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公开(公告)号：US3482448A
公开(公告)日：1969-12-09
申请号：US3482448D
申请日：1966-04-13
Applicant: EUROP DE MATERIELS SPECIAUX SO
Inventor： GAFFARD JEAN PAUL
CPC classification number: G01J5/04 , G01J5/0022 , G01J5/08 , G01J5/0806 , G01J5/0812 , G01J5/0831 , G01J5/0834 , G01J2005/066 , G01K5/00
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公开(公告)号：US3022374A
公开(公告)日：1962-02-20
申请号：US78127847
申请日：1947-10-22
Applicant: BELL TELEPHONE LABOR INC
Inventor： BRATTAIN WALTER H , WADE NEILL G
IPC: G01J5/00
CPC classification number: G01J5/02 , G01J5/025 , G01J5/04 , G01J5/047 , G01J5/24 , G01J2005/0081 , G01J2005/066
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73.发明申请VERFAHREN ZUR KONTAKTFREIEN ERMITTLUNG EINER TEMPERATUR SOWIE INFRAROT-MESSSYSTEM 审中-公开用于非接触测定温度和红外测量系统的方法
公开(公告)号：WO2018001739A1
公开(公告)日：2018-01-04
申请号：PCT/EP2017/064551
申请日：2017-06-14
Applicant: ROBERT BOSCH GMBH
Inventor： FRANK, Michael , SENZ, Volkmar , BADEJA, Michael , RUMBERG, Axel , KRUEGER, Michael , DITTMER, Helge
CPC classification number: G01J5/0265 , G01J5/023 , G01J5/024 , G01J5/0245 , G01J5/06 , G01J5/10 , G01J5/20 , G01J2005/0077 , G01J2005/066 , G01J2005/202 , H04N5/33
Abstract: Das vorgeschlagene Verfahren zur kontaktfreien Ermittlung einer Temperatur einer Oberfläche (22), insbesondere zur kontaktfreien Ermittlung einer Temperaturverteilung einer Oberfläche (22), geht aus von einem Infrarot-Messsystem (10), das zumindest aufweist: ein Infrarot-Detektorarray (36) mit einem Detektorarray-Substrat (72) und mit einer Mehrzahl von Messpixeln (62), die jeweils mit einer ersten thermischen Wärmeleitfähigkeit λ MP (120) an das Detektorarray-Substrat (72) angebunden sind, wobei die Messpixel (62) für Infrarotstrahlung empfindlich sind und jeweils ein Messsignal zur Ermittlung eines von einer Intensität der einfallenden Infrarotstrahlung abhängigen Temperaturmesswerts T MP (66) bereitstellen, und mit einer Mehrzahl von Referenzpixeln (64), die jeweils mit einer zweiten thermischen Wärmeleitfähigkeit λ BP (122) an das Detektorarray-Substrat (72) angebunden sind, und die jeweils ein Messsignal zur Ermittlung eines Temperaturmesswerts T BP (68) bereitstellen, und wobei das Verfahren zumindest folgende Schritte umfasst: Bestimmen der Temperaturmesswerte T BP (68) einer Mehrzahl von Referenzpixeln (64); Bestimmen der Temperaturmesswerte T MP (66) einer Mehrzahl von Messpixeln (62); Korrigieren von Temperaturmesswerten T MP (66) um jeweils eine Pixelzugehörige Temperatur-Driftkomponente Tdrift (46). Erfindungsgemäß sind die Referenzpixel (64) als für Infrarotstrahlung im Wesentlichen unempfindliche Blindpixel realisiert, wobei die zweite thermische Wärmeleitfähigkeit λ BP (122) größer ist als die erste thermische Wärmeleitfähigkeit λ MP (120) und die Temperatur-Driftkomponenten Tdrift (46) unter Verwendung von Temperaturmesswerten T BP (68) bestimmt werden. Ferner wird ein mit dem Verfahren betriebenes Infrarot-Messsystem (10) vorgeschlagen.
