射和微弱辐射目标。
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