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公开(公告)号:CN103210303A
公开(公告)日:2013-07-17
申请号:CN201180054843.4
申请日:2011-09-15
Applicant: 技术信息有限公司
CPC classification number: G01N21/63 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/0289 , G01J3/443 , G01N21/718
Abstract: 一种激光诱导击穿光谱(LIBS)分析仪(10)包括光学路径P(由虚线P1和点划线P2示出)和自动聚焦(或跟踪)系统(120。光学路径P将从激光器(14)发射的激光束聚焦在要由分析仪(10)分析的样品S的一部分上,并将在被激光束照射时由样品S发射的辐射聚焦到检测器(16)。自动聚焦系统(12)能够改变光学路径P的长度,以保持激光束的焦点(18)与样品S之间不变的空间关系(即,距离);以及,保持的检测器(16)不变的瞬间视场(IFOV)在激光器的焦点上。
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公开(公告)号:CN102735341A
公开(公告)日:2012-10-17
申请号:CN201210090066.5
申请日:2012-03-30
Applicant: 爱色丽欧洲有限公司
CPC classification number: G01J3/506 , G01J3/0205 , G01J3/0216 , G01J3/0224 , G01J3/0262 , G01J3/0272 , G01J3/0289 , G01J3/513
Abstract: 一种手持式颜色测量装置,包括具有光电测量单元的壳体。光电测量单元包括用于接收测量光的光学矩阵和暴露于测量光下的传感器矩阵,传感器矩阵将测量光转换为相应的电测量信号,处理这些测量信号以形成数字测量数据。测量单元包括非球面的输入透镜、限制了入射角范围的孔、去极化散射器、传感器透镜以及至少三个对不同光谱范围敏感的使用了颜色滤波器的光电传感器组成。孔基本上位于输入透镜的焦平面上,并且光散射器紧邻孔并位于传感器透镜的焦平面上。滤波器和传感器设置成靠近光轴,并基本上暴露于平行的测量光下。滤波器配置为根据CIE的三色值XYZ的光谱特征。对于环境光测量,可在输入透镜的前方设置额外的散射器。
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公开(公告)号:CN102575959A
公开(公告)日:2012-07-11
申请号:CN201080046506.6
申请日:2010-10-11
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01J3/12 , F21K9/233 , F21V23/0442 , F21Y2101/00 , F21Y2113/13 , F21Y2115/10 , G01J1/0266 , G01J1/0488 , G01J1/06 , G01J1/32 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0289 , G01J3/28 , G01J3/32 , G01J3/36 , G01J3/51 , G01J3/513 , G01J2003/1213 , G01J2003/1282 , G02B1/005 , G02B5/20 , G02B19/0028 , G02B19/0066 , G02B19/0085
Abstract: 本发明涉及用于检测接收光的光谱成分的光谱检测设备(100),其中该光谱检测设备(100)包括布置为过滤接收光并输出具有在预定波长范围内的波长的光的滤光结构(110);和布置为检测由滤光结构(110)输出的光的光传感器(120),其中滤光结构(110)是可变的以允许所述预定波长范围随着时间而变化。该布置使得可以以低成本提供紧凑的光谱检测设备。
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公开(公告)号:CN101925806A
公开(公告)日:2010-12-22
申请号:CN200980102845.9
申请日:2009-01-26
Applicant: 瑞尼斯豪公司
Inventor: 伊恩·保罗·海沃德 , 布赖恩·约翰·爱德华·史密斯
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0289 , G01J3/44 , G01N21/65 , G01N2021/656 , G01N2201/103 , G01N2201/105
Abstract: 在一种拉曼光谱仪中,激发光作为线聚焦(38)被聚焦在样品(26)上。来自所述线聚焦中的点的光谱在CCD检测器(34)上的行46中发生色散,所述CCD检测器(34)具有二维的像素阵列。线聚焦在相对于样品的方向Y上发生纵向移动。同时并且同步地,电荷在CCD中在平行方向Y’中移动,从而来自样品中给定点的数据继续积累。为了在快速的、低分辨率的扫描期间在X方向上提供均化处理,线聚焦以Z字形方式在样品上在边界线60之间扫过。
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公开(公告)号:CN101408458A
公开(公告)日:2009-04-15
申请号:CN200810168100.X
申请日:2004-03-31
Applicant: 佐勒技术公司
Inventor: 安德鲁·D.·萨匹 , 詹姆斯·豪厄尔 , 亨里克·霍夫范德 , B.·P.·马斯特森
CPC classification number: G01J3/36 , G01J3/02 , G01J3/0202 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/0237 , G01J3/024 , G01J3/0289 , G01J3/0297 , G01J3/108 , G01J3/1809 , G01J5/601 , G01J2003/104 , G01J2003/423 , G01N21/359 , G01N21/39 , G01N2021/399 , G02B6/14