Abstract translation:
用于表面BEAR表面（22）的温度的非接触确定所提出的方法，特别是用于表面BEAR表面（22）的温度分布的非接触测定是基于红外线的测量系统（10）上， 至少包括：红外探测器阵列（36），其具有探测器阵列基板（72）并且具有多个测量像素（62），每个测量像素具有第一热导率λin， MP 的的 （120）连接到所述检测器阵列基板（72），其中所述测量像素（62），用于导航使用ř红外辐射是敏感的，并在每一种情况下的测量信号 确定强度＆AUML中的一个;所述入射的红外辐射BEAR依赖性温度值的DEP吨的Ť的<子>的 MP 的提供（66），和（与多个参考像素64 ），每个具有第二热导率λBP（122） 被连接到检测器阵列基板（72），并且其中的每一个用于确定温度值的测量信号的Ť的<子>的 BP 的的 的 提供（68），并且其中所述方法至少包括以下步骤：确定温度读数的Ť的<子>的 BP 的（68）的多个参考像素（64） ; 确定多个测量像素（62）的温度读数T MAX（66）。 通过一个像素相关的温度漂移分量Tdrift（46）校正温度读数T MAX（66）。 发明＆AUML;大街 参考像素（64）为f导航用途实现ř红外辐射基本上不敏感伪像素，其中，所述第二热W＆AUML; rmeleitf＆AUML;能力的λ的<子>的 BP 的 < （122）大于第一热导率λMP（120） 和使用温度测量值的温度漂移分量Tdrift（46）Ť的<子>的 BP 的 <子> （68）被确定。 进一步提出的是由该方法操作的红外测量系统（10）。
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74.发明申请VERFAHREN ZUR KONTAKTFREIEN ERMITTLUNG EINER TEMPERATUR SOWIE INFRAROT-MESSSYSTEM 审中-公开用于非接触测定温度和红外测量系统的方法
公开(公告)号：WO2018001738A1
公开(公告)日：2018-01-04
申请号：PCT/EP2017/064527
申请日：2017-06-14
Applicant: ROBERT BOSCH GMBH
Inventor： FRANK, Michael , SENZ, Volkmar , BADEJA, Michael , RUMBERG, Axel , KRUEGER, Michael , DITTMER, Helge
CPC classification number: G01J5/06 , G01J5/023 , G01J5/024 , G01J5/0245 , G01J5/0265 , G01J5/0834 , G01J5/10 , G01J2005/066 , G01J2005/106
Abstract: Das vorgeschlagene Verfahren zur kontaktfreien Ermittlung einer Temperatur einer Oberfläche (22), insbesondere zur kontaktfreien Ermittlung einer Temperaturverteilung einer Oberfläche (22), geht aus von einem Infrarot-Messsystem (10, 10a), das zumindest aufweist: ein Infrarot-Detektorarray (36) mit einem Detektorarray-Substrat (72). Erfindungsgemäß - sind zumindest eine Referenzpixel (65) und Blindpixel (64) vorgesehen, die für Infrarotstrahlung im Wesentlichen unempfindlich sind, wobei die erste thermische Wärmeleitfähigkeit λ RP (123) des Referenzpixels und die dritte thermische Wärmeleitfähigkeit λ BΡ (122) des Blindpixels jeweils grösser sind als die zweite thermische Wärmeleitfähigkeit λ ΜΡ (120) des Messpixels, und - werden Temperaturmesswerte T MP (67) bestimmt, die von einem Referenzsignal U RP des zumindest einen Referenzpixels (65) unabhängig sind, in dem jeweils ein Temperaturmesswert T MP,rel 1 (66) eines ersten Messpixels (62) und ein Temperaturmesswert Τ ΒΡ,rel 1 (68) eines ersten Blindpixels (64) voneinander subtrahiert werden ( T MP = T MP-rel 1 - T BP , rel 1 ), wobei der Temperaturmesswert T MP-rel 1 (66) und der Temperaturmesswert Τ ΒΡ,rel 1 (68) unter Verwendung eines Referenzsignals U RP desselben Referenzpixels (65) ermittelt werden, - werden Temperaturmesswerte T BP (69) bestimmt, die von dem Referenzsignal U RP des zumindest einen Referenzpixels (65) unabhängig sind, indem jeweils ein Temperaturmesswert Τ ΒΡ,rel 1 (68) eines ersten Blindpixels (64) und ein Temperaturmesswert Τ ΒΡ,rel 2 (68) eines zweiten Blindpixels (64) voneinander subtrahiert werden ( T BP = T BP,rel 1 - Τ ΒΡ,rel 2 ), wobei der Temperaturmesswert T BP,rel 1 (68) und der Temperaturmesswert Τ ΒΡ,rel 2 (68) unter Verwendung eines Referenzsignals U RP desselben Referenzpixels (65) ermittelt werden; werden Temperaturmesswerte T MP (67) um jeweils Pixelzugehörige Temperatur-Driftkomponenten T drift (46) korrigiert, wobei die Temperatur-Driftkomponenten T drift (46) unter Verwendung von Temperaturmesswerten T BP (69) und/oder T MP (67) bestimmt werden. Ferner wird ein mit dem Verfahren betriebenes Infrarot-Messsystem (10, 10a) vorgeschlagen.
