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公开(公告)号：CN103180699B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201180051362.8
申请日：2011-07-26
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
Inventor： 原吉宏
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/45 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/4535 , G02B26/0858
Abstract: 在分光测定前的粗调工序中，使移动镜移动（＃11），将由4分割传感器接收到移动镜的反射光与固定镜的反射光的干涉光时的各分割元件的输出相加，来检测干涉光的对比度的变化（＃12），并且基于该对比度的变化，检测两反射光的相对倾斜量（＃13），对初始倾斜误差进行修正（＃14）。另一方面，在分光测定前的微调工序中，基于由4分割传感器接收到两反射光的干涉光时的各分割元件的输出的相位差，检测两反射光的相对倾斜量以及倾斜方向，对初始倾斜误差进行修正。
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公开(公告)号：CN102628711B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201210091508.8
申请日：2008-06-10
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01J3/18 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/0259 , G01J3/0291
Abstract: 在与衍射层(8)一体地形成的周缘部(11)的平面(11a)形成有对准标记(12a、12b、12c、12d)，在将透镜部(7)安装于基板(2)时，通过相对于基板(2)对这些对准标记(12a、12b、12c、12d)进行对位，从而能够相对于光检测元件(4)的光检出部(4a)正确地对准衍射层(8)，不受例如透镜部(7)的曲率半径的误差等的影响。尤其是，通过在平面(11a)形成对准标记(12a、12b、12c、12d)，从而能够通过图像识别来正确地检测该对准标记(12a、12b、12c、12d)的位置，于是能够进行正确的对准。
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公开(公告)号：CN102538962B
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201210015681.X
申请日：2012-01-19
Applicant: 杭州远方光电信息股份有限公司
Inventor： 潘建根
IPC: G01J3/02
CPC classification number: G01J3/36 , G01J3/021 , G01J3/0216 , G01J3/0237 , G01J3/0262 , G01J3/18 , G01J3/2803
Abstract: 本发明公开了一种低杂散光多色仪，包括光学腔、入射狭缝、色散系统和阵列探测器，色散系统的色散元件为光栅，阵列探测器的光敏面与光栅的主截面倾斜相交。本发明通过改变多色仪内光学器件的相对位置，使阵列探测器的光敏面上因发生非期望反射而产生的杂散光刚好被反射出期望光路，并在光学腔内壁，反射光斑投影的平面上安装消光的小光阑，从而大幅降低了杂散光。
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公开(公告)号：CN102466518B
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201110048587.X
申请日：2011-03-01
Applicant: 中国医药大学
CPC classification number: G02B21/002 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/0291 , G01J3/12 , G01J3/2823 , G02B21/367
Abstract: 本发明公开一种显微扫描系统及其方法，该显微扫描系统包含有一显微镜装置、一继光镜装置、一步进马达以及一超光谱仪装置。显微镜装置，用来撷取并放大一待测物的一影像以形成一放大影像，放大影像延一第一方向及一第二方向呈二维分布。继光镜装置，设置于显微镜装置之后，用来接收并传递显微镜装置所输出的放大影像。步进马达，电连接于继光镜装置，用来渐次地沿第二方向直线地于第一方向上往复移动继光镜装置。超光谱仪装置设置于继光镜装置之后，用来接收继光镜装置沿第二方向依序传递待测物于第一方向的部分放大影像，并将其转换成一相对应的光谱资讯。
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公开(公告)号：CN102540804B
公开(公告)日：2014-12-31
申请号：CN201110332405.1
申请日：2011-10-28
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01J3/502 , G01J3/02 , G01J3/0237 , G01J3/0248 , G01J3/04 , G01J3/20 , G01J3/28 , G01J3/2803 , G01J3/50 , G01J2003/2866
Abstract: 本发明涉及分光比色设备以及包括该分光比色设备的图像形成设备。该分光比色设备包括外壳，该外壳包括侧壁。侧壁的外表面是能够在将所述线性传感器附接到调整表面的同时通过移动调整所述线性传感器的位置的调整表面。线性传感器在邻接调整表面的同时被外壳的侧壁支撑并且接收由凹面反射型衍射元件色散并且通过开口部分的光束。调整表面平行于所述凹面反射型衍射元件的罗兰圆的由所述线性传感器接收的光束通过的部分处的切线。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102171544B
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN200980139151.2
