公开(公告)号：CN111936831B

公开(公告)日：2023-11-10

申请号：CN201980023882.4

申请日：2019-03-29

Applicant: 斯维尔系统

Inventor： M·梅德哈特 ,  B·莫塔达 ,  Y·M·萨布里 ,  M·胡萨姆 ,  M·安瓦尔 ,  A·什布尔 ,  H·哈德达拉 ,  B·A·萨达尼

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/10 ,  G01J3/45 ,  G01J3/26 ,  G01J3/453 ,  G01B9/02015 ,  G02B26/08 ,  G02B17/02

Abstract: 本公开的各方面涉及一种自参考光谱仪，其用于提供对背景或参考光谱密度以及样品或其他光谱密度的同时测量。自参考光谱仪包括干涉仪，该干涉仪被光耦合以接收输入光束，并且沿第一光路引导输入光束以产生第一干涉光束，并且沿第二光路引导输入光束以产生第二干涉光束，其中每个干涉光束是在干涉仪的输出之前被产生的。光谱仪还包括检测器，其被光耦合以同时检测从第一干涉光束产生的第一干涉信号和从第二干涉光束产生的第二干涉信号，以及处理器，其被配置为处理第一干涉信号和第二干涉信号，并且在处理第一干涉信号时将第二干涉信号用作参考信号。

公开(公告)号：CN110140038A

公开(公告)日：2019-08-16

申请号：CN201780081876.5

申请日：2017-11-21

Applicant: 斯维尔系统

Inventor： B·萨达尼 ,  M·梅德哈特 ,  M·纳吉 ,  A·什布尔 ,  Y·M·萨布里 ,  B·莫塔达 ,  D·卡里尔

IPC: G01M11/00 ,  G01R31/311 ,  G02B5/04

Abstract: 本公开的各方面涉及一种用于执行具有面内光轴的光学微机电系统(MEMS)结构的晶片测试的集成光学探针卡和系统。可以利用一个或多个微光学平台组件来执行光学MEMS结构的晶片上光学屏蔽，以在垂直于面内光轴的面外方向与平行于面内光轴的面内方向之间重定向光以便能够通过光的竖直注入来测试光学MEMS结构。

公开(公告)号：CN117916575A

公开(公告)日：2024-04-19

申请号：CN202280055088.X

申请日：2022-01-14

Applicant: 斯维尔系统

Inventor： Y·M·萨布里 ,  E·R·德驰 ,  B·萨达尼 ,  B·A·莫尔塔达 ,  M·H·埃尔·哈龙 ,  M·尔凡 ,  M·穆罕默德 ,  M·萨德克 ,  M·梅德哈特 ,  A·什布尔

IPC: G01N21/31 ,  G01N21/25 ,  G01N21/01 ,  G01N21/359 ,  G01N21/35 ,  G01J3/02

Abstract: 各方面涉及用于样品的大规模筛查的机制。一种基于包含待测分析物的样品的光谱分析的便携式实验室设备(300)可以促进大规模筛查。便携式实验室设备(300)包括样品头(312)和光学测量设备(304)，该样品头包括被配置为促进样品到样品头(312)的施加的结构，该光学测量设备包括一个或多个光源(306)和光谱仪(308)。从光源(306)入射到样品上的光(322)可以被引导(324)到光谱仪(308)以获取样品的光谱(326)。光学测量设备(304)还可以包括数据传输设备(310)，该数据传输设备被配置为将由光谱仪(308)获取的光谱(326)提供给光谱分析仪(320)以从光谱(326)产生结果(328)。

公开(公告)号：CN111936831A

公开(公告)日：2020-11-13

申请号：CN201980023882.4

申请日：2019-03-29

Applicant: 斯维尔系统

Inventor： M·梅德哈特 ,  B·莫塔达 ,  Y·M·萨布里 ,  M·胡萨姆 ,  M·安瓦尔 ,  A·什布尔 ,  H·哈德达拉 ,  B·A·萨达尼

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/10 ,  G01J3/45 ,  G01J3/26 ,  G01J3/453 ,  G01B9/02 ,  G02B26/08 ,  G02B17/02

Abstract: 本公开的各方面涉及一种自参考光谱仪，其用于提供对背景或参考光谱密度以及样品或其他光谱密度的同时测量。自参考光谱仪包括干涉仪，该干涉仪被光耦合以接收输入光束，并且沿第一光路引导输入光束以产生第一干涉光束，并且沿第二光路引导输入光束以产生第二干涉光束，其中每个干涉光束是在干涉仪的输出之前被产生的。光谱仪还包括检测器，其被光耦合以同时检测从第一干涉光束产生的第一干涉信号和从第二干涉光束产生的第二干涉信号，以及处理器，其被配置为处理第一干涉信号和第二干涉信号，并且在处理第一干涉信号时将第二干涉信号用作参考信号。

公开(公告)号：CN117501099A

公开(公告)日：2024-02-02

申请号：CN202280025616.7

申请日：2022-02-02

Applicant: 斯维尔系统

Inventor： Y·M·萨布里 ,  B·A·莫尔塔达 ,  K·哈桑 ,  A·A·M·M·E·萨勒姆 ,  D·卡里尔 ,  M·H·埃尔·哈龙 ,  M·A·埃尔谢赫 ,  A·什布尔 ,  B·萨达尼 ,  M·梅德哈特 ,  B·G·I·谢努达

IPC: G01N21/25

Abstract: 各方面涉及一种紧凑型材料分析仪，该紧凑型材料分析仪包括光源、检测器和模块，该模块包括在该模块的第一面上的第一光学窗口、在该模块的与第一面相对的第二面上的第二光学窗口、以及光调制器。光源产生高功率的输入光，该输入光穿过第一光学窗口被传递到光调制器。光调制器被配置为衰减输入光、基于输入光产生调制光、并且引导调制光穿过第二光学窗口到样品。由光调制器产生的调制光对于样品来说是以较低功率安全的。检测器被配置为穿过第二光学窗口的来自样品的由与调制光的相互作用而产生的输出光，并且检测输出光的光谱。

公开(公告)号：CN110140038B

公开(公告)日：2021-06-15

申请号：CN201780081876.5

申请日：2017-11-21

Applicant: 斯维尔系统

Inventor： B·萨达尼 ,  M·梅德哈特 ,  M·纳吉 ,  A·什布尔 ,  Y·M·萨布里 ,  B·莫塔达 ,  D·卡里尔

IPC: G01M11/00 ,  G01R31/311 ,  G02B5/04

Abstract: 本公开的各方面涉及一种用于执行具有面内光轴的光学微机电系统(MEMS)结构的晶片测试的集成光学探针卡和系统。可以利用一个或多个微光学平台组件来执行光学MEMS结构的晶片上光学屏蔽，以在垂直于面内光轴的面外方向与平行于面内光轴的面内方向之间重定向光以便能够通过光的竖直注入来测试光学MEMS结构。