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    Spectroscopic method and apparatus for measuring sugar concentrations
    51.
    发明公开
    Spectroscopic method and apparatus for measuring sugar concentrations 失效
    Spektroskopische Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Zuckergehaltes。

    公开(公告)号：EP0317121A2

    公开(公告)日：1989-05-24

    申请号：EP88310292.3

    申请日：1988-11-02

    Applicant: Kurashiki Boseki Kabushiki Kaisha

    Inventor： Koashi, Katsue ,  Yokota, Hiroshi

    IPC: G01N21/35 ,  A61B5/00 ,  G01N33/66

    CPC classification number: A61B5/1455 ,  A61B5/14532 ,  G01N21/359 ,  G01N21/49 ,  G01N2021/1782 ,  G01N2021/3144 ,  G01N2021/3148 ,  G01N2021/4709 ,  G01N2201/065 ,  G01N2201/0662 ,  G01N2201/069 ,  Y10S250/91

    Abstract: This disclosure relates to a method for measuring the concentrations of sugars in liquids by the use of near infrared as well as an apparatus for practicing said method.
    The method comprises a step wherein the absorption spectrum of the sugar under investigation existing at a first depth relatively close to the surface in a sample (15) is computed by using relatively weak power of near infrared, a step wherein the absorption spectrum of the sugar under investigation existing at a relatively deep second depth in the sample (15) is computed by using relatively strong power of infrared, and a step wherein the concentration of the sugar under investigation in the sample (15) is determined by computing the absorption spectrum of the sugar at a different depth between said first and second depths on the basis of the results of measurement in said first and second steps. The wavelengths for the use for said absorption spectrum are selected from anyone of wavelength bands of 950-1,150 nm, 1,150-1,300 nm, and 1,300-1,450 nm.
    Since, according to this method, wavelengths which are shorter and closer to the visible region than in the prior art are used, the method enables the measuring light beams to penetrate deeper in a living tissue and makes it possible to measure the concentrations of sugars existing in a deeper region non-invasively.

    Abstract translation: 本公开涉及一种通过使用近红外线测量液体中的糖浓度的方法以及用于实施所述方法的装置。 该方法包括一个步骤，其中通过使用相对较弱的近红外光功率来计算在样品（15）中相对靠近表面的第一深度存在的研究中的糖的吸收光谱，其中糖的吸收光谱 通过使用相对较强的红外功率来计算在样品（15）中相对较深的第二深度存在的调查，以及通过计算样品（15）中所研究的糖的浓度来确定样品（15）中的糖浓度的步骤， 基于所述第一和第二步骤中的测量结果，在所述第一和第二深度之间的不同深度处的糖。 用于所述吸收光谱的波长选自950-1,150nm，1,150-1,300nm和1,300-1,450nm的波长带中的任何一个。 由于根据该方法，使用比现有技术更短且更接近可见光区域的波长，所以该方法使得测量光束能够在活体组织中更深地穿透，并且可以测量存在的糖的浓度 在更深的地区非侵略性地。

    Image sensor, imaging apparatus, and state inspection system
    53.
    发明专利
    Image sensor, imaging apparatus, and state inspection system 有权
    图像传感器，成像设备和状态检测系统

    公开(公告)号：JP2009141739A

    公开(公告)日：2009-06-25

    申请号：JP2007316863

    申请日：2007-12-07

    Applicant: Seiko Epson Corp ,  セイコーエプソン株式会社

    Inventor： KURANE HARUHISA

    IPC: H04N5/335 ,  H04N5/341 ,  H04N5/353 ,  H04N5/355 ,  H04N5/365 ,  H04N5/374

    CPC classification number: H04N5/2352 ,  G01N21/89 ,  G01N2201/069 ,  G06T5/009 ,  G06T5/40 ,  G06T7/0004 ,  G06T2207/10152 ,  G06T2207/30128 ,  G06T2207/30164 ,  H04N5/232 ,  H04N5/3532

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an image sensor and an imaging apparatus suitable for obtaining both of an image having a high frame rate and that having high image quality when capturing a one-frame image, and to provide a state inspection system having the imaging apparatus. SOLUTION: The state inspection system 1 comprises: the imaging apparatus 100 for reading a pixel signal N times nondestructively from each pixel at a frame rate N times larger than the standard and generating standard picked-up image data corresponding to a standard exposure time based on the read pixel signal and high-speed picked-up image data corresponding to first to N-th subframe periods each, where a standard frame period is divided into N according to N reads; a lighting system 200 for lighting an object to be inspected; and an information processor 400 that controls the quantity of light in the lighting system 200 based on the standard picked-up image data, detects tint and texture in the object to be inspected, and detects the shape and movement of the object to be inspected based on the high-speed picked-up image data. COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