Abstract translation:
用于表面BEAR表面（22）的温度的非接触确定用于表面BEAR表面（22）的温度分布的非接触确定所提出的方法，特别是基于红外线测量系统（10，10a）的 至少包括：具有探测器阵列基板（72）的红外探测器阵列（36）。 发明＆AUML;大街 - 至少提供一个参考像素（65）和虚拟像素（64）的F导航用途ř红外辐射基本上是不敏感的，其特征在于，所述第一热W＆AUML; rmeleitf BEAR能力λ<子>的 RP 的 参考像素的（123）和所述第三热W＆AUML; rmeleitf BEAR能力λ<子>的Bρ的（122）的虚拟像素的每个GR＆ouml的; SSER比第二热W＆AUML; rmeleitf BEAR能力λ <子>的ΜΡ的（120）所述测量像素，以及 - 温度读数的Ť的<子>的 MP 的（67 ）确定哪个65）独立地与AUML至少一个参考像素（从参考信号的û的<子>的 RP 的的;被ngig，在其中相应的温度值的 Ť <子>的 MP，相对的 1 （66）的第一测量象素（62）和温度测量值的Τ的 <子>的ΒΡ，相对的 1 彼此（68）的第一伪像素（64）的（被减去的Ť的<子> < i> MP =
sub> MP-rel 1 - BP >， <子>的相对的 1 ），所述温度测量值的Ť的<子>的 MP 相对的 1 （66）和所测量的温度值的Τ的<子>的ΒΡ，相对的 1 （68）使用的参考信号的û的<子>的 RP 的，确定 - 是温度读数的 Ť <子>的 BP 的由参考信号确定（69）的 V 的<子>的 RP 的的 的至少一个参考像素（65）独立地BEAR由各自的温度测量值ngig的的Τ的<子>的ΒΡ，相对的 1 第一伪像素（64）和温度测量值的Τ的<子>的ΒΡ，相对的 2 <（68） / SUP被减去>（68）的第二伪像素（64）（Ť的<子>的 BP 的 = Ť的<子的 > BP，相对的 1 - Τ的<子>的ΒΡ，REL （68）和所测量的温度值的Τ的<子>的ΒΡ，相对的 2 使用参考信号U（68）< （65）的相应子像素（RP）;以及相同参考像素（65）的子像素（RP）。 是温度读数的Ť的<子>的 MP 的（67）到每个Pixelzugeh＆ouml;引擎温度漂移分量的Ť的<子>漂移 （67）。 此外，提出了一种使用该方法操作的红外测量系统（10,10a）。 -
75.发明申请VERFAHREN ZUR KONTAKTFREIEN ERMITTLUNG EINER TEMPERATUR SOWIE INFRAROT-MESSSYSTEM 审中-公开用于非接触测定温度和红外测量系统的方法
公开(公告)号：WO2018001734A1
公开(公告)日：2018-01-04
申请号：PCT/EP2017/064505
申请日：2017-06-14
Applicant: ROBERT BOSCH GMBH
Inventor： FRANK, Michael , SENZ, Volkmar , BADEJA, Michael , RUMBERG, Axel , KRUEGER, Michael , DITTMER, Helge
CPC classification number: G01J5/025 , G01J5/0265 , G01J5/06 , G01J5/0834 , G01J5/0859 , G01J5/089 , G01J5/522 , G01J5/62 , G01J2005/0048 , G01J2005/0077 , G01J2005/0081 , G01J2005/065 , G01J2005/066 , G01J2005/526 , H04N5/33 , H04N5/357 , H04N5/3651 , H04N5/3655
Abstract: Das vorgeschlagene Verfahren zur kontaktfreien Ermittlung einer Temperatur einer Oberfläche (22), insbesondere zur kontaktfreien Ermittlung einer Temperaturverteilung einer Oberfläche (22), geht aus von einem Infrarot-Messsystem (10, 10a), das zumindest aufweist: - ein Infrarot-Detektorarray (36) mit einer Mehrzahl von Messpixeln (62), die jeweils ein Messsignal zur Ermittlung eines von einer Intensität der einfallenden Infrarotstrahlung abhängigen Temperaturmesswerts T MP (64) bereitstellen, und - einen Verschlussmechanismus zum Unterbinden eines Einfalls von Infrarotstrahlung auf das Infrarot-Detektorarray (36), wobei das Verfahren zumindest folgende Schritte umfasst: - Bestimmen der Temperaturmesswerte T MP (64) einer Mehrzahl von Messpixeln (62); - Korrigieren von Temperaturmesswerten T MP (64) um jeweils eine Pixel-zugehörige