公开(公告)号：CN106595863A

公开(公告)日：2017-04-26

申请号：CN201611240513.5

申请日：2016-12-29

Applicant: 中国科学院光电技术研究所

Inventor： 范真涛 ,  汤媛媛 ,  张雨东 ,  魏凯

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0237

Abstract: 本发明公开了一种提高液晶可调谐滤波器光谱重建精度和分辨率的方法，该方法利用的装置包括成像目标(1)、准直系统(2)、液晶可调谐滤波器(LCTF)(3)、成像透镜(4)和探测器阵列(5)，该方法包括如下步骤：1)设定液晶可调谐滤波器非均匀采样点的波长；2)获取液晶可调谐滤波器成像光谱数据，并进行预处理；3)建立液晶可调谐滤波器非均匀采样点的光谱混叠函数模型；4)结合Richardson‑Lucy算法进行光谱重建。本发明的方法有效地提高了光谱的分辨率，光谱特征峰的位置精度和幅度精度。

公开(公告)号：CN106124054A

公开(公告)日：2016-11-16

申请号：CN201610436387.4

申请日：2016-06-20

Applicant: 中国船舶重工集团公司第七一七研究所

Inventor： 张文君 ,  陈生奇 ,  侯绿 ,  张智文 ,  唐耿彪 ,  张国伟

IPC: G01J3/50 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/50 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0294

Abstract: 本发明涉及一种大幅面光谱分光成像测色装置，它包括光源、分光成像主机、机柜、PC机、光学平台；所述光源为45°/0°照明，分光成像主机包括扩束光路、LCTF液晶可调谐滤波器、中继光路和CCD探测器。本发明装置优点是：可应用于测量大幅面的色彩样品，在RGB显示器上实现彩色图像的可视化再现；测量方式属于面测量，在保证测量精度的前提下提高了工作效率；应用面广，包括适用于各种高精度的色彩复制场合。

公开(公告)号：CN105745527A

公开(公告)日：2016-07-06

申请号：CN201480047106.5

申请日：2014-08-04

Applicant: 热电科学仪器有限公司

Inventor： J·M·考菲

IPC: G01N21/03 ,  G01N21/15

CPC classification number: G01N21/35 ,  G01J3/0237 ,  G01N21/0303 ,  G01N21/15 ,  G01N2201/0668

Abstract: 本发明由此涉及一种改变来自分光光度计(9)的光必须行进通过的样本中的光程长度的自动化系统(200)。此类布置允许用户容易地改变所述光程长度，同时还提供给所述用户一种清洁且准备用于光询问的透射单元的容易的方式。此类路径长度控制可以通过可编程控制系统自动地控制以按需要快速地收集和存储来自不同路径长度的数据以用于不同的光谱分析。此外，所述系统利用经配置楔形窗口(5,5')来最佳地最小化导致在不同波长处的透射的周期性变化(通常描述为“通道光谱”)的光的反射。如在本文中呈现，与考虑参考光谱的所有可能组合相比，此系统能够以少得多的计算步骤和更大的速度返回最佳匹配光谱。

公开(公告)号：CN104833424A

公开(公告)日：2015-08-12

申请号：CN201510064791.9

申请日：2015-02-06

Applicant: 波音公司

Inventor： 布赖恩·J·蒂洛森 ,  珍妮弗·K·贝尔尼

IPC: G01J4/00

CPC classification number: G01J4/04 ,  B64D47/08 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/2823 ,  G01J2003/2826

Abstract: 本公开涉及一种用于测量图像中的偏振光的系统和方法，特别是涉及一种能够使用有或者没有偏振滤光器的单个照相机采集偏振测定数据的系统。在使用偏振滤光器时，数据获取方法包括：(1)操纵飞行器(或者其他交通工具)以在捕获图像时在不同的方向定位偏振滤光器(和照相机)，(2)彼此配准不同的图像，和(3)计算图像中的关注的点的偏振测定值(诸如斯托克斯参数)。在未使用偏振滤光器时，数据获取方法包括操纵飞行器(或者其他交通工具)以在捕获图像时在不同的方向定位照相机然后进行相同的操作(2)和(3)。这些方法通过在不同的角度拍摄多个照相机图像来测量给定的场景中的偏振的量。

公开(公告)号：CN104718440A

公开(公告)日：2015-06-17

申请号：CN201380035028.2

申请日：2013-07-03

Applicant: 住友电气工业株式会社

Inventor： 田中正人 ,  平野充遥 ,  祖川伊知郎

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/36 ,  G01N21/17

CPC classification number: G01J3/0237 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/027 ,  G01J3/1804 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/2823 ,  G01N21/4795

Abstract: 调整分光成像装置的方法调整准直透镜、衍射光栅、聚光透镜和阵列型光接收部之间的相对布置关系，以在单色光输入至分光成像装置时使以下表达式(1)的值针对来自各个光接收传感器(Pn)的输出值(fn)而最大化，[表达式1](其中，α＞1，以及n为等于或大于1且等于或小于N的各整数)。

