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公开(公告)号:CN1864909A
公开(公告)日:2006-11-22
申请号:CN200610051542.7
申请日:2006-02-28
Applicant: 富士电机电子设备技术株式会社
IPC: B23K35/26 , H01L23/488
CPC classification number: C22C13/02 , H01L24/33 , H01L2924/01051 , H01L2924/01075 , H01L2924/014 , H01L2924/15787 , H01L2924/351 , H01L2924/00
Abstract: 本发明要解决的问题是提高锡(Sn)-锑(Sb)体系焊料合金的润湿性和焊接性能。使用焊料合金6将具有半导体芯片4的绝缘基片10上的导体图案3与散热板8相连接,所述焊料合金包含3-5重量%的锑(Sb)、不超过0.2重量%的锗(Ge)和余量的锡(Sn)。可用同类的焊料合金5将半导体芯片4和绝缘基片10上的半导体图案2连接。可用同类的焊料合金7将半导体芯片4和连线导体6连接。
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公开(公告)号:CN1819161A
公开(公告)日:2006-08-16
申请号:CN200610004666.X
申请日:2006-01-27
Applicant: 富士电机电子设备技术株式会社
CPC classification number: H05K3/0061 , H01L23/373 , H01L23/3735 , H01L23/5385 , H01L25/072 , H01L2924/0002 , H05K1/142 , H05K3/341 , H05K3/3452 , H05K2201/017 , H05K2201/0323 , H05K2203/0545 , H01L2924/00
Abstract: 提供一种半导体器件,其中创建用于防止焊料流动的挡料是很简单的,且其可靠性很高。通过由在预定图案中涂覆而设置在金属基底上的挡料的手段,可限制在将多个电路板键合到金属基底中所用的焊料的流动。
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