    Abstract translation: 要解决的问题：提供一种适用于在拍摄一帧图像时获得具有高帧率和高图像质量的图像的图像传感器和成像装置，并且提供状态检查系统 具有成像装置。 状态检查系统1包括：成像设备100，用于以比标准大N倍的帧速从每个像素非破坏性地读取像素信号N，并产生对应于标准曝光的标准拍摄图像数据 基于读取的像素信号和对应于每个第一至第N个子帧周期的高速拾取图像数据，其中根据N个读取将标准帧周期分为N个; 照明系统200，用于点亮被检查物体; 以及基于标准拍摄图像数据控制照明系统200中的光量的信息处理器400，检测待检查对象中的色调和纹理，并且基于被检查对象的形状和移动来检测 在高速拍摄的图像数据上。 版权所有（C）2009，JPO＆INPIT

    최급경사 알고리즘을 이용한 비전시스템의 컬러 조명 제어방법
    54.
    发明授权
    최급경사 알고리즘을 이용한 비전시스템의 컬러 조명 제어방법 有权
    通过STEEPEST DESCAL算法对视觉系统进行彩色照明的控制方法

    公开(公告)号：KR101497920B1

    公开(公告)日：2015-03-03

    申请号：KR1020130138760

    申请日：2013-11-15

    Applicant: 한국생산기술연구원

    Inventor： 김형태 ,  조경용 ,  김승택 ,  김종석 ,  진경찬

    IPC: G01N21/01 ,  H05B37/02

    CPC classification number: G01N21/255 ,  G01N2201/069 ,  G06T7/80 ,  G06T2207/10152

    Abstract: 본 발명은 최급경사 알고리즘을 이용한 비전시스템의 컬러 조명 제어방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 카메라 영상을 그레이 레벨에서 분석하여 최대 선명도(sharpness)를 갖는 지점을 미분에 기반한 최급경사(steepest descent) 알고리즘을 적용함으로써 최적 조명 조건을 최단 시간에 자동으로 설정하는 방법에 관한 것이다.
    본 발명의 실시예에 따른 최급경사 알고리즘을 이용한 비전시스템의 컬러 조명 제어방법은, 카메라에 입사된 검사 대상물 이미지로부터 디지털 이미지를 획득하여 그레이 레벨 이미지로 변환하는 단계와, 상기 그레이 레벨 이미지의 선명도를 연산하는 단계와, 상기 선명도와 구동 전압 관계를 이용하여 -선명도와 비용 함수 관계를 정의하는 단계와, 상기 조명의 다음 구동 전압을 비용 함수의 미분을 이용해 계산하고, 상기 구동 전압 계산에 필요한 수렴 계수를 연산하며, 연산 오차를 계산하는 최급경사 연산 단계와, 상기 구동 전압에 대한 경계조건을 판별하는 단계 및 상기 단계를 종료조건이 만족할 때까지 반복하는 단계를 포함하여 구성된다.

    Abstract translation: 本发明涉及使用最陡下降算法的视觉系统的彩色照明控制方法，更具体地说，涉及一种通过分析灰度级相机图像并以最低速度自动设定最佳照明条件的方法 下降算法到基于微分的最大锐度的点。 根据本发明的实施例的使用最速下降算法的视觉系统的彩色照明控制方法包括以下步骤：从进入相机的测试对象图像获得数字图像，并将获得的数字图像转换成灰色 水平图像 计算灰度图像的定义程度; 通过使用定义度和驱动电压之间的关系来定义定义程度与成本之间的函数关系; 使用成本函数的微分计算下一个照明驱动电压，计算驱动电压计算所需的收敛系数，并计算计算误差; 确定驱动电压的警告状态; 并重复步骤直到满足条件。

    그래핀의 전도성 검사 장치 및 검사 방법
    55.
    发明公开
    그래핀의 전도성 검사 장치 및 검사 방법 无效
    检查石墨电导率的装置及其方法

    公开(公告)号：KR1020150098406A

    公开(公告)日：2015-08-28

    申请号：KR1020140019650

    申请日：2014-02-20

    Applicant: 한양대학교 산학협력단

    Inventor： 김학성 ,  박성현 ,  김도형

    IPC: G01N21/3581 ,  G01N21/17

    CPC classification number: G01N27/04 ,  G01J5/0896 ,  G01J2005/0077 ,  G01N21/3581 ,  G01N2201/069 ,  G01N2021/1736 ,  G01N2021/1765

    Abstract: 본 발명에 따르면 테라헤르츠파를 이용하여 그래핀의 산화, 환원 영역을 빠른 시간 내에 정확하게 탐지하여 전도성을 측정할 수 있어 그래핀 전도성 검사 시간을 줄일 수 있다.
    또한, 그래핀에 산화 영역이 존재하면 바로 전자기파를 조사하여 환원시킴으로서 전도성을 높여 수리 시간을 최소화할 수 있다.

    Abstract translation: 本发明涉及用于检查石墨烯导电性的装置和方法。 根据本发明，可以通过使用太赫兹波精确快速地检测石墨烯的氧化面积和还原面积来测量导电性来测量石墨烯的电导率的时间。 此外，如果石墨烯中存在氧化区域，则氧化区域被电磁波照射，然后被减少。 因此，电导率增加，修复时间可以最小化。

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