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    Verfahren und optische Anordnung zum Manipulieren und Abbilden einer mikroskopischen Probe
    71.
    发明专利
    Verfahren und optische Anordnung zum Manipulieren und Abbilden einer mikroskopischen Probe 未知

    公开(公告)号：DE102013213781A1

    公开(公告)日：2014-09-25

    申请号：DE102013213781

    申请日：2013-07-15

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： KNEBEL WERNER ,  SIECKMANN FRANK ,  FOUQUET WERNHER

    IPC: G01N21/64 ,  G02B21/00 ,  G02B21/16

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren, bei dem eine Probe mit Manipulationslicht manipuliert wird und bei dem die Probe mittels SPIM-Technik unter Beleuchtung mit Beleuchtungslicht, insbesondere Anregungslicht zur Fluoreszenzanregung, in Form eines Beleuchtungslichtblatts abgebildet wird. Das Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass sowohl das Manipulationslicht, als auch das Beleuchtungslicht durch dasselbe Objektiv, das in einer Objektivarbeitsposition angeordnet ist, oder durch unterschiedliche Objektive, die nacheinander in eine Objektivarbeitsposition gebracht werden, fokussiert wird und dass das Manipulationslicht und/oder das Beleuchtungslicht nach dem Durchlaufen des Objektivs mittels einer Umlenkeinrichtung derart umgelenkt wird, dass es sich unter einem von Null Grad verschiedenen Winkel zur optischen Achse des Objektivs ausbreitet.

    74.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE502004008954D1

    公开(公告)日：2009-03-19

    申请号：DE502004008954

    申请日：2004-09-23

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： ULRICH HEINRICH ,  KNEBEL WERNER ,  MOELLMANN KYRA ,  EUTENEUER PETER

    IPC: G02B21/00 ,  G02B21/06 ,  G02B21/08

    Abstract: A microscope comprises an objective and a light source that produces an illumination light beam-in particular for evanescent illumination of a sample, which exhibits a focus in the plane of the objective pupil. To adjust the penetration depth, an adjustment mechanism is provided with which the spatial position of the focus within the plane of the objective pupil may be changed.

    77.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE102005008196A1

    公开(公告)日：2006-08-31

    申请号：DE102005008196

    申请日：2005-02-22

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： RIEDMANN JUERGEN ,  KNEBEL WERNER ,  KUSCHEL LIOBA

    IPC: G01N21/64

    Abstract: A method for recognizing dark states during the spectroscopic or microscopic examination of fluorescent specimens includes varying an intensity distribution of excitation light by varying an excitation/illumination volume over a plurality of mutually independent measurements. A determination is made as to whether observed time constants change between the measurements. The existence of a dark state is inferred where the observed time constants are unchanged between the measurements.

    79.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE102004016253B4

    公开(公告)日：2006-02-23

    申请号：DE102004016253

    申请日：2004-04-02

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： KNEBEL WERNER

    IPC: G02B21/00

    Abstract: A scanning microscope including a light source for generating an illumination light beam, a beam deflection apparatus for guiding solely the illumination light beam via an illumination light path over and/or through a sample, at least one objective for focusing the illumination light beam onto and/or into the sample, components for generating a manipulation illumination pattern, components for imaging the manipulation illumination pattern onto and/or into the sample via a manipulation light path, and a detection device that receives detected light emanating from the sample. The manipulation light path omits the beam deflection apparatus and is separate from the illumination light path.

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