Abstract: 传感设备,包括多于一个具有选择激光频率的二极管激光器、与上述二极管激光器的输出光耦合的复用器而此复用器再光耦合投射侧光纤。复用的激光经此投射侧光纤传至与一可以是燃煤或燃气发电设备的燃烧室或锅炉的处理室有效结合的投射光学件。此投射光学件定向成将复用激光输出投射通过此处理室。此外,由此处理室有效定向的是一与该投射光学件光通信以接收投射通过此处理室的复用激光输出的捕集光学件。此捕集光学件光耦合一将此复用激光输出传给分用器的光纤。此分用器分用上述激光并将所选激光频率的光光耦合到一对此所选激光频率之一敏感的探测器。
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公开(公告)号:CN101405586A
公开(公告)日:2009-04-08
申请号:CN200780010057.8
申请日:2007-03-23
Applicant: 丰田自动车株式会社
Inventor: 高木淳
IPC: G01J3/46
CPC classification number: G01J3/52 , G01J3/02 , G01J3/0267 , G01J3/027 , G01J3/0278 , G01J3/0289 , G01J3/0291 , G01J3/46 , G01J3/524 , G01J2003/468
Abstract: 一种物体的测色方法,包括:参考色测定工序,在规定的测定环境下,采用光源色测定器(5),在未将测定用光源照射于参考色部的情况下,测定从该参考色部向测定方向发出的光的分光放射亮度或者三刺激值、获取参考色测定值;对象部测定工序,在规定的测定环境下,采用光源色测定器(5),在未将测定用光源照射于测定对象部的情况下,测定从该测定对象部向测定方向发出的光的分光放射亮度或者三刺激值、获取对象部测定值;和色确定工序,根据对象部测定值相对于参考色测定值的比,通过运算求出测定对象部的颜色。即便在对像含有荧光材料的物体那样反射率由于光源的种类而变化的物体的颜色进行测定的情况下,也能够正确测定出该物体的颜色。
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公开(公告)号:CN109791074A
公开(公告)日:2019-05-21
申请号:CN201780059641.6
申请日:2017-08-17
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: G01J3/26 , G01J3/0235 , G01J3/0289 , G01J3/2823 , G01J2003/1221 , G01J2003/1234
Abstract: 本发明涉及一种光学传感器设备,所述光学传感器设备具有线性可变滤波器(10)和探测装置(18),所述线性可变滤波器具有预给定的轴线(12),所述线性可变滤波器(10)的透射波长沿着所述轴线在由最小透射波长和最大透射波长限界的值范围以内线性地变化;所述探测装置具有探测面(20),在所述探测面上如此构造有传感器像素(22)的阵列,使得由所述传感器像素(22)中的每一个能够输出或量取关于射到相应的传感器像素(24)上的光强度的传感器信号(24),其中,所述探测装置(18)相对于所述线性可变滤波器(10)如此布置,使得透射穿过所述线性可变滤波器(10)的光束射到所述探测面(20)上。本发明同样涉及一种用于调节光学传感器设备的光谱分辨率的方法。此外,本发明涉及一种光谱测量方法。
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公开(公告)号:CN108027279A
公开(公告)日:2018-05-11
申请号:CN201680045129.1
申请日:2016-06-01
Applicant: 瑟斯技术公司
CPC classification number: G01J3/44 , G01J1/0266 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/0262 , G01J3/0289 , G01J2003/4424
Abstract: 提供用于分析来自由电磁辐射照射的物体的非弹性散射电磁辐射的光谱系统(10)。系统包括可调透镜组件(13),该可调透镜组件具有设置在电磁辐射源(11)和物体(0)之间的波束路径中的可调透镜,并被布置为将从电磁辐射源发射的电磁辐射波束投射到物体的区域,并接收和校准来自所述物体的非弹性散射电磁辐射。基于由至少第一探测器(121)检测到的电磁辐射,控制单元(14)能够作出改变可调透镜的操作设置的决定。
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公开(公告)号:CN107727232A
公开(公告)日:2018-02-23
申请号:CN201711000314.1
申请日:2017-10-24
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/0289 , G01J2003/2866
Abstract: 本发明公开了一种几何配准测试装置和方法,特别适用于推帚式多单机外拼接成像光谱仪的测试。该装置由平行光管、移动靶标、支撑台和一维转折组件组成。该测试装置通过控制一维转台的旋转和平行光管焦面处的移动靶标的移动,进行推帚式多单机外拼接成像光谱仪的几何配准测试,通过数据处理后,得到多单机的几何配准关系。本发明用一维转台和平行光管焦面处的移动靶标替代了现行方法中的二维转台,克服了常用方法中对二维转台的精度和承重等指标要求高的问题,为推帚式多单机成像光谱仪提供了一种简易、高精度、高效率的几何配准测试方法。本发明适用于机载或星载对地观测多单机成像光谱仪的几何配准测试,也适用于多单机成像仪的几何配准测试。
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公开(公告)号:CN107462326A
公开(公告)日:2017-12-12
申请号:CN201710623746.1
申请日:2017-07-27
Applicant: 江苏天瑞仪器股份有限公司
IPC: G01J3/02
CPC classification number: G01J3/0289
Abstract: 本发明公开了一种基于线阵CMOS全谱扫描光谱仪的对光方法,其中光谱仪包括,激发光源、窗镜、聚光镜、入射狭缝、光栅、光学底板、汞灯、光谱采集处理系统和计算机控制处理系统,其步骤包括:a、调整激发光源位置,b、调节光栅位置,c、调节入缝位置和d、校验谱线。由此根据本发明,CMOS采集系统可以实现全谱扫描,工艺简单,使仪器体积大大缩小,降低了材料成本,调光步骤变得简单,效率变高。
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