公开(公告)号：CN104704333A

公开(公告)日：2015-06-10

申请号：CN201380052250.3

申请日：2013-10-02

Applicant: 国立大学法人香川大学

Inventor： 石丸伊知郎

IPC: G01J3/45 ,  G01J3/453 ,  G01N21/27

CPC classification number: G01J3/45 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/4531 ,  G01J3/4532 ,  G01N2021/3595

Abstract: 本发明的分光特性测量装置具备：分割光学系统，其将从位于被测量物的测量区域内的多个测量点分别发出的测量光束分割为第一测量光束和第二测量光束；成像光学系统，其使第一测量光束与第二测量光束发生干涉；光程差赋予单元，其对第一测量光束和第二测量光束之间赋予连续的光程差分布；检测部，其检测干涉光的光强度分布；处理部，其基于由检测部检测出的干涉光的光强度分布来求出被测量物的测量点的干涉图，通过对该干涉图进行傅立叶变换来获取光谱；共轭面成像光学系统，其配置在被测量物与分割光学系统之间，具有与该分割光学系统共用的共轭面；以及周期性赋予单元，其配置于共轭面，对从多个测量点发出的测量光束之间附加周期性。

公开(公告)号：CN102204038B

公开(公告)日：2013-07-10

申请号：CN200980142619.3

申请日：2009-10-24

Applicant: 西默股份有限公司

Inventor： E·菲格罗亚 ,  W·N·帕特洛 ,  J·M·阿尔格特斯

IPC: H01S3/10

CPC classification number: H01S3/08009 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/027 ,  G01J3/06 ,  G01J3/14 ,  G01J3/18 ,  G01J2003/1208 ,  G02B5/1828 ,  H01S3/08004 ,  H01S3/1055 ,  H01S3/1067

Abstract: 一种带宽选择的机构，包括色散光学元件，该色散光学元件具有包括色散反射面的本体，该色散反射面包括沿着色散光学元件的反射面沿纵向轴方向延伸的入射区域。该本体还包括第一端块和第二端块，第一端块设置在本体的第一纵向端上，而第二端块设置在本体的第二纵向端上，第二纵向端与第一纵向端相对。该带宽选择机构还包括安装在色散光学元件第二面上的第一致动器，所述第二面与反射面相反，第一致动器具有联接到第一端块的第一端和联接到第二端块的第二端，第一致动器可操作而对第一端块和第二端块施加相等而相反的力。

公开(公告)号：CN103180699A

公开(公告)日：2013-06-26

申请号：CN201180051362.8

申请日：2011-07-26

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 原吉宏

IPC: G01J3/45

CPC classification number: G01J3/45 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/4535 ,  G02B26/0858

Abstract: 在分光测定前的粗调工序中，使移动镜移动（＃11），将由4分割传感器接收到移动镜的反射光与固定镜的反射光的干涉光时的各分割元件的输出相加，来检测干涉光的对比度的变化（＃12），并且基于该对比度的变化，检测两反射光的相对倾斜量（＃13），对初始倾斜误差进行修正（＃14）。另一方面，在分光测定前的微调工序中，基于由4分割传感器接收到两反射光的干涉光时的各分割元件的输出的相位差，检测两反射光的相对倾斜量以及倾斜方向，对初始倾斜误差进行修正。

公开(公告)号：CN101636645B

公开(公告)日：2012-06-06

申请号：CN200880000512.0

申请日：2008-06-10

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 柴山胜己 ,  能野隆文 ,  铃木智史 ,  H·泰希曼 ,  D·希勒 ,  U·施塔克

IPC: G01J3/02

CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0291

Abstract: 在与衍射层(8)一体地形成的周缘部(11)的平面(11a)形成有对准标记(12a、12b、12c、12d)，在将透镜部(7)安装于基板(2)时，通过相对于基板(2)对这些对准标记(12a、12b、12c、12d)进行对位，从而能够相对于光检测元件(4)的光检出部(4a)正确地对准衍射层(8)，不受例如透镜部(7)的曲率半径的误差等的影响。尤其是，通过在平面(11a)形成对准标记(12a、12b、12c、12d)，从而能够通过图像识别来正确地检测该对准标记(12a、12b、12c、12d)的位置，于是能够进行正确的对准。

公开(公告)号：CN102171545A

公开(公告)日：2011-08-31

申请号：CN200980139174.3

申请日：2009-09-28

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： E·J·梅杰尔 ,  J·卢布

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/51 ,  G01J3/02 ,  G02B5/30 ,  G01J3/12 ,  G02F1/137

CPC classification number: G01J3/2803 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/12 ,  G01J3/32 ,  G01J3/36 ,  G01J3/505 ,  G01J3/513 ,  G01J2003/1213 ,  G02B5/201 ,  G02B5/3016 ,  G02F1/13718 ,  G02F2001/13775

Abstract: 本发明涉及用于制造光谱检测器的方法，该光谱检测器包括光电检测器阵列和胆甾型液晶材料，用于测量电磁频谱的部分上的光特性。通过以受控方式在胆甾型液晶材料上的不同位置处将胆甾液晶材料暴露于不同曝光强度或曝光时间的紫外辐射，可以获得胆甾型液晶材料的大体上各自具有其自身的光学透射的多个部分。本发明还涉及通过本发明的方法制造的光谱检测器。