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    Laser Multi-Sensor System for the Selective Trace Analysis of Organic Materials
    71.
    发明申请
    Laser Multi-Sensor System for the Selective Trace Analysis of Organic Materials 有权
    用于有机材料选择性跟踪分析的激光多传感器系统

    公开(公告)号：US20110031393A1

    公开(公告)日：2011-02-10

    申请号：US12744815

    申请日：2008-11-20

    Applicant: Johann Goebel ,  Peter Peuser

    Inventor： Johann Goebel ,  Peter Peuser

    IPC: H01J49/40

    CPC classification number: G01N21/64 ,  G01N21/031 ,  G01N21/35 ,  G01N21/3563 ,  G01N2201/06146 ,  G01N2201/0697

    Abstract: The invention relates to a multi-sensor laser system for the selective trace analysis of organic material, the multi-sensor system having at least one laser ion mobility spectrometer, an absorption spectrometer and a fluorescent measuring device. The system is characterized in that it is equipped with a device for the simultaneous generation of a common laser beam with different wavelengths and pulses for the simultaneous operation of the laser ion mobility spectrometer, the absorption spectrometer and the fluorescent measuring device. This avoids the disadvantages of the known solutions in prior art and provides an improved solution for the highly sensitive and highly selective trace analysis of organic material, in particular hazardous substances such as explosives and warfare agents in the air.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于有机材料的选择性痕量分析的多传感器激光系统，具有至少一个激光离子迁移谱仪的多传感器系统，吸收光谱仪和荧光测量装置。 该系统的特征在于其配备有用于同时生成具有不同波长和脉冲的公共激光束的装置，用于激光离子迁移谱仪，吸收光谱仪和荧光测量装置的同时操作。 这避免了现有技术中已知解决方案的缺点，并为有机材料，特别是有害物质如炸药和空气中的作战剂提供了高灵敏度和高选择性的痕量分析方法。

    光学特性測定装置及び光学特性測定方法
    72.
    发明申请
    光学特性測定装置及び光学特性測定方法 审中-公开
    光学特性测量装置和光学特性测量方法

    公开(公告)号：WO2015029787A1

    公开(公告)日：2015-03-05

    申请号：PCT/JP2014/071383

    申请日：2014-08-13

    Applicant: 富士フイルム株式会社

    Inventor： 小野　修司

    IPC: G01N21/47

    CPC classification number: G01N21/4738 ,  G01N21/41 ,  G01N21/474 ,  G01N21/55 ,  G01N21/59 ,  G01N2021/4783 ,  G01N2201/06146 ,  G01N2201/08

    Abstract: 　材料の光学特性の測定負荷を軽減し、簡便で高精度な測定を短時間で行うことを可能にする光学特性測定装置及び光学特性測定方法を提供する。光学特性測定装置（例えばＢＲＤＦ測定装置１１）は、試料１６に対して光を照射する光照射ユニット（例えば光源部４０及び点光源４２）と、試料１６からの光を受光する受光ユニットとを備える。受光ユニットは、複数の受光体を含む受光センサ（例えばセンサアレイ２６）と、試料１６からの光を受光センサに導く導光部（例えば撮影レンズ２５）とを有する。導光部は、試料１６からの光を、その光の試料１６における位置及び進行方向に応じて、複数の受光体のうちの異なる受光体に導く。

    Abstract translation: 本发明提供一种光学特性测量装置和光学特性测量方法，其减少了测量材料的光学特性所需的努力，并且使得容易快速地进行精确测量。 该光学特性测量装置（例如，BRDF测量装置（11））具有将光照射在样品上的发光单元（例如，光源（40）和点光源（42）） 16）和从所述样品（16）接收光的光接收单元。 光接收单元具有：含有多个感光体的光接收传感器（例如，传感器阵列（26））; 以及将来自样品（16）的光引导到光接收传感器的导光部（例如，成像透镜（25））。 导光部分根据来自光的样品（16）上的位置和光的传播方向将来自样品（16）的光引导到不同的感光体。

