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公开(公告)号：CN112067969B
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202010263797.X
申请日：2020-04-07
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 本发明提供一种能够实现成本降低的电子部件处理装置。处理器(2)具备将DUT(5)按压于测试头(3)的插座(32)的臂(20)，臂(20)具备与DUT(5)接触的推动器(22)、以及经由推动器(22)对DUT(5)进行加热的加热器(21)，推动器(22)具备内部空间(223)和与内部空间(223)连通的通气路径(229)，并从测试头(3)经由通气路径(229)对内部空间(223)供给空气。
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公开(公告)号：CN112067969A
公开(公告)日：2020-12-11
申请号：CN202010263797.X
申请日：2020-04-07
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 本发明提供一种能够实现成本降低的电子部件处理装置。处理器(2)具备将DUT(5)按压于测试头(3)的插座(32)的臂(20)，臂(20)具备与DUT(5)接触的推动器(22)、以及经由推动器(22)对DUT(5)进行加热的加热器(21)，推动器(22)具备内部空间(223)和与内部空间(223)连通的通气路径(229)，并从测试头(3)经由通气路径(229)对内部空间(223)供给空气。
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公开(公告)号：CN304138602S
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201630224369.0
申请日：2016-06-02
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 1．本外观设计产品的名称：用于电子零件测试装置的插座；2．本外观设计产品的用途：插座可安装于对半导体集成电路等电子零件的电气特性进行测试的电子零件测试装置，如用于表示使用状态的参考截面图所示，在测试电子零件时，从上方按压由插入物保持的电子零件以使该电子零件贴附于插座，并使由该电子零件引出的外部连接端子与插座的端子（端子在俯视图中由多个圆表示）接触，由此，通过插座实现了电子零件与电子零件测试装置的连接。
电子零件测试装置在该状态下对电子零件进行测试。
配置于端子周围的8个凹部（参照俯视图及立体图）设置用于避免对电子零件进行把持的插入物的爪部与本产品之间的干扰。
在电子零件接近于插座时，利用图像识别处理，可高精度地相对插座对电子零件进行定位。
俯视图所示的黑色的矩形框用于图像识别处理；3．本外观设计的设计要点：在设计1的用于说明特征部分的参考立体图及设计2的用于说明特征部分的参考立体图中，实线所示的部分为本外观设计要特别保护的部分，而虚线所示的部分，为特别保护部分之外的部分，点画线用于表示要特别保护的部分与其他部分之间的分界；4．最能表明设计要点的图片或者照片：设计1俯视图；5.指定设计1为基本设计；6.在设计2中，由于其仰视图、主视图、后视图、左视图及右视图分别与设计1的仰视图、主视图、后视图、左视图及右视图相同，因此省略设计2的仰视图、主视图、后视图、左视图及右视图。
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