Abstract:
본 발명은 절연막의 형성방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 플라즈마 원자층 증착법으로 알루미늄과 타이타늄을 포함하는 절연막을 형성하는 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 절연막 형성방법은 플라즈마 원자층 증착법으로 알루미늄 전구체를 포함하는 반응기체를 박막으로 증착하는 제 1 단계, 및 플라즈마 원자층 증착법으로 타이타늄 전구체를 포함하는 반응기체를 박막으로 증착하는 제 2 단계를 각각 적어도 한번 이상 포함하는 것을 특징으로 한다. 플라즈마, 원자층, ALD, 절연막, 타이타늄, 알루미늄
Abstract:
본 발명은 정격신호전압보다 낮은 잡음신호를 제거할 수 있는 급격한 MIT 소자를 이용한 저전압 잡음 방지회로 및 그 회로를 포함한 전기전자시스템을 제공한다. 그 잡음 방지 회로는 잡음으로부터 보호받고자 하는 전기전자시스템에 직렬 연결된 급격한 MIT(Metal-Insulator Transition) 소자를 포함한다. 본 발명은 소정 전압에서 급격한 금속-절연체 전이 특성을 갖는 급격한 MIT 소자를 전기전자시스템에 직렬로 연결함으로써, 저전압 잡음을 효과적으로 제거할 수 있다. 금속-절연체 전이, 급격한 MIT 소자, 보호회로, 노이즈 필터
Abstract:
전기전자시스템 특히, 고전압 개폐기 등과 같이 초고전압으로부터 보호하기 위해 초고전압 잡음을 바이패스 시키기 위한 소자 및 그 소자를 이용하여 초고전압 잡음을 바이패스 시키는 고전압 잡음 제거회로 및 그 회로를 포함한 전기전자시스템을 제공한다. 그 소자는 기판; 및 기판 상면 및 하면 각각에 형성된 제1 및 제2 급격한 MIT(Metal-Insulator Transition) 구조물;을 포함한다. 그 제거회로는 보호받고자 하는 전기전자시스템에 병렬연결되고, 적어도 2개의 급격한 MIT(Metal-Insulator Transition) 소자가 직렬연결된 급격한 MIT 소자열을 포함한다. 금속-절연체 전이, 급격한 MIT 소자, 개폐기, 고전압 잡음
Abstract:
Provided are a temperature sensor using a metal-insulator transition (MIT) device subject to abrupt MIT at a specific temperature and an alarm including the temperature sensor. The abrupt MIT device includes an abrupt MIT thin film and at least two electrode thin films that contacts the abrupt MIT thin film. The abrupt MIT device generates abrupt metal-insulator transition at a specific transition temperature. The alarm includes a temperature sensor comprising an abrupt MIT device, and an alarm signaling device serially connected to the temperature sensor. Accordingly, the alarm can be manufactured to have a simple circuit and be of a small size by including the temperature sensor using an abrupt MIT device.
Abstract:
An insulator experiencing abruptly metal-insulator transition and a method for manufacturing the same, and a device using the same are provided to quickly transit metal and insulator without changing a structure of the insulator. An insulator is abruptly transited into a metal by energy variation between electrons, without changing its structure, and has an energy band gap of 2 eV or more. The energy variation is conducted by changing temperature, pressure and electric field applied from an exterior. The insulator is any one of Al oxide, Ti oxide, and oxide of Al-Ti alloy. A device includes a substrate(10), a first insulator thin film formed on the substrate, and at least two electrodes(16,18) spaced apart from each by the insulator thin film.
Abstract:
A partial discharge measuring device and a measuring system having the same are provided to check partial discharge without external noise by bypassing current generated due to the partial discharge by rapid metal-insulator transition through an arrester unit. A partial discharge measuring device includes an arrester unit(140) conducted with partial discharge of a gas insulator executing rapid metal-insulator transition; a first electrode(150) electrically connected to the arrester unit to detect the partial discharge and have a first resistance value; and at least one second electrode(160) connected with the first electrode in parallel, wherein the second electrode has a resistance value smaller than the resistance value of the first electrode. The insulator is SF6(Sulfur Hexafluoride) gas.
Abstract:
A memory device using abrupt metal-insulator transition and a method for operating the same are provided to define an on-state by using a conductive path covering the abrupt metal-insulator transition material layer. A memory device comprises a substrate(102), a metal-insulator transition material layer disposed on the substrate for undergoing abrupt metal insulator transition by energy change between electrons, and at least two electrodes contacting the metal-insulator transition material layer and melted by heat to form a conductive path on the metal-insulator transition material layer. The metal-insulator transition material layer contains at least one selected from the group consisting of an inorganic compound semiconductor or insulator material to which low-concentration holes are added, an organic semiconductor or insulator material to which low-concentration holes are added, a semiconductor material to which low-concentration holes are added, and an oxide semiconductor or insulator material to which low-concentration holes are added.
Abstract:
본 발명은 반도체 트랜지스터의 게이트 절연막 및 그 제조방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 기판 상에 형성된 완충층과, 상기 완충층의 상부에 형성된 반도체층과, 상기 반도체층의 상부에 형성되며, 적어도 하나의 층을 가지는 알루미늄-실리케이트층을 포함함으로써, 제어 불가능한 계면 산화막을 감소시켜 소자의 전기적 특성을 향상시킬 수 있으며, 실시간으로 조성 기울기를 갖는 단일막 형성이 가능하므로 유전상수를 비롯한 여러 변인들을 효율적으로 제어할 수 있는 효과가 있다. 반도체 트랜지스터, 게이트 절연막, 알루미늄-실리케이트층, 완충층, 반도체층, 플라즈마 원자층 증착(PEALD)
Abstract:
PURPOSE: A substrate having a micro structure and a fabricating method thereof are provided to reduce effectively stress in a semiconductor fabrication process by forming an air gap between a top substrate and a bottom substrate. CONSTITUTION: A bottom substrate(11) is used for supporting a top substrate(13) on which a device is formed during a device fabrication process. The bottom substrate is separated from the top substrate after the device fabrication process. A buffer layer(14) is patterned to include a plurality of forming layers for forming air gaps in a predetermined interval on an upper surface of the bottom substrate. An adhesion layer(12) is used for adhering the top substrate to the buffer layer.
Abstract:
본 발명은 구동전압을 낮추고 고해상도를 구현하기 위한 박막전계발광소자에 관한 것으로, 본 발명의 직류구동형 박막전계발광소자는 박막형광층과 금속전극의 사이에 상기 박막형광층에 접하는 박막에너지장벽층과 상기 금속전극에 접하는 박막전류제한층이 적층된 박막전류제어층을 삽입되며, 본 발명의 교류구동형 박막전계발광소자는 박막형광층의 상,하부에 박막에너지장벽층과 박막전류제한층이 적층된 박막전류제어층이 삽입되되, 상기 박막에너지장벽층은 상기 박막형광층에 접하여 이루어진다.