    GEMSTONE SPARKLE ANALYSIS
    74.
    发明申请
    GEMSTONE SPARKLE ANALYSIS 审中-公开
    GEMSTONE SPARKLE分析

    公开(公告)号：WO2011092493A3

    公开(公告)日：2012-07-12

    申请号：PCT/GB2011050122

    申请日：2011-01-26

    Applicant: DE BEERS CENTENARY AG ,  SMITH JAMES GORDON CHARTERS

    Inventor： SMITH JAMES GORDON CHARTERS

    IPC: G01N21/87 ,  G01N33/38

    CPC classification number: G01N21/87 ,  G01N21/55 ,  G01N33/381 ,  G01N2201/06146 ,  G01N2201/0634

    Abstract: A system is described for obtaining images of a gemstone, and performing quantitative analysis on the images to obtain measures of properties of the gemstone. The system comprises a support structure for supporting the gemstone at an observation position. An illumination structure is arranged to illuminate the gemstone. The illumination structure comprises a plurality of radially dispersed directional light sources directed towards the observation position, the support structure and illumination system being rotatable relative to one another around a rotation axis so that the gemstone can be illuminated by one or more of the directional light sources at each of a plurality of rotational positions, the axis of rotation being normal to a selected facet of the gemstone. An imaging device is directed towards the gemstone for obtaining images of the gemstone at each of the rotational positions, the imaging device having an imaging axis parallel to or coincident with the axis of rotation. An image processor is provided for identifying sparkle regions in the images corresponding to reflections from individual light sources by individual facets and providing a quantitative measure of the gemstone on the basis of properties of the sparkle regions.

    Abstract translation: 描述了一种用于获得宝石图像的系统，并对图像进行定量分析以获得宝石特性的度量。 该系统包括用于在观察位置支撑宝石的支撑结构。 布置照明结构来照亮宝石。 照明结构包括指向观察位置的多个径向分散的定向光源，支撑结构和照明系统可围绕旋转轴线相对于彼此旋转，使得宝石能够被一个或多个定向光源 在多个旋转位置的每一个处，旋转轴线垂直于宝石的选定小面。 成像装置被引向宝石，以在每个旋转位置获得宝石的图像，成像装置具有与旋转轴线平行或重合的成像轴。 提供一种图像处理器，用于识别对应于各个光源的各个光源的反射的图像中的闪耀区域，并且基于闪光区域的特性提供宝石的定量测量。

    DISPOSITIF D'ANALYSE PAR SPECTROPHOTOMETRIE
    75.
    发明申请
    DISPOSITIF D'ANALYSE PAR SPECTROPHOTOMETRIE 审中-公开
    分光光度分析装置

    公开(公告)号：WO2002063309A1

    公开(公告)日：2002-08-15

    申请号：PCT/FR2002/000469

    申请日：2002-02-06

    Applicant: SA CETYS ,  THERRY, Francis ,  LEBOEUF, Jean-Pierre

    Inventor： THERRY, Francis ,  LEBOEUF, Jean-Pierre

    IPC: G01N35/08

    CPC classification number: G01N35/1097 ,  G01J3/36 ,  G01J3/42 ,  G01N21/05 ,  G01N21/31 ,  G01N21/33 ,  G01N21/35 ,  G01N21/3577 ,  G01N21/359 ,  G01N33/143 ,  G01N33/146 ,  G01N33/49 ,  G01N2021/3595 ,  G01N2201/06146

    Abstract: Dispositif d'analyse (1) par spectrophotométrie comportant un circuit d'alimentation (4) d'un banc de test (4). Le dispositif d'analyse comporte deux spectrophotomètres (14, 18) distincts présentés en vis-à-vis du même banc de test, pour permettre notamment de couvrir des spectres de longueurs d'onde séparés et compris de part et d'autre de la gamme de longueurs d'onde du visible. Un premier spectrophotomètre (14) permet ainsi de couvrir le spectre des proches et moyennes infrarouges, alors qu'un deuxième spectrophotomètre (18) permet de couvrir le spectre des ultraviolets et du visible. Ce dispositif d'analyse permet notamment le dosage des différents composants contenus dans des fluides à analyser (2), tels que du vin, des jus de fruits, ou des liquides sanguins.