申请日：2009-09-24
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： R·A·M·希克梅特 , E·J·梅杰尔 , T·范伯梅尔
CPC classification number: G01J3/2803 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0224 , G01J3/0237 , G01J3/0259 , G01J3/0289 , G01J3/12 , G01J3/32 , G01J3/36 , G01J3/505 , G01J3/513 , G01J2003/1213 , G02B5/3016 , G02F1/13718 , G02F2001/133541 , G02F2001/13775
Abstract: 本发明涉及用于测量电磁频谱部分上的光特性的光谱检测器，所述光谱检测器包含胆甾型液晶材料和切换装置，所述切换装置能够改变胆甾型液晶材料的螺距，使得响应于所述切换装置而调整所述透射波长带的位置。光谱检测器可进一步包含至少一个光方向选择结构，用于选择入射到光谱检测器上的具有一定入射角度的光。本发明还涉及包括本发明的光谱检测器的发光系统。
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公开(公告)号：CN103189735A
公开(公告)日：2013-07-03
申请号：CN201180052542.8
申请日：2011-10-27
Applicant: 三鹰光器株式会社
Inventor： 山崎登志夫
CPC classification number: G01J3/0256 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0237 , G01J3/0243 , G01J3/0264 , G01J3/04 , G01J3/2823 , G01N21/31 , G01N2021/1793 , G02B27/1066 , G02B27/143
Abstract: 可监视的分光测量装置设置有从测定对象（Sm）经由光学系统（30）、狭缝-反射镜模块（21）的狭缝部（23）到达分光器主体（25）的第一光路（L1）、从测定对象（Sm）经由光学系统（30）、狭缝-反射镜模块（21）的镜面（22）到达二维摄像装置（40）的第二光路（L2）。狭缝部（23）和分光器主体（25）成为一体地构成分光部（20）。
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公开(公告)号：CN102759753A
公开(公告)日：2012-10-31
申请号：CN201110110590.X
申请日：2011-04-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V3/12
CPC classification number: G01N21/3581 , G01J3/0237 , G01N21/3563 , G01V8/005
Abstract: 本发明涉及隐藏危险品检测方法及设备。本发明的隐藏危险品检测方法包括：对被测物体进行太赫兹成像；判断太赫兹成像得到的被测物体太赫兹图像中是否存在藏有危险品的可疑区域；对藏有危险品的可疑区域进行多波长光谱分析测量，根据多波长光谱分析测量结果鉴别所述可疑区域中是否包含危险品；以及输出被测物体图像和危险品检测结果。还披露了一种用于实施本发明的隐藏危险品检测方法的设备。本发明的隐藏危险品检测方法及设备可同时从形状特征和物质成分的角度实现对隐藏危险品的鉴别，检测准确性大大增加。
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公开(公告)号：CN102628711A
公开(公告)日：2012-08-08
申请号：CN201210091508.8
申请日：2008-06-10
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01J3/18 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/0259 , G01J3/0291
Abstract: 在与衍射层(8)一体地形成的周缘部(11)的平面(11a)形成有对准标记(12a、12b、12c、12d)，在将透镜部(7)安装于基板(2)时，通过相对于基板(2)对这些对准标记(12a、12b、12c、12d)进行对位，从而能够相对于光检测元件(4)的光检出部(4a)正确地对准衍射层(8)，不受例如透镜部(7)的曲率半径的误差等的影响。尤其是，通过在平面(11a)形成对准标记(12a、12b、12c、12d)，从而能够通过图像识别来正确地检测该对准标记(12a、12b、12c、12d)的位置，于是能够进行正确的对准。
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公开(公告)号：CN102171544A
公开(公告)日：2011-08-31
申请号：CN200980139151.2
申请日：2009-09-24
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： R·A·M·希克梅特 , E·J·梅杰尔 , T·范伯梅尔
CPC classification number: G01J3/2803 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0224 , G01J3/0237 , G01J3/0259 , G01J3/0289 , G01J3/12 , G01J3/32 , G01J3/36 , G01J3/505 , G01J3/513 , G01J2003/1213 , G02B5/3016 , G02F1/13718 , G02F2001/133541 , G02F2001/13775
Abstract: 本发明涉及用于测量电磁频谱部分上的光特性的光谱检测器，所述光谱检测器包含胆甾型液晶材料和切换装置，所述切换装置能够改变胆甾型液晶材料的螺距，使得响应于所述切换装置而调整所述透射波长带的位置。光谱检测器可进一步包含至少一个光方向选择结构，用于选择入射到光谱检测器上的具有一定入射角度的光。本发明还涉及包括本发明的光谱检测器的发光系统。
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