Temperatur-Driftkomponente T drift (46). Erfindungsgemäß wird zumindest zeitweise ein Einfall von Infrarotstrahlung auf das Infrarot-Detektorarray (36) mittels des Verschlussmechanismus (58) des Infrarot-Messsystems (10, 10a) unterbunden, währenddessen Temperaturmesswerte T MP blind (66) ermittelt werden, und werden die Temperatur-Driftkomponenten T drift (46) unter Verwendung von Temperaturmesswerten TMP blind (66) bestimmt. Ferner wird ein mit dem Verfahren betriebenes Infrarot-Messsystem (10, 10a) vorgeschlagen.
Abstract translation:
用于表面BEAR表面（22）的温度的非接触确定用于表面BEAR表面（22）的温度分布的非接触确定所提出的方法，特别是基于红外线测量系统（10，10a）的 至少包括： - ;所述入射的红外辐射BEAR依赖性温度值的Ť的<的DEP吨一个具有多个测量的像素（62），每个具有用于确定强度＆AUML中的一个的测量信号的红外检测器阵列（36） 子系统和用于防止红外辐射在红外探测器阵列（36）上发生的快门机构，该方法至少具有以下内容 步骤包括：确定多个测量像素（62）的温度读数T（MP）（64）;以及 - 修正温度测量Ť的<子>的 MP 的 <子> （64）由一个像素YEARS＆OUML;元温度漂移成分T < sub>漂移（46）。 发明＆AUML;大街 至少暂时，红外辐射到红外探测器阵列（36）由所述红外线测量系统的锁定机构（58）的手段抑制瓦特BEAR的发生率（10，10A），在此期间的温度测量值的Ť的<子>的 MP 的 的盲的被确定（66），并且温度漂移分量的Ť的<子>的 使用温度读数TMP <盲> （66）计算漂移 ， 此外，提出了一种使用该方法操作的红外测量系统（10,10a）。
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Patent Agency Ranking76.发明申请METHOD AND APPARATUS FOR HIGH SENSITIVITY PARTICULATE DETECTION IN INFRARED DETECTOR ASSEMBLIES 审中-公开用于红外探测器组件中高灵敏度颗粒检测的方法和设备
公开(公告)号：WO2017052744A3
公开(公告)日：2017-05-04
申请号：PCT/US2016043758
申请日：2016-07-22
Applicant: RAYTHEON CO
Inventor： MARTIN CHADWICK B , KREMER REX M , TEMKIN JESSE C
CPC classification number: G01J5/043 , G01J5/044 , G01J5/061 , G01J5/522 , G01J2005/066 , G01N21/94 , G01N2021/157
Abstract: A detector assembly (300, 500) includes a dewar chamber (102, 502) having an aperture (108, 510) and an infrared radiation detector (106, 514). The detector assembly also includes a mirror (304, 400, 410, 504) disposed adjacent the aperture of the dewar chamber, where the mirror has a reflective surface (306, 604) and an emitting region (305, 402, 412, 606) facing the aperture. The infrared radiation detector is configured to detect first radiation and second radiation from the mirror. The first radiation originates from at least one relatively cold surface in the dewar chamber and reflects off the reflective surface of the mirror. The second warm radiation originates from at least one relatively warm surface at or behind the emitting region. The infrared radiation detector is also configured to detect an artifact (322, 712, 722, 802) caused by a particle (110) in the dewar chamber that blocks a portion of the first or second radiation.
