Abstract:
본 발명은 반도체 메모리 장치에 관해 게시한다. 본 발명은 복수개의 메모리셀어레이를 갖는 반도체 메모리 장치에 있어서, 대각선상으로 구성된 메모리셀어레이블록과, 상기 메모리셀어레이블록의 각각의 메모리셀어레이에 설치된 워드라인과, 상기 메모리셀어레이블록의 각각의 메모리셀어레이에 설치되어 상기 워드라인과 연결된 입출력선들과, 상기 메모리셀어레이블록 중 상부 메모리셀어레이블록의 하단과 하부 메모리셀어레이블록의 상단에 위치하여 상기 입출력선들과 연결되는 데이터버스선들과, 상기 데이터버스선들 사이의 좌측과 우측에 각각 설치된 전원전압패드 및 상기 우측에 있는 전원전압패드의 좌측에 설치된 데이터출력패드로 구성된다. 상기 본 발명에 의하여 입출력선들이 데이터출력패드를 관통하지도 않을 뿐더러, 전원전압패드들이 균등하게 이용되어 전원전압용량의 불균등이용 문제도 해결할 수 있다.
Abstract:
1. 청구범위에 기재된 발명이 속하는 기술 분야 : 본 발명은 반도체 메모리 장치의 전류센싱회로에 관한 것이다. 2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제 : 본 발명은 전류센스앰프를 사용할 경우 입출력라인쌍에 서로 다른 크기의 다수개의 로드 트랜지스터를 서로 다른 위치에 배치하여 다양한 동작 모드에 따라 최적의 로드 트랜지스터를 선택할 수 있는 전류센싱회로를 제공한다. 3. 발명의 해결방법의 요지 : 다수개의 메모리 쎌 어레이와, 독출된 데이타가 실리는 다수개의 입출력라인쌍을 가지며, 실린 상기 데이타를 감지하기 위한 센싱구조로 상기 입출력라인쌍의 전류차이로 바꾸는 센싱구조를 갖추고 있는 반도체 메모리 장치의 전류센싱방법에 있어서, 상기 메모리 쎌 어레이에서 독출되어 상기 입출력라인쌍에 실린 상기 데이타를 센싱할때, 선택된 상기 입출력라인쌍에 각각 세개 이상의 다수개의 전류소오스로 센싱에 필요한 기준 전류를 공급하여 전류센싱함을 포함한다. 4. 발명의 중요한 용도 : 본 발명은 반도체 메모리 장치에 적합하게 사용된다.
Abstract:
1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야 본 발명은 반도체 메모리장치의 내부승압전원 발생회로에 관한 것이다. 2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제 본 발명은 액티브 동작시 소모되는 승압전압을 공급하기 위하여 액티브시 승압전압 레벨을 검출하여 액티브 킥커회로를 동작시키며, 로우어드레스스트로우브 신호 RAS의 긴 지연시간을 가지는 tRAS조건에서 누설(Leak)에 의한 승압전압 레벨이 낮아지는 경우를 보상하기 위하여, 액티브 검출기의 출력을 받아들여 메인펌프를 동작시키는 내부승압전원 발생회로를 제공한다. 3. 발명의 해결방법의 요지 본 발명은 반도체 메모리장치의 내부승압전원 발생회로에 있어서, 제1검출기와, 발진회로와, 메인펌프와, 제2검출기를 포함한다. 4. 발명의 중요한 용도 본 발명은 반도체 메모리 장치에 적합하게 사용된다.
Abstract:
PURPOSE: A memory system capable of calibrating an output voltage level of a semiconductor memory device, and a method of calibrating the output voltage level of the semiconductor memory device are provided to calibrate the output voltage level in consideration of a mismatch in on-die termination (ODT) resistance a memory controller, thereby reducing power consumption by the semiconductor memory device. CONSTITUTION: A semiconductor memory device comprises an output circuit (300), an on-die-termination calibration circuit (100), and an output voltage level calibration circuit (200). The output circuit outputs data stored in a memory cell array to output pads. The on-die-termination calibration circuit calibrates termination resistances connected to the output pads. The output voltage level calibration circuit calibrates output voltage levels of the output pads. The output voltage level calibration circuit controls a magnitude of current supplied by a pull-up termination circuit connected to the output pads so as to calibrate output voltage levels of the output pads.
