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公开(公告)号:KR1019950002744B1
公开(公告)日:1995-03-24
申请号:KR1019910001106
申请日:1991-01-23
Applicant: 스미토모덴키고교가부시키가이샤
IPC: H01L23/00
CPC classification number: H01L21/6835 , H01L21/67144 , H01L24/81 , H01L2224/16 , H01L2224/81801 , H01L2924/01033 , H01L2924/01061 , H01L2924/014 , H01L2924/14 , H01L2924/15173 , H01L2924/30105 , H05K1/0268 , H05K3/303 , H05K2201/10674 , H05K2203/166 , Y02P70/613 , Y10T29/49133 , Y10T29/49144
Abstract: 내용 없음.
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公开(公告)号:KR1019950001368B1
公开(公告)日:1995-02-17
申请号:KR1019910001105
申请日:1991-01-23
Applicant: 스미토모덴키고교가부시키가이샤
IPC: H01L23/00
CPC classification number: H01L24/81 , H01L23/13 , H01L23/467 , H01L2224/16 , H01L2224/16237 , H01L2224/81136 , H01L2224/8114 , H01L2224/81191 , H01L2224/81801 , H01L2924/01033 , H01L2924/0105 , H01L2924/01061 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/01082 , H01L2924/01084 , H01L2924/14 , H05K1/0284 , H05K3/3436 , H05K3/4007
Abstract: 내용 없음.
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公开(公告)号:KR100067278B1
公开(公告)日:1993-11-04
申请号:KR1019890014056
申请日:1989-09-29
Applicant: 스미토모덴키고교가부시키가이샤
IPC: H01L27/00 , H01L21/338
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公开(公告)号:KR1019930003443A
公开(公告)日:1993-02-24
申请号:KR1019920012833
申请日:1992-07-18
Applicant: 스미토모덴키고교가부시키가이샤
Abstract: 내용 없음.
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65.범프가 부착된 반도체소자의 전기특성 측정방법 및 장치, 그리고 반도체디바이스의 제조방법 및 장치 失效
Title translation: 用于测量具有脉冲的半导体器件的电特性的方法和装置以及方法和装置公开(公告)号:KR1019930002831A
公开(公告)日:1993-02-23
申请号:KR1019920012352
申请日:1992-07-11
Applicant: 스미토모덴키고교가부시키가이샤
Inventor: 니시구찌마사노리
IPC: G01R25/00
Abstract: 내용 없음.
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公开(公告)号:KR100059393B1
公开(公告)日:1993-02-15
申请号:KR1019890014111
申请日:1989-09-30
Applicant: 스미토모덴키고교가부시키가이샤
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公开(公告)号:KR100055999B1
公开(公告)日:1992-11-03
申请号:KR1019880004778
申请日:1988-04-27
Applicant: 스미토모덴키고교가부시키가이샤
IPC: H01L21/00
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公开(公告)号:KR1019920006728A
公开(公告)日:1992-04-28
申请号:KR1019910016243
申请日:1991-09-18
Applicant: 스미토모덴키고교가부시키가이샤
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公开(公告)号:KR1019920001662A
公开(公告)日:1992-01-30
申请号:KR1019910010166
申请日:1991-06-19
Applicant: 스미토모덴키고교가부시키가이샤
IPC: H01L21/52
Abstract: 내용 없음
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