公开(公告)号：CN116774750A

公开(公告)日：2023-09-19

申请号：CN202310061891.0

申请日：2023-01-18

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 山田祐也 ,  菊池有朋 ,  加藤康之

IPC: G05D23/22 ,  G01R1/02

Abstract: 本发明的课题在于提供一种能够实现DUT的温度调整中的响应性的提高的温度调整装置。为此，温度调整装置(8)具备：热交换构件(82)，其与DUT(300)接触；第八流通孔(821)，其通过热交换构件(82)的内部；以及连接部(817)，其使流体的流动回转而形成回转流(SF2)，将回转流(SF2)供给至第八流通孔(821)，回转流(SF2)是以第八流通孔(821)的中心轴(CA5)为中心而沿着第八流通孔(821)的内周面(821e)回转的制冷剂的流动。

公开(公告)号：CN112067969A

公开(公告)日：2020-12-11

申请号：CN202010263797.X

申请日：2020-04-07

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 加藤康之 ,  山田祐也 ,  高木慎太郎 ,  细贝弘树

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/26

Abstract: 本发明提供一种能够实现成本降低的电子部件处理装置。处理器(2)具备将DUT(5)按压于测试头(3)的插座(32)的臂(20)，臂(20)具备与DUT(5)接触的推动器(22)、以及经由推动器(22)对DUT(5)进行加热的加热器(21)，推动器(22)具备内部空间(223)和与内部空间(223)连通的通气路径(229)，并从测试头(3)经由通气路径(229)对内部空间(223)供给空气。

公开(公告)号：CN116577629A

公开(公告)日：2023-08-11

申请号：CN202211642691.6

申请日：2022-12-20

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 山田祐也

IPC: G01R31/28 ,  F25D31/00

Abstract: 本发明的课题在于提供能够实现响应性的提高并且能够实现加热器的损伤的防止的电子部件处理装置。为此，对DUT(300)进行处理的处理器(3)具备通过将DUT(300)朝向插座(2)按压而使DUT(300)与插座(2)电连接的推杆(6)，推杆(6)具备调整DUT(300)的温度的温度调整装置(7)，温度调整装置(7)包括作为加热源的加热器单元(71)，加热器单元(71)包括面状加热器(72)、配置于面状加热器(72)的第一主面(721a)的第一传热材料(73)、以及配置于面状加热器(72)的第二主面(721b)的第二传热材料(74)。

公开(公告)号：CN115684866A

公开(公告)日：2023-02-03

申请号：CN202210258276.4

申请日：2022-03-16

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 清川敏之 ,  山田祐也

IPC: G01R31/28 ,  G01R1/04

Abstract: 本发明提供一种试验用载体及电子部件试验装置，能够实现DUT的温度调整的高效化。在收容有DUT(90)的状态下被输送的试验用载体(1)具备供从试验用载体(1)的外部供给的空气流通的流路(63)。

公开(公告)号：CN119065420A

公开(公告)日：2024-12-03

申请号：CN202410692943.9

申请日：2024-05-31

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 山田祐也

IPC: G05D23/22

Abstract: 本发明提供一种能够实现新品种的DUT的试验的启动的迅速化的温度调整系统。温度调整系统(2)具备：温度调整装置(50)，其调整DUT(100)的温度；信号生成装置(30)，其获取从DUT(100)所具备的温度检测电路(120)输出并表示DUT(100)的内部温度的第一数字信号，并输出第二数字信号；以及控制装置(80)，其使用该第二数字信号来控制温度调整装置(50)。

公开(公告)号：CN112067969B

公开(公告)日：2023-08-29

申请号：CN202010263797.X

申请日：2020-04-07

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 加藤康之 ,  山田祐也 ,  高木慎太郎 ,  细贝弘树

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/26

Abstract: 本发明提供一种能够实现成本降低的电子部件处理装置。处理器(2)具备将DUT(5)按压于测试头(3)的插座(32)的臂(20)，臂(20)具备与DUT(5)接触的推动器(22)、以及经由推动器(22)对DUT(5)进行加热的加热器(21)，推动器(22)具备内部空间(223)和与内部空间(223)连通的通气路径(229)，并从测试头(3)经由通气路径(229)对内部空间(223)供给空气。

公开(公告)号：CN116577630A

公开(公告)日：2023-08-11

申请号：CN202211643256.5

申请日：2022-12-20

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 山田祐也

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明的课题在于提供一种能够实现温度控制中的响应性的提高的电子部件处理装置。为此，对DUT(300)进行处理的电子部件处理装置具备通过将DUT(300)朝向插座(2)按压而将DUT(300)与插座(2)电连接的推杆(6)，推杆(6)具备与DUT(300)接触的接触板(62)和保持接触板(62)的保持器(63)，在接触板(62)与DUT(300)接触时，接触板(62)从保持器(63)离开，在接触板(62)不与DUT(300)接触时，接触板(62)由保持器(63)保持。

公开(公告)号：CN119438853A

公开(公告)日：2025-02-14

申请号：CN202411076269.8

申请日：2024-08-07

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 山田祐也

IPC: G01R31/28 ,  G01K7/02 ,  G01K7/16 ,  G01K7/18 ,  G01K7/22 ,  G01K1/18

Abstract: 本发明提供一种能够提高温度传感器的感测的响应性的温度测定装置。温度测定装置(8)是测定DUT(300)的温度的温度测定装置。温度测定装置(8)具备与DUT(300)热连接的第一传热构件(73)、以及与第一传热构件(73)接触的温度传感器(812)，第一传热构件(73)是沿着水平方向延伸的片状的构件。

公开(公告)号：CN303142306S

公开(公告)日：2015-03-25

申请号：CN201430294145.8

申请日：2014-08-19

Applicant: 株式会社爱德万测试

Designer： 相泽光范 ,  山田祐也

Abstract: 1．本外观设计产品的名称：插入件。2．本外观设计产品的用途：用于测试电子部件性能或功能等的电子部件操作装置中，为了使待测试电子部件与测试头接触而收纳待测试电子部件。3．本外观设计产品的设计要点：在于产品的形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图1。

公开(公告)号：CN303075010S

公开(公告)日：2015-01-14

申请号：CN201430296153.6

申请日：2014-08-19

Applicant: 株式会社爱德万测试

Designer： 相泽光范 ,  山田祐也

Abstract: 1．本外观设计产品的名称：插入件的内框部件。2．本外观设计产品的用途：用于测试电子部件性能或功能等的电子部件操作装置中，是收纳待测试电子部件的插入件的构成部件。3．本外观设计产品的设计要点：在于产品的形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图1。