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公开(公告)号：CN105008878B
公开(公告)日：2017-09-19
申请号：CN201380063826.6
申请日：2013-12-05
Inventor： 雨果·勒米厄 , 塞巴斯蒂安·夏德莱纳 , 大卫·贝利沃-维尔 , 让-弗朗索瓦·格拉韦尔
CPC classification number: G01N21/6486 , G01J3/021 , G01J3/0213 , G01J3/0216 , G01J3/0218 , G01J3/443 , G01J2003/102 , G01N21/6408 , G01N21/6445 , G01N21/645 , G01N21/763 , G01N2021/6419 , G01N2021/6471 , G01N2021/6484 , G01N2201/061
Abstract: 一种探询器件，用于探测样品中分析物产生的发光光线，该样品中的分析物被多种激发光束激发，每一光束具有各自的光谱成分，该探询器件包括多个光源，每个光源产生激发光束；至少一个探测器，用于探测由样品产生的发光光线；以及光学组件，为每个激发光束限定从光源到样品上的共用激发位置的不同的且固定的激发光路并且为发光光线限定从样品上的激发位置到至少一个探测器的共用的发光光路，激发光路径和发光光路在样品的相同侧上，光学组件包括样品侧光学系统，其朝样品投射激发光并收集来自样品的发光光线。
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公开(公告)号：CN106706131A
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201710037344.3
申请日：2017-01-19
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/021 , G01J3/0297 , G01J3/04
Abstract: 本发明公开了一种双缝入射高分辨率成像光谱系统,它由双入射缝、分光子系统以及探测子系统构成，其中分光子系统包含主反射镜、凸面光栅、次反射镜以及校正透镜，探测子系统包含滤光片以及面阵探测器。系统具有高分辨率、快速重访时间、较低成本以及空间系统高集成化。双缝结构使系统实现一次观测同时获得两个目标区域的光谱信息，缩短重访时间；通过主反射镜、凸面光栅、次反射镜同心的设计方法，可以减小系统像差，提高系统分辨率。
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公开(公告)号：CN103261857B
公开(公告)日：2017-05-03
申请号：CN201180061382.3
申请日：2011-12-20
Applicant: 堀场乔宾伊冯公司
Abstract: 本发明涉及用于拉曼光谱学以及用于观察样品（7）的方法和光学设备，所述设备包括光学装置和光学分离装置，所述光学装置用于叠加具有光谱带B0的激励激光束（1）和具有光谱带BV的观察束（2）以便形成组合的激励和观察入射束，所述光学分离装置设置在来自所述样品（7）上的散射的收集束的路径中并且包括能够将所述收集束空间分成第一次级束和两个三级束的第一滤波装置（12）和第二滤波装置（13），所述次级束和所述三级束中的每一个分别包括选自所述激光的光谱带B0、所述观测束的光谱带BV以及所述拉曼散射束的光谱带BR的光谱带。
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公开(公告)号：CN106595854A
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：CN201611139570.4
申请日：2012-06-12
Applicant: 科磊股份有限公司
CPC classification number: G01J3/0259 , G01J1/58 , G01J3/0205 , G01J3/021 , G01J3/0256 , G01J3/0262 , G01J3/36 , G01J2003/1213 , G01J3/12
Abstract: 本申请涉及晶片级光谱仪。本发明涉及一种用于测量光学辐射的特性的传感器设备，所述传感器设备具有衬底及位于所述衬底内在一个或一个以上空间上分离的位置处的低轮廓光谱选择性检测系统。所述光谱选择性检测系统包含以光学方式耦合到对应光学检测器阵列的大体层状波长选择器阵列。应强调，提供本摘要以符合需要将允许搜索者或其它读者快速断定技术性揭示内容的标的物的摘要的规则。提交本摘要是基于以下理解：其将不用于解释或限制权利要求书的范围或含义。
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公开(公告)号：CN106574866A
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201580041617.0
申请日：2015-06-22
Applicant: 卡尔蔡司光谱有限公司
CPC classification number: G01J3/0251 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/0237 , G01J3/0291 , G01J3/08 , G01J3/10 , G01J3/50 , G01J2001/0481 , G01N21/27 , G01N21/4738 , G01N21/474 , G01N21/86 , G01N2021/4754 , G01N2021/8618 , G01N2201/065
Abstract: 本发明涉及一种用于在样本(04、21、42、54)的生产过程中检测样本(04、21、42、54、66)的绝对反射光谱的测量装置。测量装置包括：光源，其用于产生测量光；均化器，其用于产生测量光的均匀的空间照度分布；可移动反射器(6、16、39、52、59、62)和接收器(07、22、37、53)，其用于收集从样本(04、21、42、54)和/或反射器(6、16、39、52)反射的测量光。根据本发明，不仅用于参考测量而且用于样本测量的反射器(6、16、39、52、59、62)定位在观察光路中并且配置在样本(04、21、42、54、66)的与光源的同一侧，以便将反射的测量光导入到接收器(07、22、37、53)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103181753B
公开(公告)日：2016-12-28
申请号：CN201310022851.1
申请日：2004-09-08
Applicant: 通用医疗公司
Inventor： 尹锡贤 , 布雷特·尤金·鲍马 , 吉列尔莫·J·蒂尔尼 , 约翰内斯·菲茨杰拉德·德·布尔
