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公开(公告)号：CN103017899A
公开(公告)日：2013-04-03
申请号：CN201210478694.0
申请日：2012-11-23
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种汇聚摆镜，包括摆镜和旋转位移平台，其中，摆镜包括两块非反射面贴合的凹面反射镜，两块反射镜中心轴线重合，所述凹面反射镜曲面半径范围为50mm～5000mm，其中一块反射镜的反射面A镀30nm～200nm高反射膜，另一块反射面B镀60nm～200nm高反射膜，低于60nm光谱反射率较低。所述摆镜通过旋转位移平台进行平移和旋转运动。本发明可实现标准光源与待测光源的快速切换；并且可实现在光源光谱辐射度校准和探测器响应度校准中高级次光谱杂散辐射的有效滤除，减少测量误差，提升测量精度。
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公开(公告)号：CN118130047A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202211544741.7
申请日：2022-12-04
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供了一种光轴偏移检测装置，该光轴偏移检测装置包括：光轴偏移检测分系统、光源分系统、标准相机检测分系统、遮光罩Ⅰ和遮光罩Ⅱ，光轴偏移检测分系统、光源分系统和标准相机检测分系统置于冲击台上，光轴偏移检测分系统通过遮光罩Ⅰ和遮光罩Ⅱ分别与光源分系统和标准相机检测分系统连接，光轴偏移检测分系统用于检测光学成像器的相对光轴偏移量，光源分系统用于提供持续稳定的可见光和红外光，标准相机检测分系统用于检测光轴偏移检测分系统的光轴偏移量。应用本发明的技术方案，解决了光学成像器在实际应用中无法测量光轴偏移量的技术问题。
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公开(公告)号：CN116148307A
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202111384751.4
申请日：2021-11-22
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种材料发射率测量方法与装置，包括加热器、试验件、温控单元、辐射测量单元、标准漫反射板和计算单元，所述的试验件放置在所述的加热器上，所述的加热器保证试验件始终保持同样的温度，所述的温控单元调节环境温度，所述的辐射测量单元测量试验件和不同环境温度下标准漫反射板的辐射亮度，所述的辐射测量单元将获得的辐射亮度值传送给所述的计算单元，所述的计算单元通过发射率计算公式计算获得试验件的发射率。本发明减小了一个误差的输入，从而提高了发射率测量的精度。
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公开(公告)号：CN114577065A
公开(公告)日：2022-06-03
申请号：CN202011388585.0
申请日：2020-12-02
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种用于红外场景模拟的激励源、模拟装置及模拟方法。所述激励源包括：激光器、准直单元、数字微镜阵列以及成像单元；其中，所述激光器用于输出激光并提供至所述准直单元；所述准直单元用于接收所述激光并输出平行光；所述数字微镜阵列用于接收所述平行光后生成相应的图像并将所述图像反射至所述成像单元中；所述成像单元用于将所述图像投影至微辐射阵列上以使微辐射阵列根据所述图像产生相应的红外场景。通过本发明公开的用于红外场景模拟的激励源，使用激光光源作为微辐射阵列的激励源可以有效提升激励能量，使得有足够强的光能用于红外动态场景模拟，提高后续红外仿真测试信噪比，可以有效减少仿真误差，提升仿真精度并提升均匀性。
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公开(公告)号：CN114353965A
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN202011059643.5
申请日：2020-09-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种黑体辐射源及其温度控制方法、温度控制设备，所述黑体辐射源包括黑体腔以及加热模块；所述黑体腔包括：侧壁、腔底以及开口端，所述侧壁的一端位于所述开口端，所述侧壁的另一端与所述腔底连接；其中，所述开口端与所述腔底相向设置；所述加热模块包括：第一加热部以及至少一个第二加热部；其中，所述第一加热部一体成型于所述腔底的内部，至少一个所述第二加热部一体成型于所述侧壁的内部；所述第一加热部以及第二加热部分别用于向所述黑体腔的侧壁以及腔底提供热能以均匀加热所述黑体腔。通过本发明的黑体辐射源可以实现腔体内部温度一致且均匀，能够较精准的对光谱辐射测量仪器进行量值溯源。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111006773B
