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公开(公告)号：CN104204782B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201280066251.9
申请日：2012-12-06
Applicant: 牛津仪器工业产品有限公司
Inventor： 理查德·埃里克·迈尔斯 , 米卡·海利厄
CPC classification number: G01J3/10 , G01J3/02 , G01J3/0272 , G01J3/30 , G01J3/4406 , G01J3/443 , G01N21/718 , G01N2201/0221 , G01N2201/0612
Abstract: 一种用于分析物体(2)的材料成分的装置(1)具有带手柄(4)的外壳(3)、操作扳机(5)、用于抵接待分析的物体的观察窗(6)和用于显示物体的分析结果的显示器(7)。具有基部(12)的壳体(11)安装在外壳中，基部(12)绕着轴线(14)枢转连接在一个端部(15)上。在另一个端部(16)设置有用于在基部(12)上横移端部(16)的步进式电动机(17)。端部(16)具有与壳体(11)中的安装有观察窗的开口(19)大致对准的开口(18)。在壳体(11)中安装有激光二极管(21)、激光放大晶体(22)、准直透镜(23)和激光聚焦透镜(24)等部件。这些部件排列在透过开口(18、19)延伸出来的激光投射轴线(25)上。平面反射镜(32)能够接收由在物体(2)的表面处受激发的等离子体P发射的光。来自等离子体P的光沿着方向(34)被反射越过投射轴线到达曲面聚焦反射镜(35)。光从反射镜(35)再次被反射越过投射轴线并且聚焦在设置于壳体(11)的与反射镜(35)相对的侧壁(39)中的孔(38)内的光纤(37)的端部上。
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公开(公告)号：CN103649743B
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：CN201280031353.7
申请日：2012-12-26
Applicant: 布雷维斯特尼克研究与生产公司
Inventor： 迈克尔·安德列维奇·索科洛夫 , 弗拉基米尔·约瑟福维奇·茨韦特科夫 , 奥科萨纳·约瑞万·阿努夫里耶夫瓦
Abstract: 本发明涉及应用物理学领域，特别是用于测定液体介质中的元素组分的光谱方法。在用于测定液体介质的元素组分的放射分析方法中，在电流不足以激发局部放电时所述被测元素先沉积在载流通道中，然后改变电流方向并且增加其强度从而激发局部放电，检测被分析液体中产生的放射作为确定元素的放射光谱。记录待分析液体中产生的放射以获得被测化学元素的放射光谱。这使得能够提高测量的稳定性和重现性。
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公开(公告)号：CN105392269A
公开(公告)日：2016-03-09
申请号：CN201510559287.6
申请日：2015-09-02
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 土生俊也
IPC: H05H1/46 , H02M7/5383
CPC classification number: G01J3/10 , G01J3/027 , G01J3/443 , H01J37/244 , H01J37/321 , H01J37/32174 , H01J37/32183 , H05H1/0037 , H05H1/36 , H05H1/46 , H05H2001/4652 , H05H2001/4682
Abstract: 本发明提供一种能够通过廉价的结构来准确地控制等离子体接入功率的高频电源装置。通过电压检测部(101)以及电流检测部(102)来分别检测针对串联谐振电路的高频输入电压(V)以及高频输入电流(I)，根据所检测到的高频输入电压(V)以及高频输入电流(I)，通过等离子体接入功率检测部(111)来检测等离子体接入功率。这样，通过直接检测等离子体接入功率，无论等离子体生成用气体、分析试样的状态等如何，都能够准确地控制等离子体接入功率。另外，通过使用包含半导体元件的开关电路，与使用真空管等的结构相比，能够做成更廉价的结构。
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公开(公告)号：CN102121850B
公开(公告)日：2016-01-27
申请号：CN201010586752.2
申请日：2010-11-30
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01J5/58
CPC classification number: G01J5/0014 , G01J3/02 , G01J3/0216 , G01J3/0218 , G01J3/28 , G01J3/36 , G01J3/42 , G01J3/443 , G01J5/0022 , G01J5/0044 , G01J5/0088 , G01J5/08 , G01J5/0815 , G01J5/0821 , G01J5/0846 , G01J5/0862 , G01J5/58
Abstract: 一种热测量系统(10)包括光收集装置(22)；和与该光收集装置(22)通信的检测系统(40、140、240、340)。该检测系统(40、140、240、340)配置成检测来自气体(80)的光(94)强度。本发明已经从特定实施例方面描述，并且认识到除那些明确陈述的之外的等同、备选和修改是可能的，并且在附上的权利要求的范围内。
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公开(公告)号：CN102301594B
公开(公告)日：2016-01-06
申请号：CN200980155794.6
申请日：2009-12-04
Applicant: 塞莫费雪科学(埃居布朗)有限公司
Abstract: 本发明提供了火花发生器，产生用于光学发射光谱分析(OES)的火花，其中，火花具有电流波形，该电流波形包括第一调制部分以及相对低电流和低陡度的第二调制部分，第一调制部分包括具有可变的幅值和/或峰间持续时间的多个相对高电流和高陡度峰，第二调制部分基本上没有调制的峰。火花优选地从两个或更多个可编程电流源产生。本发明还提供了包括该火花发生器的光学发射光谱仪以及使用该火花发生器的光学发射光谱分析的方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104949963A
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201510135146.1
申请日：2015-03-26
