DISPOSITIF ET PROCEDE DE GESTION DU CLAQUAGE DE TRANSISTORS D'ACCES DE MEMOIRE EEPROM.

    公开(公告)号:FR3048115A1

    公开(公告)日:2017-08-25

    申请号:FR1651301

    申请日:2016-02-18

    Abstract: Il est proposé un dispositif de mémoire du type mémoire non volatile électriquement effaçable et programmable, comprenant un plan-mémoire matriciel (PM) de cellules-mémoire (CEL) connectées à des lignes de bit (BL), des moyens de programmation (MPR) configurés pour sélectionner une cellule-mémoire (CEL) et appliquer une impulsion de programmation (VSBL) sur la ligne de bit (BL) correspondante. Selon une caractéristique générale, le plan-mémoire (PM) est situé dans un caisson local à potentiel flottant (PW) et les moyens de programmation (MPR) sont configurés pour augmenter le potentiel dudit caisson local (PW) simultanément à l'application de l'impulsion de programmation sur la ligne de bit (BL) d'une cellule-mémoire (CEL) sélectionnée.

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