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN201911179919.0
申请日：2019-11-26
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种空间环境下的MEMS红外辐射面均匀性提升系统，属于红外辐射定标技术领域，解决了现有红外辐射面的温度均匀性差的问题。本发明的空间环境下的MEMS红外辐射面均匀性提升系统，包括热匀化导热层、加热层和分离式电极组，热匀化导热层位于加热层和MEMS红外辐射面之间；分离式电极组为加热层供电，使加热层发热；加热层对MEMS红外辐射面进行加热；热匀化导热层对MEMS红外辐射面起到热匀化作用，提升MEMS红外辐射面温度的均匀性。本发明能够大幅度提升空间环境下MEMS红外辐射面的均匀性，温度分布均匀性优于3K，确保其满足红外载荷辐射定标的使用要求。
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公开(公告)号：CN111006774A
公开(公告)日：2020-04-14
申请号：CN201911244111.6
申请日：2019-12-06
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本说明书提供一种测试采用MEMS工艺加工的定标黑体辐射源寿命的系统和方法，系统包括真空试验装置和高低温箱；真空试验装置包括真空试验箱、第一载物台、制冷机构和红外成像测温仪；第一载物台设置在真空试验箱的真空腔内；第一载物台上设置有第一电源接口；制冷机构的制冷部件用于使真空试验箱维持特定的低温环境；真空试验箱的箱体上开设有测量窗口；红外成像测温仪在设置在测量窗口处；高低温箱包括箱体和用于承载待测试的定标黑体辐射源第二载物台；第二载物台上设置有第二电源接口。因为前述系统能够模拟在轨星体工作环境，为定标黑体辐射源是否能够装载上星提供了有效的依据。
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公开(公告)号：CN109556725A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201710874128.4
申请日：2017-09-25
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
CPC classification number: G01J5/00 , G01J5/02 , G01J5/522 , G01J2005/0048
Abstract: 本发明提供了一种真空面源辐射板及具有其的面源黑体辐射源装置，该真空面源辐射板的有效辐射口径大于1000mm×1000mm，真空面源辐射板包括：基体，基体包括多个微锥，多个微锥间隔设置在基体上，基体的材质包括紫铜；涂层，涂层设置在基体上，涂层用于提高基体的发射率。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中黑体辐射源设备无法在满足真空低温条件下以及具有大辐射面积的前提下保持高的发射率的技术问题。
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公开(公告)号：CN107561008A
公开(公告)日：2018-01-09
申请号：CN201610515851.9
申请日：2016-07-01
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01N21/01
Abstract: 本发明提供了一种用于真空紫外漫反射板BRDF特性测量的测量装置，包括：依次设置于光路中的标准光源、真空紫外单色分光单元、真空紫外准直光学单元、真空仓内二维旋转机构、真空紫外探测单元和控制单元。采用本发明能够对真空紫外漫反射板的双向反射分布函数进行精确测量，波段范围120nm～200nm，测量角度范围为±60°：真空度：≤1×10-3Pa，测量不确定度：≤6％(k＝2)；本发明能够及时发现真空紫外载荷设计过程中存在的缺陷，减少其研制过程中的反复，节省研制经费，缩短研制周期，避免影响整体进度的顺利开展；同时有效保证了真空紫外空间载荷获取数据的准确性，对获取准确测量数据有着重大意义。
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公开(公告)号：CN105562307A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201510965014.1
申请日：2015-12-21
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种辐射板、制备工艺及红外标准辐射装置，所述辐射板包括紫铜板基板和基板上喷涂的以掺杂6～10％碳纳米管的SiO2溶胶为底层，以掺杂6～10％碳纳米管的SiO2-PbO溶胶为顶层的双层涂层；所述辐射板制备方法包括：1)将紫铜板表面加工成粗糙表面并喷砂；2)在紫铜板的粗糙表面上喷涂溶胶底层至完全覆盖紫铜板表面；3)在底层涂层的基础上喷涂顶层涂层，4)在常温下稳定24h；所述红外标准辐射装置使用所述辐射板。该装置具有较高的发射率、较好的温度均匀性和稳定性。
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