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Inventor： 中川良知
IPC: G01N21/73
CPC classification number: G01N21/73 , G01J3/443 , G01N21/68 , H01J49/105 , H05H1/30
Abstract: 公开了一种ICP发光分光分析装置。提供一种预先对光电倍增管施加电压以能够迅速地转移至主分析的ICP发光分光分析装置。ICP发光分光分析装置(1)由感应耦合等离子体发生部(10)、聚光部(20)、分光器(30)、检测器(40)以及控制部(60)大致构成。另外，在检测器(40)具备光电倍增管(70)，具有检测器控制部(41)和输入部(42)。由于在光电倍增管(70)存在分压电阻r1~rn，因此由于被施加于光电倍增管(70)的施加电压Ve的变化而放大率不会立即变为固定，但是检测器控制部(41)在从预先向输入部(42)输入分析条件之后起直到向感应耦合等离子体装置(10)导入包括分析对象的元素的样本之前为止的期间中控制空转电压和空转电压施加时间来使倍增率固定。
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公开(公告)号：CN103592025B
公开(公告)日：2015-07-29
申请号：CN201310525282.2
申请日：2013-10-30
Applicant: 清华大学
IPC: G01J3/28
CPC classification number: G01J3/443 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/1804
Abstract: 本发明公开了一种光谱分析系统，包括：切尼-特纳光路结构；光电倍增管阵列，光电倍增管阵列包括N个光电倍增管，N为正整数；光纤阵列，光纤阵列包括N组光纤，各组光纤的第一端排成与入射狭缝平行方向的一列安装在切尼-特纳光路结构的聚焦平面上，其中各组光纤的第一端收集不同波长单色光，N组光纤的第二端与N个光电倍增管一一对应地相连以将不同波长的光信号传导到不同的光电倍增管；多通道时间门控计数器；高压电源；和温度控制模块，温度控制模块与光电倍增管阵列相连，用于在进行光谱测量时将光电倍增管阵列维持在恒定的低温环境。该系统的优点在于同时具有高灵敏度和高时间分辨能力，可用于采集微弱的快速变化且不重复的光谱信号。
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公开(公告)号：CN104204782A
公开(公告)日：2014-12-10
申请号：CN201280066251.9
申请日：2012-12-06
Applicant: 牛津仪器工业产品有限公司
Inventor： 理查德·埃里克·迈尔斯 , 米卡·海利厄
CPC classification number: G01J3/10 , G01J3/02 , G01J3/0272 , G01J3/30 , G01J3/4406 , G01J3/443 , G01N21/718 , G01N2201/0221 , G01N2201/0612
Abstract: 一种用于分析物体(2)的材料成分的装置(1)具有带手柄(4)的外壳(3)、操作扳机(5)、用于抵接待分析的物体的观察窗(6)和用于显示物体的分析结果的显示器(7)。具有基部(12)的壳体(11)安装在外壳中，基部(12)绕着轴线(14)枢转连接在一个端部(15)上。在另一个端部(16)设置有用于在基部(12)上横移端部(16)的步进式电动机(17)。端部(16)具有与壳体(11)中的安装有观察窗的开口(19)大致对准的开口(18)。在壳体(11)中安装有激光二极管(21)、激光放大晶体(22)、准直透镜(23)和激光聚焦透镜(24)等部件。这些部件排列在透过开口(18、19)延伸出来的激光投射轴线(25)上。平面反射镜(32)能够接收由在物体(2)的表面处受激发的等离子体P发射的光。来自等离子体P的光沿着方向(34)被反射越过投射轴线到达曲面聚焦反射镜(35)。光从反射镜(35)再次被反射越过投射轴线并且聚焦在设置于壳体(11)的与反射镜(35)相对的侧壁(39)中的孔(38)内的光纤(37)的端部上。
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公开(公告)号：CN103562435B
公开(公告)日：2014-07-30
申请号：CN201280024650.9
申请日：2012-05-22
Applicant: 株式会社CREV
CPC classification number: G01N21/255 , G01J3/443 , G01J2003/4435 , G01N21/274 , G01N21/66 , G01N2201/127 , H05H1/0037
Abstract: 发光分析装置具备：作为第1光强度计算部的一例的等离子光强度计算部（120），通过将由分光计测器（200）计测的表示容器内的每个波长的光强度的分光光谱利用多项式近似，计算容器内的每个波长的光强度；作为第2光强度计算部的一例的分子光强度计算部（130），通过按每个波长从由上述分光计测器（200）计测的上述分光光谱所表示的光强度减去上述第1光强度计算部计算出的光强度，计算与分子或原子的亮线光谱对应的光强度；以及比计算部（140），使用第2光强度计算部计算出的光强度，计算第1分子的分子光谱或第1原子的原子光谱的峰值与第2分子的分子光谱或第2原子的原子光谱的峰值之比。
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公开(公告)号：CN103562435A
公开(公告)日：2014-02-05
申请号：CN201280024650.9
申请日：2012-05-22
Applicant: 株式会社CREV
CPC classification number: G01N21/255 , G01J3/443 , G01J2003/4435 , G01N21/274 , G01N21/66 , G01N2201/127 , H05H1/0037
Abstract: 发光分析装置具备：作为第1光强度计算部的一例的等离子光强度计算部（120），通过将由分光计测器（200）计测的表示容器内的每个波长的光强度的分光光谱利用多项式近似，计算容器内的每个波长的光强度；作为第2光强度计算部的一例的分子光强度计算部（130），通过按每个波长从由上述分光计测器（200）计测的上述分光光谱所表示的光强度减去上述第1光强度计算部计算出的光强度，计算与分子或原子的亮线光谱对应的光强度；以及比计算部（140），使用第2光强度计算部计算出的光强度，计算第1分子的分子光谱或第1原子的原子光谱的峰值与第2分子的分子光谱或第2原子的原子光谱的峰值之比。
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