公开(公告)号：CN103842797A

公开(公告)日：2014-06-04

申请号：CN201380003099.4

申请日：2013-05-10

Applicant: 浙江大学

Inventor： 吴学成 ,  岑可法 ,  王智化 ,  高翔 ,  陈玲红 ,  邱坤赞 ,  吴迎春 ,  姜淏予

IPC: G01N15/02 ,  G01N21/41

CPC classification number: G01J3/14 ,  G01J3/04 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/46 ,  G01N15/0211 ,  G01N21/4788 ,  G01N21/53 ,  G01N2015/0046 ,  G01N2015/0277

Abstract: 本发明公开了一维全场彩虹测量装置及测量方法，包括激光发射单元，信号采集单元，信号处理单元三部分，激光发射单元由激光器发射的激光束经调制成片光源，用于照射喷雾场液滴，产生彩虹信号；信号采集单元用于将不同高度测量点的彩虹信号通过光学系统单元分开成像在CCD信号采集器的不同行像素上；信号处理单元用于转化接收到的彩虹信号，以数据的形式经计算机处理后得到测量值。本发明可以分析喷射过程的气液两相流场，实现燃料雾化、喷淋等过程的在线测量，具有实时、非接触测量喷雾液滴粒的折射率、粒径、温度等参数能力。

公开(公告)号：CN102348965B

公开(公告)日：2014-06-04

申请号：CN201080011033.6

申请日：2010-03-08

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： E·R·基夫特

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/44 ,  G01N21/64

CPC classification number: G01J3/2803 ,  G01J3/4406 ,  G01N21/6408 ,  G01N21/6428 ,  G01N21/6456 ,  G01N2021/6441

Abstract: 一种时间延迟积分(TDI)传感器(22)，包括编号为1至N的一系列单元(42，44，42，44)。所述TDI传感器(22)配置为经由编号为2至N-1的单元将电荷从编号为1的单元转移至编号为N的单元。所述一系列单元中的每个单元(42；44)在以下意义上是敏感的或不敏感的：当所述TDI传感器(22)由具有第一光谱的光(46)均匀照明时，入射于任何不敏感单元(44)上的所述光(46)的强度最多为入射于任何敏感单元(42)上的所述光(46)的强度的90％。所述一系列单元(42，44，42，44)以下面顺序包括：第一敏感单元(42)、至少一个不敏感单元(44)、以及第二敏感单元(42)。还公开了包括TDI传感器的成像系统和对目标进行成像的方法。

公开(公告)号：CN103797356A

公开(公告)日：2014-05-14

申请号：CN201280043375.5

申请日：2012-09-12

Applicant: 索尼公司

Inventor： 新田尚

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N15/1429 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/28 ,  G01J3/2803 ,  G01N15/1434 ,  G01N15/1459 ,  G01N21/255 ,  G01N2015/1006

Abstract: 本发明提供了一种光谱分析设备，包括处理单元，被配置为使用分析函数生成分析数据，在所述分析函数中，包括作为函数元素的线性函数和对数函数且强度值被设置为来自测量数据的变量，所述测量数据包括通过使用具有不同检测波长带的多个光接收元件检测来自测量目标对象的光而获取的光的强度值。

公开(公告)号：CN103727880A

公开(公告)日：2014-04-16

申请号：CN201310478380.5

申请日：2013-10-14

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 辻井敦 ,  千田直道 ,  西田和史

IPC: G01B11/02 ,  G01J3/42 ,  G01J3/46

CPC classification number: G01B11/14 ,  G01B11/026 ,  G01B11/0608 ,  G01B2210/50 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/10 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/42 ,  G01J3/50

Abstract: 本发明公开了光谱特性测量设备、颜色测量设备、平面测量对象质量监控设备、位移测量方法、光谱特性测量方法和颜色测量方法。位移传感器包括：光源单元，其被构造为将具有不同的多个波长的光以倾斜的方向施加于平面测量对象的测量区域；分光镜，其被构造为测量被测量区域反射的光的光谱分布；特征量提取模块，其被构造为提取光谱分布的特征量；以及位移计算模块，其被构造为基于所提取的特征量以及预先获取的位移与特征量之间的关系来计算测量区域的位移。

公开(公告)号：CN102171545B

公开(公告)日：2014-02-19

申请号：CN200980139174.3

申请日：2009-09-28

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： E·J·梅杰尔 ,  J·卢布

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/51 ,  G01J3/02 ,  G02B5/30 ,  G01J3/12 ,  G02F1/137

CPC classification number: G01J3/2803 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/12 ,  G01J3/32 ,  G01J3/36 ,  G01J3/505 ,  G01J3/513 ,  G01J2003/1213 ,  G02B5/201 ,  G02B5/3016 ,  G02F1/13718 ,  G02F2001/13775

Abstract: 本发明涉及用于制造光谱检测器的方法，该光谱检测器包括光电检测器阵列和胆甾型液晶材料，用于测量电磁频谱的部分上的光特性。通过以受控方式在胆甾型液晶材料上的不同位置处将胆甾液晶材料暴露于不同曝光强度或曝光时间的紫外辐射，可以获得胆甾型液晶材料的大体上各自具有其自身的光学透射的多个部分。本发明还涉及通过本发明的方法制造的光谱检测器。