CPC classification number: H01S5/5045 , A61B5/0059 , A61B5/0066 , A61B5/7257 , G01B9/02002 , G01B9/02004 , G01B9/02043 , G01B9/02075 , G01B9/02081 , G01B9/02083 , G01B9/02084 , G01B9/0209 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01B2290/70 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/0264 , G01J3/453 , G01J9/0215 , G01N21/4795 , G02B6/3604 , G02B26/12 , G02B27/48 , G02F1/093 , G02F1/11 , H01S3/0071 , H01S3/0078 , H01S3/08009 , H01S3/08063 , H01S3/105 , H01S3/1068 , H01S5/0071 , H01S5/0078 , H01S5/1025 , H01S5/14 , H01S5/141 , H01S5/146
Abstract: 提供了一种用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备。具体而言，至少一个第一电磁辐射可以提供给样品并且至少一个第二电磁辐射可以提供给非反射的参考。所述第一和/或第二辐射的频率随时间变化。在关联于所述第一辐射的至少一个第三辐射与关联于所述第二辐射的至少一个第四辐射之间检测干涉。可替换地，所述第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的谱。所述谱在特定时间可以包含多个频率。另外，有可能以第一偏振态检测所述第三辐射与所述第四辐射之间的干涉信号。此外，可以优选地以不同于所述第一偏振态的第二偏振态检测所述第三和第四辐射之间的又一干涉信号。所述第一和/或第二电磁辐射可以具有中值频率以大于每毫秒100万亿赫兹的调谐速度随时间基本上连续变化的谱。
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公开(公告)号：CN105980820A
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201580007241.1
申请日：2015-02-03
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01J3/0256 , G01J3/021 , G01J3/0286 , G01J3/0289 , G01J3/0291 , G01J3/04 , G01J3/18 , G01J3/36
Abstract: 分光器(1A)包括：光检测元件(20)，其设置有光通过部(21)、第1光检测部(22)及第2光检测部(26)；支撑体(30)，其以形成空间(S)的方式固定于光检测元件(20)；第1反射部(11)，其设置于支撑体(30)，且在空间(S)内将通过光通过部(21)的光(L1)反射；第2反射部(12A)，其设置于光检测元件(20)，且在空间(S)内将由第1反射部(11)反射的光(L1)反射；及分光部(40A)，其设置于支撑体(30)，且在空间(S)内将由第2反射部(12A)反射的光(L1)相对于第1光检测部(22)分光并且反射。第2光检测部(26)在包围第2反射部(12A)的区域配置有多个。
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公开(公告)号：CN105980819A
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201580007227.1
申请日：2015-02-03
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0224 , G01J3/0256 , G01J3/0291 , G01J3/0294 , G01J3/18 , G01J3/1838 , G01J3/24 , G01J3/2803
Abstract: 本发明的分光器(1A)具有分光单元(2A)、(2B)、(2C)。分光单元(2A)具有的光通过部(21A)、反射部(11A)、共通反射部(12)、分光部(40A)和光检测部(22A)，从Z轴方向看时，沿着基准线(RL1)排列。分光单元(2B)具有的光通过部(21B)、反射部(11B)、共通反射部(12)、分光部(40B)和光检测部(22B)，从Z轴方向看时，沿着基准线(RL2)排列。分光单元(2C)具有的光通过部(21C)、反射部(11C)、共通反射部(12)、分光部(40C)和光检测部(22C)，从Z轴方向看时，沿着基准线(RL3)排列。基准线(RL1)与基准线(RL2)、(RL3)交叉。
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公开(公告)号：CN105960579A
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201580007240.7
申请日：2015-02-03
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01J3/021 , G01J3/0256 , G01J3/0262 , G01J3/0264 , G01J3/0286 , G01J3/0291 , G01J3/04 , G01J3/18
Abstract: 分光器(1A)具备：光检测元件(20)，其设置有光通过部(21)及光检测部(22)；支撑体(30)，其以在与光通过部(21)及光检测部(22)之间形成空间(S)的方式固定于光检测元件(20)；第1反射部(11)，其设置于支撑体(30)，且在空间(S)中，将通过光通过部(21)的光(L1)反射；第2反射部(12)，其设置于光检测元件(20)，且在空间(S)中，将由第1反射部(11)反射的光(L1)反射；以及分光部(40)，其设置于支撑体(30)，且在空间(S)中，将由第2反射部(12)反射的光(L1)相对于光检测部(22)进行分光并反射。
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公开(公告)号：CN105579832A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201480052937.1
申请日：2014-09-19
Applicant: 松下知识产权经营株式会社
IPC: G01N21/01 , G01N21/3504 , H05B3/10 , H05B3/46
CPC classification number: H05B3/46 , G01J3/0202 , G01J3/021 , G01J3/108 , G01J3/42 , G01J5/024 , G01N21/3504 , H05B3/12 , H05B2203/013
Abstract: 提供一种能防止由于热引起的电极劣化的红外线放射装置及制造方法。红外线放射装置包括基板(11)、绝缘层(12)、发热层(13)、电极(15)、基底部(17)和电导体(16)。基板(11)具有暴露绝缘层(12)的背面的一部分的腔室(110)。腔室(110)的在基板(11)的表面上的开口边缘的垂直投影区域(其投影方向沿着绝缘层(12)的厚度方向)的内侧和外侧上均存在基底部(17)。电导体(16)布置在基底部(17)的表面上。发热层(13)的端部设置成覆盖电导体(16)的覆盖部(18)。电极(15)与覆盖部(18)在垂直投影区域外侧的表面接触。导体(16)具有比电极(15)高的熔点和比基底部(17)和层(13)小的电阻。
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