    Abstract translation: 本发明涉及包括测试台（4）电源电路（4）的分光光度法分析装置（1）。 分析装置包括与相同测试台相对设置的两个不同的分光光度计（14,18），特别是覆盖包括在可见波长范围内的分开的波长光谱。 第一台分光光度计（14）用于覆盖近红外光谱，而第二台分光光度计（18）用于覆盖紫外和可见光谱。 所述分析装置特别适用于对待分析的流体（2）中包含的不同组分（例如酒，果汁或血液染色液体）进行计量。

    ENHANCED SURFACE PLASMON RESONANCE METHOD
    78.
    发明申请
    ENHANCED SURFACE PLASMON RESONANCE METHOD 审中-公开

    公开(公告)号：US20170219571A1

    公开(公告)日：2017-08-03

    申请号：US15486039

    申请日：2017-04-12

    Applicant: Biosurfit S.A.

    Inventor： João Manuel Oliveira Garcia Da Fonseca

    IPC: G01N33/543 ,  G01N21/552 ,  G01N33/553 ,  G01N21/41

    CPC classification number: G01N33/54373 ,  G01N21/41 ,  G01N21/553 ,  G01N33/54346 ,  G01N33/553 ,  G01N2201/0612 ,  G01N2201/06146 ,  G01N2201/0621 ,  G01N2201/0635 ,  G01N2201/12723

    Abstract: The disclosure relates to processing SPR signals, in particular signals obtained by illuminating a conductive surface with light at two wavelengths. Embodiments—involve processing a first and second signal indicative of an intensity of light, received from a conductive layer at which SPR has occurred, as a function of angle of incidence, reflection or diffraction at the layer (depending on whether the incident light beam is received by a detector recording it in reflection or transmission from the conductive layer). The first and second signals each have two dips corresponding to a respective wavelength of the light at a respective angle at which surface plasmon resonance occurs for the respective wavelength and a peak between the two dips. The processing includes deriving a first and second value of a quantity indicative of signal magnitudes in the region of the peak. The method then provides for comparing the first and second values to detect a change in refractive index at the layer after the first signal and before the second signal was captured.

    METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING LAMINATED IRON CORE
    80.
    发明申请
    METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING LAMINATED IRON CORE 有权
    检查层压铁芯的方法和装置

    公开(公告)号：US20160299087A1

    公开(公告)日：2016-10-13

    申请号：US15088620

    申请日：2016-04-01

    Applicant: MITSUI HIGH-TEC, INC. ,  TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA

    Inventor： Tadashi SHIBUTA ,  Masashi MATSUMOTO ,  Tatsuhiko MIZUTANI ,  Yoshitada YAMAGISHI

    IPC: G01N21/94 ,  G01N21/88

    CPC classification number: G01N21/94 ,  G01N21/8851 ,  G01N21/954 ,  G01N2201/06146 ,  G01N2201/105

    Abstract: There is provided a method for inspecting a laminated iron core structured by laminating a plurality of iron core pieces-having a predetermined shape and including therein a cooling flow path allowing refrigerant to flow therethrough, the refrigerant being supplied and discharged through openings formed at different positions. The method includes arranging a light projecting part and a light receiving part of a photosensor in the openings of the cooling flow path, respectively, and detecting light from the light projecting part by the light receiving part to thereby inspect a penetrating state of the cooling flow path.

    Abstract translation: 提供了一种检查层叠铁芯的方法，该层叠铁芯通过层叠多个具有预定形状的铁芯片而形成，其中包括允许制冷剂流过的冷却流路，制冷剂通过形成在不同位置的开口供给和排出 。 该方法包括分别在冷却流路的开口中布置光传感器的光投射部分和光接收部分，并且通过光接收部分检测来自光投射部分的光，从而检查冷却流的穿透状态 路径。

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