Abstract translation: 检测器组件（300,500）包括具有孔（108,510）和红外辐射检测器（106,514）的杜瓦瓶室（102,502）。 检测器组件还包括设置在杜瓦室的孔附近的反射镜（304,400,410,504），其中反射镜具有反射表面（306,604）和发射区域（305,402,412,606） 面对光圈。 红外辐射检测器被配置为检测来自反射镜的第一辐射和第二辐射。 第一辐射源于杜瓦室中的至少一个相对较冷的表面并且从反射镜的反射表面反射。 第二温暖辐射源自发射区域处或后面的至少一个相对温暖的表面。 红外辐射检测器还被配置为检测由杜瓦室中的颗粒（110）引起的伪影（322,712,722,802），其阻挡第一或第二辐射的一部分。
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公开(公告)号：JP2017138305A
公开(公告)日：2017-08-10
申请号：JP2017008705
申请日：2017-01-20
Applicant: エクセリタス テクノロジーズ シンガポール プライヴェート リミテッド
Inventor： シルツ,ユルゲン , バーロウ,アーサー,ジョン , シュミット,ウォルフガング
CPC classification number: G01J5/0806 , G01J5/0025 , G01J5/12 , G01J5/14 , G08B13/193 , G01J2005/066
Abstract: 【課題】 被監視空間内の存在および動作を感知するように構成された装置が提示される。 【解決手段】 装置は、熱感知要素において受信されている熱エネルギの量に略比例するレベルに維持される直流出力を生成するように構成された第1の熱感知要素および第2の熱感知要素を備えたデュアル要素アセンブリを含む。レンズアレイ(または同等の光学素子)は要素に結合され、複数の光学的に定義された空間ゾーンからの入射熱エネルギを感知要素へと向ける複数のレンズを有する。電子回路は、デュアル要素アセンブリの結果的な信号と第1の熱感知要素および第2の熱感知要素のそれぞれの個別の出力信号とを読み取るように構成される。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP5335233B2
公开(公告)日：2013-11-06
申请号：JP2007501315
申请日：2005-03-04
Applicant: コミサリア ア レネルジー アトミック エ オ ゼネルジー アルテルナティブCommissariat A L’Energie Atomique Et Aux Energies Alternatives , ユエルイエスUlis
Inventor： ジャン‐ルイ、ウーブリエー‐ビュフェ , ローラン、カルル , クレール、ビアル , ミシェル、ビラン
CPC classification number: G01J5/10 , G01J5/02 , G01J5/024 , G01J5/06 , G01J5/20 , G01J2005/066 , G01J2005/068
Abstract: The process involves simultaneously forming active and passive micro-bolometers (20, 12) on a carrier substrate (16). A reflective screen is formed on a passive micro-bolometer and includes a metallic reflecting layer. Membranes (22) of the micro-bolometers include a thermometric unit and a radiation absorbing unit, and are electrically connected with the substrate through electrodes. - An INDEPENDENT CLAIM is also included for a passive micro-bolometer including a reflective screen.
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公开(公告)号：JPS6125300B2
公开(公告)日：1986-06-14
申请号：JP9470080
申请日：1980-07-11
Applicant: Fujitsu Ltd
Inventor： INOE TAKESHI
CPC classification number: G01J5/02 , G01J5/026 , G01J2005/066
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80.发明公开
公开(公告)号：EP3333557A1
公开(公告)日：2018-06-13
申请号：EP17201803.8
申请日：2017-11-15
Applicant: HENSOLDT Sensors GmbH
Inventor： Barth, Jochen
CPC classification number: G01J5/0806 , F41G7/224 , F41H11/02 , G01J5/0014 , G01J5/025 , G01J5/06 , G01J5/0846 , G01J5/0862 , G01J5/089 , G01J5/60 , G01J2005/065 , G01J2005/066 , G01S3/00 , G01S3/7864 , G01S7/495 , G06K9/00496
Abstract: Die Erfindung betrifft ein IR-optisches System zur Raketenwarnung, umfassend einen IR-Warnsensor zur Detektion von Raketen aufgrund der IR-Signatur ihrer Abgaswolke im mittleren Infrarot, wobei ein zweiter IR-Sensor vorhanden ist, der für die gleiche IR-Signatur der Abgaswolke empfindlich ist, zur Verifizierung der vom IR-Warnsensor detektierten Ziele. Ein Verfahren zur Detektion unter Einsatz des erfindungsgemäßen optischen Systems ist ebenfalls Gegenstand der Patentanmeldung.
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