Abstract:
The resolution and the signal-to-noise ration of known force sensors as e.g. capacitive force sensors decrease when scaling them down. To solve this problem there is a solution presented by the usage of a nanostructure as e.g. a carbo nanotube, which is mechanically deformed by a force to be measured. The proposed force sensors comprises a support with two arms carrying the carbon nanotube. The main advantage of this force sensor is a very high sensitivity as the conductance of carbon nanotubes changes several orders of magnitude when a mechanical deformation arises.
Abstract:
A proof mass (11) for a MEMS device is provided herein. The proof mass comprises a base (13) comprising a semiconductor material, and at least one appendage (15) adjoined to said base by way of a stem (21). The appendage (15) comprises a metal (17) or other such material that may be disposed on a semiconductor material (19). The metal increases the total mass of the proof mass (11) as compared to a proof mass of similar dimensions made solely from semiconductor materials, without increasing the size of the proof mass. At the same time, the attachment of the appendage (15) by way of a stem (21) prevents stresses arising from CTE differentials in the appendage from being transmitted to the base, where they could contribute to temperature errors.
Abstract:
A three axis MEM tunneling/capacitive sensor and method of making same. Cantilevered beamstructures for at least two orthogonally arranged sensors and associated mating structures aredefined on a first substrate or wafer, the at least two orthogonally arranged sensors havingorthogonal directions of sensor sensitivity. A resonator structure of at least a third sensor is alsodefined, the third sensor being sensitive in a third direction orthogonal to the orthogonal directions of sensor sensitivity of the two orthogonally arranged sensors and the resonatorstructure having a mating structure thereon. Contact structures for at least two orthogonallyarranged sensors are formed together with mating structures on a second substrate or wafer, themating structures on the second substrate or wafer being of a complementary shape to the matingstructures on the first substrate or wafer. The mating structures of the first substrate aredisposed in a confronting relationship with the mating structures of the second substrate orwafer. A eutectic bonding layer associated with one of the mating structures facilitates bondingbetween the respective mating structures. At least a portion of the first substrate or wafer is removed to release the cantilevered beam structures and the resonator structure.
Abstract:
Die Erfindung schafft eine eine mikromechanische Sensorvorrichtung mit beweglichem Gate und ein entsprechendes Herstellungsverfahren. Die Sensorvorrichtung mit beweglichem Gate umfasst einen Feldeffekt-Transistor (2) mit einem beweglichen Gate (7), welches durch einen Hohlraum (11) von einem Kanalbereich (K) getrennt ist, wobei der Kanalbereich (K) von einer Gateisolationsschicht (3) bedeckt ist.
Abstract:
Die Erfindung betrifft ein mikromechanisches System (200) mit zumindest einem balkenförmigen Element (210), das ein freistehendes Ende (211) aufweist und an seinem anderen Ende (212) an ein weiteres Element des mikromechanischen Systems (200) angebunden ist. Dabei sind erfindungsgemäß zur Optimierung der mechanischen Eigenschaften des mikromechanischen Systems (200) in dem balkenförmigen Element (210) derart Aussparungen (213) vorgesehen, dass die Masse des balkenförmigen Elementes (210) zu dem freistehenden Ende (211) hin abnimmt. Die Erfindung umfasst des Weiteren ein Verfahren zum Erstellen eines mikromechanischen Systems (200) mit zumindest einem balkenförmigen Element (210).
Abstract:
The invention relates to a method for producing surface micromechanical structures having a high aspect ratio. At least one sacrificial layer (20) is provided between a substrate (30) and a functional layer (10). Trenches (60, 61) are provided in said functional layer (10) by means of a plasma etching process, said trenches uncovering at least some surface areas (21, 22) of the sacrificial layer (20). According to the invention, a further layer (70) is deposited at least partially on the lateral walls of the trenches, but not on the uncovered surface areas (21, 22) of the sacrificial layer (20), in order to increase the aspect ratio of said trenches. The invention also relates to a sensor, especially an acceleration or rotational rate sensor.
Abstract:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Erzeugen von Oberflächenmikromechanikstrukturen mit hohem Aspektverhältnis, bei dem zwischen einem Substrat (30) und einer Funktionsschicht (10) zumindest eine Opferschicht (20) vorgesehen wird, wobei in der Funktionsschicht (10) durch einen Palsma-Ätzprozess Gräben (60, 61) vorgesehen werden, von denen zumindest einige Oberflächenbereiche (21, 22) der Opferschicht (20) freilegen. Erfindungsgemäss ist vorgesehen, dass zur Vergrösserung des Aspektverhältnisses der Gräben zumindest abschnittsweise auf den Seitenwände der Gräben, nicht jedoch auf den freigelegten Oberflächenbereichen (21, 22) der Opferschicht (20), eine weitere Schicht (70) abgeschieden wird. Weiterhin betrifft die Erfindung einen, insbesondere eine Beschleunigungs- oder Drehratensensor.
Abstract:
La présente invention se rapporte à un dispositif micro-électromécanique utilisé comme capteur de force, comprenant une masse mobile, reliée par des ressorts ou éléments déformables à une ou plusieurs zones d'ancrages, et des moyens de détection du déplacement de la masse mobile, la masse mobile présentant un cadre extérieur et un corps intérieur, le cadre extérieur et le corps intérieur étant reliés par au moins deux portions flexibles formant ressorts de découplage solidaires de deux côtés distincts du cadre extérieur.