激光诱导击穿光谱分析仪
    61.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103210303A

    公开(公告)日:2013-07-17

    申请号:CN201180054843.4

    申请日:2011-09-15

    Abstract: 一种激光诱导击穿光谱(LIBS)分析仪(10)包括光学路径P(由虚线P1和点划线P2示出)和自动聚焦(或跟踪)系统(120。光学路径P将从激光器(14)发射的激光束聚焦在要由分析仪(10)分析的样品S的一部分上,并将在被激光束照射时由样品S发射的辐射聚焦到检测器(16)。自动聚焦系统(12)能够改变光学路径P的长度,以保持激光束的焦点(18)与样品S之间不变的空间关系(即,距离);以及,保持的检测器(16)不变的瞬间视场(IFOV)在激光器的焦点上。

    手持式颜色测量装置
    62.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102735341A

    公开(公告)日:2012-10-17

    申请号:CN201210090066.5

    申请日:2012-03-30

    Abstract: 一种手持式颜色测量装置,包括具有光电测量单元的壳体。光电测量单元包括用于接收测量光的光学矩阵和暴露于测量光下的传感器矩阵,传感器矩阵将测量光转换为相应的电测量信号,处理这些测量信号以形成数字测量数据。测量单元包括非球面的输入透镜、限制了入射角范围的孔、去极化散射器、传感器透镜以及至少三个对不同光谱范围敏感的使用了颜色滤波器的光电传感器组成。孔基本上位于输入透镜的焦平面上,并且光散射器紧邻孔并位于传感器透镜的焦平面上。滤波器和传感器设置成靠近光轴,并基本上暴露于平行的测量光下。滤波器配置为根据CIE的三色值XYZ的光谱特征。对于环境光测量,可在输入透镜的前方设置额外的散射器。

    物体的测色方法以及测色装置

    公开(公告)号:CN101405586A

    公开(公告)日:2009-04-08

    申请号:CN200780010057.8

    申请日:2007-03-23

    Inventor: 高木淳

    Abstract: 一种物体的测色方法,包括:参考色测定工序,在规定的测定环境下,采用光源色测定器(5),在未将测定用光源照射于参考色部的情况下,测定从该参考色部向测定方向发出的光的分光放射亮度或者三刺激值、获取参考色测定值;对象部测定工序,在规定的测定环境下,采用光源色测定器(5),在未将测定用光源照射于测定对象部的情况下,测定从该测定对象部向测定方向发出的光的分光放射亮度或者三刺激值、获取对象部测定值;和色确定工序,根据对象部测定值相对于参考色测定值的比,通过运算求出测定对象部的颜色。即便在对像含有荧光材料的物体那样反射率由于光源的种类而变化的物体的颜色进行测定的情况下,也能够正确测定出该物体的颜色。

    一种几何配准测试装置和方法

    公开(公告)号:CN107727232A

    公开(公告)日:2018-02-23

    申请号:CN201711000314.1

    申请日:2017-10-24

    CPC classification number: G01J3/2823 G01J3/0289 G01J2003/2866

    Abstract: 本发明公开了一种几何配准测试装置和方法,特别适用于推帚式多单机外拼接成像光谱仪的测试。该装置由平行光管、移动靶标、支撑台和一维转折组件组成。该测试装置通过控制一维转台的旋转和平行光管焦面处的移动靶标的移动,进行推帚式多单机外拼接成像光谱仪的几何配准测试,通过数据处理后,得到多单机的几何配准关系。本发明用一维转台和平行光管焦面处的移动靶标替代了现行方法中的二维转台,克服了常用方法中对二维转台的精度和承重等指标要求高的问题,为推帚式多单机成像光谱仪提供了一种简易、高精度、高效率的几何配准测试方法。本发明适用于机载或星载对地观测多单机成像光谱仪的几何配准测试,也适用于多单机成像仪的几何配准测试。

    一种基于线阵CMOS全谱扫描光谱仪的对光方法

    公开(公告)号:CN107462326A

    公开(公告)日:2017-12-12

    申请号:CN201710623746.1

    申请日:2017-07-27

    Inventor: 刘召贵 张明亮

    CPC classification number: G01J3/0289

    Abstract: 本发明公开了一种基于线阵CMOS全谱扫描光谱仪的对光方法,其中光谱仪包括,激发光源、窗镜、聚光镜、入射狭缝、光栅、光学底板、汞灯、光谱采集处理系统和计算机控制处理系统,其步骤包括:a、调整激发光源位置,b、调节光栅位置,c、调节入缝位置和d、校验谱线。由此根据本发明,CMOS采集系统可以实现全谱扫描,工艺简单,使仪器体积大大缩小,降低了材料成本,调光步骤变得简单,效率变高。

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