抗蚀剂图案的检查方法、抗蚀剂图案的制造方法、基板分选方法及半导体封装基板或印刷线路板的制造方法

    公开(公告)号:CN119546949A

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202380035953.9

    申请日:2023-07-10

    Inventor: 加藤哲也

    Abstract: 抗蚀剂图案的检查方法包括基于来自形成有抗蚀剂图案的基板的发光对所述抗蚀剂图案进行外观检查的外观检查工序。抗蚀剂图案的制造方法包括:抗蚀剂图案形成工序,在基板上形成抗蚀剂图案;及发光材料含浸工序,在所述抗蚀剂图案形成工序之后,使发光材料含浸于所述抗蚀剂图案中。基板分选方法包括:外观检查工序,基于来自形成有抗蚀剂图案的基板的发光对所述抗蚀剂图案进行外观检查;及评价工序,基于所述外观检查工序中的所述外观检查对所述抗蚀剂图案进行评价。半导体封装基板或印刷线路板的制造方法包括对上述基板分选方法中的所述抗蚀剂图案的所述评价满足基准的所述基板进行蚀刻处理或镀敷处理,形成导体图案的导体图案形成工序。

    图案的检查方法、抗蚀剂图案的制造方法、对象基板的分选方法及对象基板的制造方法

    公开(公告)号:CN119096337A

    公开(公告)日:2024-12-06

    申请号:CN202380023625.7

    申请日:2023-02-20

    Abstract: 图案的检查方法包括:坐标测定工序,测定对象基板中的图案的轮廓的坐标,所述对象基板为形成有作为抗蚀剂图案及导体图案中的任一者的图案的用于装载半导体元件的半导体封装基板及印刷线路板中的任一者;及检查工序,根据所述坐标来检查所述图案。对象基板的分选方法包括:坐标测定工序,测定对象基板中的图案的轮廓的坐标,所述对象基板为形成有作为抗蚀剂图案及导体图案中的任一者的图案的用于装载半导体元件的半导体封装基板及印刷线路板中的任一者;检查工序,根据所测定的所述坐标来检查所述图案;及评价工序,根据所述检查工序的检查结果来评价所述图案。

    抗蚀剂图案的检查方法、抗蚀剂图案的制造方法、基板分选方法及半导体封装基板或印刷线路板的制造方法

    公开(公告)号:CN119546950A

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202380037242.5

    申请日:2023-07-10

    Inventor: 加藤哲也

    Abstract: 抗蚀剂图案的检查方法包括基于来自形成有抗蚀剂图案的基板的发光对所述抗蚀剂图案进行外观检查的外观检查工序。抗蚀剂图案的制造方法包括:抗蚀剂图案形成工序,在基板上形成抗蚀剂图案;及发光材料附着工序,使发光材料附着于所述基板的导体表面。基板分选方法包括:外观检查工序,基于来自形成有抗蚀剂图案的基板的发光对所述抗蚀剂图案进行外观检查;及评价工序,基于所述外观检查工序中的所述外观检查对所述抗蚀剂图案进行评价。半导体封装基板或印刷线路板的制造方法包括对上述基板分选方法中的所述抗蚀剂图案的所述评价满足基准的所述基板进行蚀刻处理或镀敷处理,形成导体图案的导体图案形成工序。

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