公开(公告)号：KR1020140116721A

公开(公告)日：2014-10-06

申请号：KR1020130031640

申请日：2013-03-25

Applicant: (주)펨트론

Inventor： 김민욱 ,  강상형

IPC: G06F19/00 ,  G06F17/40 ,  G01B11/00

CPC classification number: G06Q50/04 ,  G05B19/4183

Abstract: The present invention relates to an SPI data management system. According to the present invention, the system comprises: a local client to collect and transmit inspection data from an SPI device; and a central processor which builds a database by receiving the inspection data from the local clients, and derives the operation information of a production line corresponding to the SPI device interacting with each local client by analyzing the database. The analyzed data collected from the SPI device is collected and integrally managed, and a process result of the production line can be provided.

Abstract translation: 本发明涉及一种SPI数据管理系统。 根据本发明，该系统包括：本地客户端从SPI设备收集和发送检查数据; 以及通过从本地客户端接收检查数据构建数据库的中央处理器，通过分析数据库，得出与每个本地客户端交互的SPI设备相应的生产线的操作信息。 从SPI设备收集的分析数据被收集并整体管理，并且可以提供生产线的处理结果。

公开(公告)号：KR101226609B1

公开(公告)日：2013-01-28

申请号：KR1020110008565

申请日：2011-01-28

Applicant: (주)펨트론

Inventor： 강상형 ,  이윤석

IPC: B41F15/08 ,  H05K3/12 ,  B41F33/00

Abstract: 본 발명은 표면 형상 측정 장치 및 이를 이용한 스크린 프린터 관리 시스템에 관한 것이다. 본 발명에 따른 스크린 프린터 관리 시스템은 인쇄회로기판 상에 접착용 페이스트를 도포하는 스크린 프린터와; 인쇄회로기판 상에 도포된 접착용 페이스트의 도포 상태를 측정하여 접착용 페이스트의 도포 상태와 관련된 다수의 양불 판단 요소에 대한 다수의 측정 데이터를 생성하는 표면 형상 측정 모듈과; 상기 각 양불 판단 요소에 대응하는 다수의 기준 데이터와, 상기 기준 데이터에 대응하여 상기 스크린 프린터의 도포 제어를 위한 다수의 제어 명령이 저장된 스크린 프린팅 데이터베이스와; 상기 표면 형상 측정 모듈에 의해 측정된 상기 다수의 측정 데이터에 기초하여 상기 각 양불 판단 요소에 대한 불량 여부를 판단하고, 상기 측정 데이터와 매칭되는 기준 데이터를 상기 스크린 프린팅 데이터베이스로부터 검색하여, 상기 검색된 기준 데이터에 대응하는 제어 명령을 상기 스크린 프린터로 전송하는 스크린 프린팅 관리 모듈을 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 따라, 표면 형상 측정 모듈의 측정 결과와 연동되어, 접착용 페이스트의 도포 불량의 발생 전에도 스크린 프린터가 최적의 공정 조건으로 유지될 수 있다.

公开(公告)号：KR1020120081000A

公开(公告)日：2012-07-18

申请号：KR1020110008565

申请日：2011-01-28

Applicant: (주)펨트론

Inventor： 강상형 ,  이윤석

IPC: B41F15/08 ,  H05K3/12 ,  B41F33/00

CPC classification number: B41F15/08 ,  B41F33/00 ,  B41F33/0036 ,  B41F33/14 ,  B41F33/18 ,  H05K3/12

Abstract: PURPOSE: A surface shape measuring device and a screen printer managing system using the same are provided to maintain a processing condition of a screen printer by interconnecting a measurement result of a surface shape measuring device. CONSTITUTION: A surface shape measuring device(1) comprises a screen printer(100), a surface shape measuring module(30), a screen printing database(20), and a screen printing management module(10). The screen printer spreads a paste for adhesion on a printed circuit board(3). The surface shape measuring module measures a spread state of the paste for the adhesion on the printed circuit board and generates a plurality of measuring data with respect to a plurality of failure estimating factors related to the spread state of the paste. A plurality of criteria data corresponding to the failure estimating factors and a plurality of control commands for a spread controlling correspondently to the criteria data are saved in the screen printing database. The screen printing management module transmits the control command corresponding to the searched criteria data to the screen printer.

Abstract translation: 目的：提供一种表面形状测量装置和使用该表面形状测量装置的丝网印刷机管理系统，以通过互连表面形状测量装置的测量结果来维持丝网印刷机的处理状态。 构成：表面形状测量装置（1）包括丝网印刷机（100），表面形状测量模块（30），丝网印刷数据库（20）和丝网印刷管理模块（10）。 丝网印刷机在印刷电路板（3）上涂布粘合膏。 表面形状测量模块测量用于印刷电路板上的粘合剂的糊状物的扩展状态，并且相对于与糊料的扩展状态相关的多个故障估计因子产生多个测量数据。 对应于故障估计因子的多个准则数据和与准则数据相对应的用于扩展控制的多个控制命令被保存在丝网印刷数据库中。 丝网印刷管理模块将与搜索到的标准数据相对应的控制命令发送到丝网印刷机。

公开(公告)号：KR101409803B1

公开(公告)日：2014-06-24

申请号：KR1020130071107

申请日：2013-06-20

Applicant: (주)펨트론

Inventor： 조철훈 ,  강상형 ,  윤정삼

IPC: G01B11/24

Abstract: The present invention relates to a method and a device for measuring a surface shape capable of measuring information on the warpage of a substrate. The method for measuring a surface shape according to the present invention comprises a step (a) of measuring a distance to the surface of the substrate through a laser displacement measurement method; a step (b) of measuring the height of objects formed on the surface of the substrate through a Moire′s method; and a step (c) of measuring information on the warpage of the substrate and the surface shape of the objects on the substrate based on the distance to the surface of the substrate and the height of the objects measured at multiple FOV while the step (a) and (b) are performed as a FOV unit by dividing the surface of the substrate into the multiple FOV. The step (b) comprises a step (b1) of obtaining multiple photographing images of the substrate to enable the application of the Moire′s method; a step (b2) of transferring lattices between the processes of obtaining each photographing image during the step (b1); and a step (b3) of measuring the height of the objects by applying the Moire′s method to the multiple photographing images. Herein, SPI equipment of AOI equipment using the Moire′s method can measure the information on the warpage of the substrate as a measured object.

Abstract translation: 本发明涉及一种测量表面形状的方法和装置，该表面形状能够测量关于基板翘曲的信息。 根据本发明的测量表面形状的方法包括通过激光位移测量方法测量到衬底表面的距离的步骤（a）; 步骤（b），通过莫尔氏法测量形成在基底表面上的物体的高度; 以及步骤（c），在步骤（a）中基于到基板表面的距离和在多个FOV测量的物体的高度来测量基板的翘曲和基板上的物体的表面形状的信息 ）和（b）通过将基板的表面划分成多个FOV而作为FOV单元执行。 步骤（b）包括步骤（b1），获得基片的多个拍摄图像，以实现莫尔方法的应用; 在步骤（b1）中在获得每个拍摄图像的处理之间传送格子的步骤（b2）; 以及通过将莫尔氏法应用于多个拍摄图像来测量物体的高度的步骤（b3）。 在这里，使用莫尔方法的AOI设备的SPI设备可以测量作为测量对象的基板翘曲的信息。