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公开(公告)号:CN101925806B
公开(公告)日:2011-11-09
申请号:CN200980102845.9
申请日:2009-01-26
Applicant: 瑞尼斯豪公司
Inventor: 伊恩·保罗·海沃德 , 布赖恩·约翰·爱德华·史密斯
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0289 , G01J3/44 , G01N21/65 , G01N2021/656 , G01N2201/103 , G01N2201/105
Abstract: 在一种拉曼光谱仪中,激发光作为线聚焦(38)被聚焦在样品(26)上。来自所述线聚焦中的点的光谱在CCD检测器(34)上的行46中发生色散,所述CCD检测器(34)具有二维的像素阵列。线聚焦在相对于样品的方向Y上发生纵向移动。同时并且同步地,电荷在CCD中在平行方向Y’中移动,从而来自样品中给定点的数据继续积累。为了在快速的、低分辨率的扫描期间在X方向上提供均化处理,线聚焦以Z字形方式在样品上在边界线60之间扫过。
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公开(公告)号:CN1815196B
公开(公告)日:2011-10-12
申请号:CN200610005877.5
申请日:2006-01-19
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G01J3/10 , G01J3/02 , G01J3/0218 , G01J3/0256 , G01J3/4406 , G01J2003/1213 , G01N21/05 , G01N21/6452 , G01N21/6456 , G01N2021/0346 , G01N2021/3174 , G01N2021/6419 , G01N2021/6421 , G01N2021/6471 , G01N2021/6484 , G01N2201/0221 , G01N2201/0407 , G01N2201/0461 , G01N2201/0612 , G01N2201/0627 , G01N2201/0631 , G01N2201/0806 , G01N2201/0833
Abstract: 提供一种多通道荧光测量光学系统及使用该光学系统的多通道荧光样本分析仪。将光照射在多个样本通道并就年样本发出的荧光的多通道荧光测量光学系统,包括:光源;用于使光源发出的光具有均匀强度分布的积分器;具有其上配置有样本的多个样本通道的样本架,其中利用从积分器发出的光来激励所述样本;以及置于所述积分器和样本架之间用于以预定比例分开入射光的分束器。由于利用光纤束和光电二极管能够检测荧光的光强,故可以大幅度缩减制造成本并微型化光学系统。
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公开(公告)号:CN102171544A
公开(公告)日:2011-08-31
申请号:CN200980139151.2
申请日:2009-09-24
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor: R·A·M·希克梅特 , E·J·梅杰尔 , T·范伯梅尔
CPC classification number: G01J3/2803 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0224 , G01J3/0237 , G01J3/0259 , G01J3/0289 , G01J3/12 , G01J3/32 , G01J3/36 , G01J3/505 , G01J3/513 , G01J2003/1213 , G02B5/3016 , G02F1/13718 , G02F2001/133541 , G02F2001/13775
Abstract: 本发明涉及用于测量电磁频谱部分上的光特性的光谱检测器,所述光谱检测器包含胆甾型液晶材料和切换装置,所述切换装置能够改变胆甾型液晶材料的螺距,使得响应于所述切换装置而调整所述透射波长带的位置。光谱检测器可进一步包含至少一个光方向选择结构,用于选择入射到光谱检测器上的具有一定入射角度的光。本发明还涉及包括本发明的光谱检测器的发光系统。
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公开(公告)号:CN102121850A
公开(公告)日:2011-07-13
申请号:CN201010586752.2
申请日:2010-11-30
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01J5/58
CPC classification number: G01J5/0014 , G01J3/02 , G01J3/0216 , G01J3/0218 , G01J3/28 , G01J3/36 , G01J3/42 , G01J3/443 , G01J5/0022 , G01J5/0044 , G01J5/0088 , G01J5/08 , G01J5/0815 , G01J5/0821 , G01J5/0846 , G01J5/0862 , G01J5/58
Abstract: 一种热测量系统(10)包括光收集装置(22);和与该光收集装置(22)通信的检测系统(40、140、240、340)。该检测系统(40、140、240、340)配置成检测来自气体(80)的光(94)强度。本发明已经从特定实施例方面描述,并且认识到除那些明确陈述的之外的等同、备选和修改是可能的,并且在附上的权利要求的范围内。
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公开(公告)号:CN101589297B
公开(公告)日:2011-06-29
申请号:CN200880002966.1
申请日:2008-01-25
Applicant: 瑞尼斯豪公司
Inventor: 罗伯特·班尼特
CPC classification number: G01N21/65 , G01J3/02 , G01J3/0289 , G01J3/44
