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公开(公告)号：CN1230691A
公开(公告)日：1999-10-06
申请号：CN99104797.4
申请日：1999-04-02
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2851 , G01R1/0483 , G01R31/01 , G01R31/2893
Abstract: 本发明的目的是提高向被测试IC的接触部的定位精度。该IC测试装置把被测试IC的输入输出端子HB压到检测头的触针51上来进行检测,在被测试IC的检测托架的插入器19中设置与被测试IC的焊锡球HB相嵌合的孔23。
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公开(公告)号：CN1610832A
公开(公告)日：2005-04-27
申请号：CN02826581.5
申请日：2002-03-06
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 齐藤登
CPC classification number: G01R1/0433 , G01R31/2893 , H05K7/02
Abstract: 本发明的目的在于提供一种可插拔地安装在插入体主体上的引导核心和可插拔地安装引导核心的插入体主体。所述引导核心其特征在于包括：为了使区域阵列型电子部件的外部端子向插座的连接端子方向露出，支撑所述区域阵列型电子部件的外部端子面的支撑部；能够可装卸地与所述插入体主体所具有的钩部配合的钩承部。所述插入体主体其特征在于包括：具有安装所述引导核心的引导核心安装口、以及为了把电子部件向安装在所述引导核心安装口上的所述引导核心引导而与所述引导核心安装口连通的电子部件进入口的电子部件引导部；和能可装卸地与所述引导核心具有的钩承部配合的钩部。
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公开(公告)号：CN1171093C
公开(公告)日：2004-10-13
申请号：CN99104797.4
申请日：1999-04-02
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G01R31/2851 , G01R1/0483 , G01R31/01 , G01R31/2893
Abstract: 本发明的目的是提高向被测试IC的接触部的定位精度。该IC测试装置把被测试IC的输入输出端子HB压到检测头的触针51上来进行检测，在被测试IC的检测托架的插入器19中设置与被测试IC的焊锡球HB相嵌合的孔23。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100365422C
公开(公告)日：2008-01-30
申请号：CN02826581.5
申请日：2002-03-06
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 齐藤登
CPC classification number: G01R1/0433 , G01R31/2893 , H05K7/02
Abstract: 本发明的目的在于提供一种可插拔地安装在插入体主体上的引导核心和可插拔地安装引导核心的插入体主体。所述引导核心其特征在于包括：为了使区域阵列型电子部件的外部端子向插座的连接端子方向露出，支撑所述区域阵列型电子部件的外部端子面的支撑部；能够可装卸地与所述插入体主体所具有的钩部配合的钩承部。所述插入体主体其特征在于包括：具有安装所述引导核心的引导核心安装口、以及为了把电子部件向安装在所述引导核心安装口上的所述引导核心引导而与所述引导核心安装口连通的电子部件进入口的电子部件引导部；和能可装卸地与所述引导核心具有的钩承部配合的钩部。
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公开(公告)号：CN1997902A
公开(公告)日：2007-07-11
申请号：CN200480043728.7
申请日：2004-07-09
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2887 , G01R31/2891 , Y10T29/49218 , Y10T29/53209 , Y10T29/53213
Abstract: 推压器(30)由推压器座(31)和可拆装地安装在推压器座(31)上的推压子(32)构成。具体的是，在推压子(32)的基部设置凸缘部(321)，在推压器座(31)设置平面视为コ字形的板(33)。然后，通过由板(33)支承推压子(32)的凸缘部(321)同时使推压子(32)相对推压器座(31)滑动，从而不需要工具就可以使推压子(32)相对于推压器(30)拆装。
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公开(公告)号：CN100526896C
公开(公告)日：2009-08-12
申请号：CN200480043728.7
申请日：2004-07-09
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2887 , G01R31/2891 , Y10T29/49218 , Y10T29/53209 , Y10T29/53213
Abstract: 推压器(30)由推压器座(31)和可拆装地安装在推压器座(31)上的推压子(32)构成。具体的是，在推压子(32)的基部设置凸缘部(321)，在推压器座(31)设置平面视为コ字形的板(33)。然后，通过由板(33)支承推压子(32)的凸缘部(321)同时使推压子(32)相对推压器座(31)滑动，从而不需要工具就可以使推压子(32)相对于推压器(30)拆装。
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公开(公告)号：CN1124492C
公开(公告)日：2003-10-15
申请号：CN99108832.8
申请日：1999-06-25
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 齐藤登
CPC classification number: G01R31/01
Abstract: 提供施加在被试验IC的接触部分的推压力均一性优良的IC试验装置。这是一种把被试验IC的输入输出端子推压到试验头的接触引脚51上进行试验的IC试验装置，具备被设置为对接触引脚51可以进行靠近离开的推进器基座34，设在推进器基座上与被试验IC接触后对之进行推压的推进器块31，对推进器块在被试验IC的推压方向上提供弹力的弹簧36。
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公开(公告)号：CN1241725A
公开(公告)日：2000-01-19
申请号：CN99108832.8
申请日：1999-06-25
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 齐藤登
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/01
Abstract: 提供施加在被试验IC的接触部分的推压力均一性优良的IC试验装置。这是一种把被试验IC的输入输出端子推压到试验头的接触引脚51上进行试验的IC试验装置,具备被设置为对接触引脚51可以进行靠近离开的推进器基座34,设在推进器基座上与被试验IC接触后对之进行推压的推进器块31,对推进器块在被试验IC的推压方向上提供弹力的弹簧36。
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