公开(公告)号：CN1853111B

公开(公告)日：2010-04-28

申请号：CN200480026769.5

申请日：2004-08-18

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 安东正和 ,  高桥弘行 ,  山下毅 ,  桥本隆志

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2874 ,  G01R31/2891 ,  G01R31/31905 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: 使具有与基于测试图的被试验电子部件(2)的温度变化特性相等或相似的温度变化特性的加热器(112)与被试验电子部件接触，同时把被试验电子部件向接触端(132a、132b)按压，在该状态下向被试验电子部件发送测试图，并且控制加热器的消耗电力以使基于该测试图的被试验电子部件的消耗电力和加热器的消耗电力的总和为一定值。

公开(公告)号：CN1853111A

公开(公告)日：2006-10-25

申请号：CN200480026769.5

申请日：2004-08-18

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 安东正和 ,  高桥弘行 ,  山下毅 ,  桥本隆志

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2874 ,  G01R31/2891 ,  G01R31/31905 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: 使具有与基于测试图的被试验电子部件(2)的温度变化特性相等或相似的温度变化特性的加热器(112)与被试验电子部件接触，同时把被试验电子部件向接触端(132a、132b)按压，在该状态下向被试验电子部件发送测试图，并且控制加热器的消耗电力以使基于该测试图的被试验电子部件的消耗电力和加热器的消耗电力的总和为一定值。