Abstract: 在拉曼光谱仪中,激发光作为线聚焦(38)被聚焦在样品(26)上。来自线聚焦中的点的光谱散射在CCD检测器(34)上的行(46)上,CCD检测器(34)具有二维的像素阵列。线聚焦相对于样品在Y方向上(箭头48)纵向移动。电荷在CCD内在平行的Y’方向(箭头50)上同时并同步地漂移,从而来自样品中给定点的数据持续地积累。这确保了来自每个样品点的数据发生于沿着线聚焦结合的照明,并且使得随后能够更容易地将数据结合到一起以便形成样品的图像。
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公开(公告)号:CN102084228A
公开(公告)日:2011-06-01
申请号:CN200880128023.3
申请日:2008-01-23
Applicant: 利兹法国产品公司
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0278 , G01J3/51 , G01J3/513
Abstract: 本发明涉及三维物体的空间色度测量设备与方法,以根据多个分析点对三维物体的平缓起伏和色度坐标进行数字化建模。为此,本发明的测量设备结合照明装置和至少四个光学探测装置,光学探测装置包括对基本相同的光波长范围敏感的至少两个双探测装置,以通过立体视觉效果确定被分析物体的平缓起伏。因此,本发明提出了一种三维物体(2)的空间色度测量设备,其包括探测头(4),探测头(4)由物体的照明装置(14)和用于探测物体(2)反射的光的至少四个探测装置(16)组成,所述设备还包括用于处理由探测装置(16)接收的信息的处理单元(8)。至少两个双探测装置(16c,16e)对基本相同的光波长范围敏感。
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公开(公告)号:CN102066887A
公开(公告)日:2011-05-18
申请号:CN200980122880.7
申请日:2009-06-19
Applicant: 西门子公司
Inventor: 帕维尔·克鲁克兹恩斯基 , 里卡德·拉尔金
CPC classification number: G01J3/4338 , G01J3/02 , G01J3/0297 , Y10T428/1352 , Y10T428/139 , Y10T428/1397
Abstract: 为了减少在由激光光谱系统中的、由部分反射光学面限定的无源腔中产生的光的条纹干涉,该无源腔的光路长度随着三角形来回移动(x)而变化。根据本发明,在连续测量周期中执行光谱测量,其中在每两个连续测量周期之间具有时间间隔,以下述方式进行三角形移动:在连续的时间间隔中定位三角形移动的转折点,以及在每一或每第n个测量周期之后,相对于测量周期来移动各转折点的时间位置。
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公开(公告)号:CN101308092B
公开(公告)日:2011-05-18
申请号:CN200710196592.9
申请日:2007-12-05
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor: 军司昌秀
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01J3/4406 , G01J3/02 , G01J3/027 , G01J3/28
Abstract: 本发明可补偿光源发光强度的波动。本发明可利用第1分光部(12、13)将光源发出的光进行分光后,将具有特定的波长(λEx)的激发光入射到样品元件15。利用第2分光部(16、17)将来自样品元件部的光进行分光,并利用荧光检测部18来测定荧光强度(IEm)。另一方面,参照光检测部19检测未经第1分光部选择的光的特定的波长(λR),将由所述参照光检测部检测出的光强度的输出储存于光谱数据储存部21中。根据光谱数据的激发光波长、参照光波长、参照光强度,算出激发光强度(IEx)。依据经测定的荧光强度(IEm)、经算出的激发光强度(IEx),求得荧光分光光度计的输出。
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公开(公告)号:CN102027344A
公开(公告)日:2011-04-20
申请号:CN200880128650.7
申请日:2008-02-15
Applicant: 科学技术设备委员会
Inventor: 达米安·魏德曼
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0232 , G01J3/0286 , G01J3/08 , G01J3/427 , G01N21/276 , G01N21/3518 , G01N21/39 , G01N2021/399
Abstract: 本发明提供了一种通过使不同频率的第一和第二激光束穿过样本、利用吸收光谱法来检测样本的同位素比的方法和装置。使用了两个IR吸收室,第一IR吸收室包含同位素比已知的参考气体,第二IR吸收室包含同位素比未知的样本。可以使用交错器或反射斩光器,使得当激光频率被扫描时,交替地检测样本室的吸收和参考室的吸收。这确保了连续地校准该装置并且在使用相敏检测时可以丢弃基线噪声。
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公开(公告)号:CN102027342A
公开(公告)日:2011-04-20
申请号:CN200980117280.1
申请日:2009-05-07
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01J3/0205 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0243 , G01J3/0259 , G01J3/0262 , G01J3/04 , G01J3/18 , G01J3/2803 , G02B7/027 , H01L31/18
Abstract: 本发明提供一种高可靠性的分光模块。在本发明所涉及的分光模块(1)中,向分光部(4)行进的光L1在通过光通过孔(50)的时候,穿过朝着基板(2)侧变得越来越窄的光入射侧部(51),只有入射到以与光入射侧部(51)的底面(51b)相对的形式形成的光出射侧部(52)的光从光出射开口(52a)出射。为此,入射到光入射侧部(51)的侧面(51c)或者底面(51b)的杂散光M被反射到与光出射侧部(52)相反的一侧,所以能够抑制杂散光入射到光出射侧部(52)。因此,能够提高分光模块(1)的可靠性。
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