图案的检查方法、抗蚀剂图案的制造方法、对象基板的分选方法及对象基板的制造方法

    公开(公告)号:CN119096337A

    公开(公告)日:2024-12-06

    申请号:CN202380023625.7

    申请日:2023-02-20

    Abstract: 图案的检查方法包括:坐标测定工序,测定对象基板中的图案的轮廓的坐标,所述对象基板为形成有作为抗蚀剂图案及导体图案中的任一者的图案的用于装载半导体元件的半导体封装基板及印刷线路板中的任一者;及检查工序,根据所述坐标来检查所述图案。对象基板的分选方法包括:坐标测定工序,测定对象基板中的图案的轮廓的坐标,所述对象基板为形成有作为抗蚀剂图案及导体图案中的任一者的图案的用于装载半导体元件的半导体封装基板及印刷线路板中的任一者;检查工序,根据所测定的所述坐标来检查所述图案;及评价工序,根据所述检查工序的检查结果来评价所述图案。

    感光性元件及感光性元件的制造方法

    公开(公告)号:CN117083568A

    公开(公告)日:2023-11-17

    申请号:CN202180055255.6

    申请日:2021-06-15

    Abstract: 本发明所涉及的感光性元件能够通过如下方法来制作,该方法包括:使用感光性树脂组合物在支撑膜上形成感光层的工序;及在感光层上贴合卷状保护膜的卷外面的工序,该感光性元件具备:支撑膜;感光层,设置于支撑膜的一面上;及保护膜,设置于感光层的与支撑膜相反的面上,保护膜在与感光层相反侧的面上具有熔接线。

    抗蚀图案的检查方法、抗蚀图案的制造方法、基板筛选方法及印刷线路板的制造方法

    公开(公告)号:CN116745604A

    公开(公告)日:2023-09-12

    申请号:CN202180090280.8

    申请日:2021-01-21

    Abstract: 抗蚀图案的检查方法包括根据来自形成有抗蚀图案的基板的反射光对所述抗蚀图案进行外观检查的外观检查工序。抗蚀图案的制造方法包括:抗蚀图案形成工序,在基板上形成抗蚀图案;及显色工序,在所述抗蚀图案形成工序之后,使所述抗蚀图案显色。基板筛选方法包括:外观检查工序,根据来自形成有抗蚀图案的基板的反射光对所述抗蚀图案进行外观检查;及评价工序,根据所述外观检查工序中的所述外观检查对所述抗蚀图案进行评价。印刷线路板的制造方法包括对上述基板筛选方法中的所述抗蚀图案的所述评价满足基准的所述基板进行蚀刻处理或镀覆处理来形成导体图案的导体图案形成工序。

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