Abstract:
PURPOSE: An output driver, devices including the same, and a ground termination are provided to process data at high speed by using an NMOS transistor instead of a PMOS transistor. CONSTITUTION: An integrated circuit includes an output driver(100A) and a receiving circuit. The output driver includes an output terminal. The receiving circuit includes a termination resistance between the output terminal and a ground. The output driver includes a first NMOS transistor(101) and a second NMOS transistor(103). The first NMOS transistor pulls up the output terminal with a pull-up voltage in response to a pull-up signal. The second NMOS transistor pulls down the output terminal in response to a pull-down signal.
Abstract:
PURPOSE: A semiconductor device and a bonding option pad circuit are provided to reduce unnecessary power consumption by preventing a leakage current flowing through a bonding option pad. CONSTITUTION: A bonding option pad determines whether a first voltage is applied according to an operation option. An interceptor(10) separates the bonding option pad from a node for a preset time. After the preset time elapses, the interceptor connects the bond option pad and the node. An output signal generator(20) generates and stores the node as a signal corresponding to a second voltage for the preset time. After the preset time elapses, an output signal generator outputs the signal corresponding to the signal of the node.
Abstract:
본 발명은 반도체 메모리 장치의 자동 프리차지 제어신호 발생회로 및 그 제어방법에 관한 것으로서, 특히 본 발명의 회로는 프리차지동작에 응답하여 리세트되고 컬럼 뱅크 어드레스신호의 액티브 구간에서 자동 프리차지 명령신호를 래치하여 출력 인에이블신호를 발생하는 출력 인에이블수단과, 컬럼 뱅크 어드레스신호의 액티브 구간을 1클럭 지연하여 1클럭 지연신호를 발생시키고, 버스트 길이가 1인 경우에는 이전 컬럼 뱅크 어드레스 신호와 현재 컬럼 뱅크 어드레스신호 사이의 넌 액티브 구간을 충분히 포함하는 액티브 구간을 가지는 1클럭 지연신호를 발생하는 지연수단과, 연속되는 자동 프리차지 버스트 라이트 명령에 응답하여 마지막 데이터의 입력시점으로부터 2클럭 지연된 다음에 자동 프리차지를 수행하기 위하여, 상기 출력인에이� ��신호에 응답하여 상기 걸럼 뱅크 어드레스신호와 상기 1클럭 지연신호를 조합하여 자동 프리차지 제어신호를 발생하는 조합수단을 포함한다. 따라서, 본 발명에서는 버스트 라이트에서 마지막 데이터 입력으로부터 자동 프리차지까지의 시간이 2클럭인 경우에 버스트 길이가 1일 때, 연속되는 버스트 라이트 동작 중간에 1클럭 지연신호와 컬럼 뱅크 어드레스신호의 어긋남으로 인하여 불필요한 자동 프리차지 제어신호의 발생을 방지할 수 있다.
Abstract:
본 발명에 따른 클럭 발생 회로는 클럭 버퍼, 분주 회로, 메인 지연 회로, 제 1 지연 회로부, 스위치 제어 신호 발생부, 제 2 지연 회로부, 스위치 회로 및 출력 구동 회로를 포함한다. 상기 클럭 버퍼는 외부로부터의 외부 클럭 신호를 받아들여서 소정의 지연 시간을 가지는 클럭 신호를 출력한다. 상기 분주 회로는 상기 클럭 버퍼로부터의 상기 클럭 신호를 소정의 배율만큼 분주한 분주 신호를 출력한다. 상기 메인 지연 회로는 상기 분주 신호를 지연시킨 지연 신호를 출력한다. 상기 제 1 지연 회로부는 상기 지연 신호를 받아들여서 각각 소정의 지연 시간들을 가지는 복수 개의 제 1 지연 신호들을 출력한다. 상기 스위치 신호 발생부는 상기 외부 클럭 신호에 대해 소정 배율의 주기를 가지는 상기 분주 신호의 제어에 의해 상기 제 1 지연 회로부로부터의 상기 제 1 지연 신호들을 저장하고 그리고 상기 스위치 회로를 제어하기 위한 복수 개의 스위치 제어 신호들을 출력한다. 상기 제 2 지연 회로부는 상기 클럭 버퍼로부터의 상기 클럭 신호를 받아들여서 각각 소정의 지연 시간들을 가지는 제 2 지연 신호들을 출력한다. 상기 스위치 회로는 상기 클럭 신호와 상기 제 2 지연 회로부로부터의 상기 제 2 지연 신호들 중 하나를 상기 출력 구동 회로로 전달한다. 상기 출력 구동 회로는 상기 스위치 회로를 통해 공급되는 지연 신호를 버퍼링한 내부 클럭 신호를 내부 회로로 출력한다.