-
公开(公告)号:CN104321849A
公开(公告)日:2015-01-28
申请号:CN201380027000.4
申请日:2013-04-16
Applicant: 国际商业机器公司
IPC: H01L21/00
CPC classification number: G02B6/1347 , G02B6/12 , G02B2006/12061 , G02F1/025 , G02F2201/063 , G02F2201/15 , G02F2202/06 , G02F2202/105
Abstract: 一种用于制造光调制器的方法包括:形成n型层,所述n型层的一部分上的第一氧化物部、以及所述n型层的第二部分上的第二氧化物部;在所述第一氧化物部、所述n型层的平面表面的部分、以及所述第二氧化物部的部分之上图案化第一掩蔽层;在所述n型层中注入p型掺杂剂以形成第一p型区和第二p型区;去除所述第一掩蔽层;在所述第一氧化物部、所述第一p型区的一部分、以及所述n型层的一部分之上图案化第二掩蔽层;以及在所述n型层的暴露部、所述第一p型区的暴露部、以及被设置在所述衬底与所述第二氧化物部之间的所述n型层和所述第二p型区的区域中注入p型掺杂剂。
-
公开(公告)号:CN104321849B
公开(公告)日:2017-02-08
申请号:CN201380027000.4
申请日:2013-04-16
Applicant: 国际商业机器公司
IPC: H01L21/00
CPC classification number: G02B6/1347 , G02B6/12 , G02B2006/12061 , G02F1/025 , G02F2201/063 , G02F2201/15 , G02F2202/06 , G02F2202/105
Abstract: 一种用于制造光调制器的方法包括:形成n型层,所述n型层的一部分上的第一氧化物部、以及所述n型层的第二部分上的第二氧化物部;在所述第一氧化物部、所述n型层的平面表面的部分、以及所述第二氧化物部的部分之上图案化第一掩蔽层;在所述n型层中注入p型掺杂剂以形成第一p型区和第二p型区;去除所述第一掩蔽层;在所述第一氧化物部、所述第一p型区的一部分、以及所述n型层的一部分之上图案化第二掩蔽层;以及在所述n型层的暴露部、所述第一p型区的暴露部、以及被设置在所述衬底与所述第二氧化物部之间的所述n型层和所述第二p型区的区域中注入p型掺杂剂。
-
公开(公告)号:CN105742405A
公开(公告)日:2016-07-06
申请号:CN201510968938.7
申请日:2015-12-22
Applicant: 国际商业机器公司
IPC: H01L31/18 , H01L31/0203
CPC classification number: H01L31/0203 , G02B6/00 , G02B6/12004 , G02B6/4253 , H01L21/0217 , H01L21/02271 , H01L21/02274 , H01L21/32053 , H01L21/84 , H01L27/1443 , H01L28/20 , H01L31/02019 , H01L31/02161 , H01L31/02327 , H01L31/153 , H01L31/18 , H01L31/1808 , H01L31/186 , H01L31/1872 , Y02E10/50 , Y02P70/521
Abstract: 提供了硅光子集成方法和结构。该方法包括:在光电探测器上方和周围形成至少一个包裹层;在形成所述至少一个包裹层之后,对所述光电探测器材料进行热结晶;以及在热结晶所述光电探测器材料之后,在至少一个器件的上方,在所述至少一个包裹层上形成共形的密封层。所述共形的密封层被配置为密封所述至少一个包裹层中的缝隙。所述光电探测器和所述至少一个器件位于同一衬底上。所述至少一个器件包括互补金属氧化物半导体器件或被动光子器件。
-
公开(公告)号:CN105742405B
公开(公告)日:2018-08-24
申请号:CN201510968938.7
申请日:2015-12-22
Applicant: 国际商业机器公司
IPC: H01L31/0203 , H01L31/0232 , H01L31/153 , H01L31/0216 , H01L31/02 , H01L31/18 , H01L27/144 , H01L21/02 , G02B6/12 , G02B6/42
CPC classification number: H01L31/0203 , G02B6/00 , G02B6/12004 , G02B6/4253 , H01L21/0217 , H01L21/02271 , H01L21/02274 , H01L21/32053 , H01L21/84 , H01L27/1443 , H01L28/20 , H01L31/02019 , H01L31/02161 , H01L31/02327 , H01L31/153 , H01L31/18 , H01L31/1808 , H01L31/186 , H01L31/1872 , Y02E10/50 , Y02P70/521
Abstract: 提供了硅光子集成方法和结构。该方法包括:在光电探测器上方和周围形成至少一个包裹层;在形成所述至少一个包裹层之后,对所述光电探测器材料进行热结晶;以及在热结晶所述光电探测器材料之后,在至少一个器件的上方,在所述至少一个包裹层上形成共形的密封层。所述共形的密封层被配置为密封所述至少一个包裹层中的缝隙。所述光电探测器和所述至少一个器件位于同一衬底上。所述至少一个器件包括互补金属氧化物半导体器件或被动光子器件。
-
-
-