光学特性测量装置以及光学特性测量方法

    公开(公告)号:CN103403528B

    公开(公告)日:2015-05-13

    申请号:CN201280010861.7

    申请日:2012-02-28

    Inventor: 石丸伊知郎

    CPC classification number: G01N21/23 G01J3/0224 G01J3/453 G01J3/4535

    Abstract: 经由偏振器到达试样(S)的直线偏振光通过试样(S)附加延迟之后,经由第一偏振片(9)和第二偏振片(11)到达移相器(13)的可移动镜部(131)和固定镜部(132)。而且,由这些镜部反射的测量光经由检偏振器(15)通过成像透镜(17)在检测器(19)的受光面形成干涉图像。此时,通过移动可移动镜部(131)来使由该可移动镜部(131)反射的光束与由固定镜部(132)反射的光束之间的光路长度差连续地发生变化,因此由检测器(19)检测的干涉图像的成像强度连续地发生变化,从而能够获取类似于干涉图的合成波形。通过对此进行傅里叶变换,能够得到每个波长的振幅和每个波长的双折射相位差。

    一种差分快照式成像光谱仪与成像方法

    公开(公告)号:CN103900693A

    公开(公告)日:2014-07-02

    申请号:CN201410150852.9

    申请日:2014-04-15

    Abstract: 一种差分快照式成像光谱仪与成像方法属于快照式成像光谱技术领域;该光谱仪在传统成像光谱仪的基础上,增加了偏振分光器,将传统单光路结构改变为平衡臂和非平衡臂的双光路结构;该成像方法,利用平衡臂光电探测器及信号处理部件得到的干涉信号减去非平衡臂光电探测器及信号处理部件得到的干涉信号,再经过去直流、切趾、相位校正和傅里叶变换处理,得到目标的图像和光谱信息;本发明不仅可以快速地捕捉运动目标的图像和光谱信息,而且可以大幅提高系统的信噪比,有利于在精细测量领域中应用。

    光学特性测量装置以及光学特性测量方法

    公开(公告)号:CN103403528A

    公开(公告)日:2013-11-20

    申请号:CN201280010861.7

    申请日:2012-02-28

    Inventor: 石丸伊知郎

    CPC classification number: G01N21/23 G01J3/0224 G01J3/453 G01J3/4535

    Abstract: 经由偏振器到达试样(S)的直线偏振光通过试样(S)附加延迟之后,经由第一偏振片(9)和第二偏振片(11)到达移相器(13)的可移动镜部(131)和固定镜部(132)。而且,由这些镜部反射的测量光经由检偏振器(15)通过成像透镜(17)在检测器(19)的受光面形成干涉图像。此时,通过移动可移动镜部(131)来使由该可移动镜部(131)反射的光束与由固定镜部(132)反射的光束之间的光路长度差连续地发生变化,因此由检测器(19)检测的干涉图像的成像强度连续地发生变化,从而能够获取类似于干涉图的合成波形。通过对此进行傅里叶变换,能够得到每个波长的振幅和每个波长的双折射相位差。

    一种光学频谱分析设备
    57.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102829870A

    公开(公告)日:2012-12-19

    申请号:CN201210326081.5

    申请日:2012-09-05

    Inventor: 高培良

    Abstract: 本发明涉及一种光学频谱分析设备,其技术特点是:包括一个可调谐法布里-珀罗滤波器、一个可调谐声光滤波器、第一光电探测器、第二光电探测器以及系统控制和数据分析系统;入射光首先通过可调谐法布里-珀罗滤波器滤波,其输出光束通过可调谐声光滤波器滤波,其输出的两束偏振态相互垂直并具有一定分离夹角的线偏振光束分别由第一光电探测器和第二光电探测器接收;所述的系统控制和数据分析系统用于实现光学频谱分析设备对入射光的功率和光谱的检测功能。本具有无机械移动部件、性能稳定可靠、尺寸小、易于安装及生产等特点,满足了小尺寸和极端环境下的需求,可广泛用于激光器、光学测试、光纤通讯、生物、医疗器械和光纤传感器网络等领域中。

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