公开(公告)号：CN103424187A

公开(公告)日：2013-12-04

申请号：CN201310359016.7

申请日：2008-06-05

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 柴山胜己 ,  H·泰希曼 ,  能野隆文 ,  铃木智史 ,  D·希勒 ,  U·施塔克

IPC: G01J3/02

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803

Abstract: 分光模块（1）中，由于本体部（2）为板状，因而能够通过本体部（2）的薄型化来谋求小型化。并且，由于本体部（2）为板状，因而例如能够利用晶圆工艺来制造分光模块（1）。即，通过对作为多个本体部（2）的玻璃晶圆，以矩阵状设置透镜部（3）、衍射层（4）、反射层（6）以及光检测元件（7）设置成矩阵状，并切割该玻璃晶圆，能够制造多个分光模块（1）。如此，能够容易地大量生产分光模块（1）。

公开(公告)号：CN101647119B

公开(公告)日：2013-09-11

申请号：CN200880010341.X

申请日：2008-02-22

Applicant: 塞莫尼根分析技术有限责任公司

Inventor： 丹尼斯·拜科 ,  苏拉贾·帕斯卡兰 ,  贾德·杰尼 ,  马克·A·汉密尔顿 ,  乔治·伦古 ,  迈克尔·J·皮隆 ,  布鲁斯·皮格尔 ,  约翰·斯瓦伯 ,  史蒂文·凡高登 ,  赫伯·齐格勒

IPC: H04N5/235 ,  H04N5/335 ,  H04N5/355 ,  G01J3/28 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/2803 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0286 ,  H01L27/14862 ,  H04N5/2355 ,  H04N5/35572 ,  H04N5/3692 ,  H04N5/3743

Abstract: 通过照射电荷转移设备感光像素单元的一维阵列，并周期地非破坏性地将感光单元的电荷复制到与集成电路中的感光单元设置在一起的各个存储单元(“行存储寄存器”)，来执行光谱的时间分辨分析。将至少一些存储单元中存储的电荷的相关信息提供至集成电路外部的元件。

公开(公告)号：CN102007389B

公开(公告)日：2013-05-15

申请号：CN200980113172.7

申请日：2009-03-30

Applicant: 株式会社拓普康

Inventor： 井崎雄三 ,  鹤冈政义

IPC: G01J3/36

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/2803

Abstract: 测光装置(2)的受光部(4)包括配置在与由截止滤光器(26)阻隔的短波长一侧的光线对应的位置上的受光元件(4a)，配置在与截止滤光器(26)阻隔的短波长一侧的光线对应的位置上的受光元件(4a)的输出作为暗电流输出来使用。在运算电路(6)中设置有修正电路(30)，该修正电路(30)使用暗电流输出来修正配置在与相较于被阻隔的短波长一侧的光线而言的长波长一侧的波长的光线相对应的位置上的各受光元件(4a)产生的测光输出。

公开(公告)号：CN102812340A

公开(公告)日：2012-12-05

申请号：CN201080065211.3

申请日：2010-04-02

Applicant: 台湾超微光学股份有限公司

Inventor： 柯正浩

IPC: G01J3/18 ,  G01J3/36

CPC classification number: G01J3/0256 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/2803

Abstract: 一种能接收零阶光谱分量（SO0）及一阶光谱分量(SO1)的微型光谱仪（1），包括：接收光学信号的输入部(10)、微型绕射光栅(20)和光感测器(30)。绕射光栅(20)具有一聚焦曲面(23)及形成在聚焦曲面(23)上的绕射图案(24)，接收光学信号（SO）并将光学信号（SO）分离成多个光谱分量，该光谱分量包含零阶光谱分量（SO0）及一阶光谱分量(SO1)。光感测器(30)具有第一感测区段及第二感测区段(34)，接收被微型绕射光栅(20)分离并聚焦的多个光谱分量。第一感测区段(32)接收零阶光谱分量（SO0），而第二感测区段(34)接收一阶光谱分量(SO1)。

公开(公告)号：CN101617219B

公开(公告)日：2012-11-21

申请号：CN200880005951.0

申请日：2008-02-22

Applicant: 塞莫尼根分析技术有限责任公司

Inventor： 约翰·E·葛尔特 ,  马克·汉密尔顿 ,  佩莱希夫·斯里萨兰

IPC: G01N21/67 ,  G01N21/71 ,  G01J3/443 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/12 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/0283 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/36 ,  G01J3/443 ,  G01N21/33 ,  G01N21/67 ,  G01N21/718 ,  G01N2201/0221

Abstract: 用于分析样本的成分的手持、自容式、电池供电的测试仪器包括用于激发样本的至少一部分的激发器、用于接收来自样本被激发部分的光信号的交叉色散光谱仪和用于处理关于来自光谱仪的光信号的光谱数据的处理器。激发器可包括火花发生器和反电极、激光或其他用于从样本的一部分生成光信号的设备。光谱仪具有足够宽的波长范围以使测试仪器能够探测并确定碳、磷、硫、锰、硅、铁和其他识别常见合金所必要的元素的相对含量。光谱仪包括由重量轻的材料制成的结构件，这种材料具有小的热膨胀系数(CTE)。光谱仪在期望的环境温度范围内结构稳定，不需要控制光谱仪的温度。