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公开(公告)号：CN117836616B
公开(公告)日：2025-03-04
申请号：CN202280057712.X
申请日：2022-05-10
Applicant: 株式会社理学
Inventor： 多田勉
IPC: G01N23/223 , G01T1/36
Abstract: 在本发明中，无论X射线探测器的种类和前置放大器的电路结构如何，即使在高计数的X射线测量时也高速且高精度地进行X射线信号的峰值的测量。本发明具有：激发源；X射线探测器；输出模拟信号的前置放大器；将模拟信号转换为数字信号的AD转换器；检测入射定时的信号检测部；将数字信号转换为包含上升部和上升前后的平坦部的阶梯波的波形转换部；生成包含台阶或峰的整形波的波形整形部；基于入射定时和阶梯等测量峰值的峰值测量部、使用入射定时取得包含上升部的阶梯波的一部分，并使用包含多个取得的一部分和峰值的组的学习用数据而生成已学习这些相关关系的学习模型的学习部；以及使用入射定时从新转换的阶梯波中取得阶梯波的一部分，并基于取得的阶梯波的一部分和学习模型而计算预测峰值的峰值预测部。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110088605B
公开(公告)日：2021-03-02
申请号：CN201880004182.6
申请日：2018-07-12
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/2252 , G01T1/17 , G01T1/36
Abstract: 本发明提供一种X射线分析用信号处理装置及X射线分析用信号处理装置的调整方法，能够高精度地进行时间常数的校正并使得用于进行该校正的调整工作简单且迅速。X射线分析用信号处理装置(100)的特征在于，具有差分电路(106)，使用第一时间常数将X射线检测器(102)输出的信号转换为模拟信号的差分波；AD转换器(108)，将所述模拟信号的差分波转换为数字信号的差分波；波形整形数字滤波器(116)，使用第二时间常数对所述数字信号的差分波进行整形；直方图生成部(119)，基于整形完毕的波形的至少两处区域的波峰值取得所述整形完毕的波形的特征值，生成表示每个所述特征值的取得频率的直方图。
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公开(公告)号：CN110088605A
公开(公告)日：2019-08-02
申请号：CN201880004182.6
申请日：2018-07-12
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/2252 , G01T1/17 , G01T1/36
Abstract: 本发明提供一种X射线分析用信号处理装置及X射线分析用信号处理装置的调整方法，能够高精度地进行时间常数的校正并使得用于进行该校正的调整工作简单且迅速。X射线分析用信号处理装置(100)的特征在于，具有差分电路(106)，使用第一时间常数将X射线检测器(102)输出的信号转换为模拟信号的差分波；AD转换器(108)，将所述模拟信号的差分波转换为数字信号的差分波；波形整形数字滤波器(116)，使用第二时间常数对所述数字信号的差分波进行整形；直方图生成部(119)，基于整形完毕的波形的至少两处区域的波峰值取得所述整形完毕的波形的特征值，生成表示每个所述特征值的取得频率的直方图。
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公开(公告)号：CN116868048B
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202180076558.6
申请日：2021-11-01
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明的课题在于提供一种分析灵敏度高且分析速度快的全反射荧光X射线分析装置。本发明的全反射荧光X射线分析装置具有：X射线源，其具有电子束焦点，该电子束焦点的与试样表面平行且与X射线照射方向正交的方向的有效宽度大于所述照射方向的尺寸；分光元件，其所述正交的方向的有效宽度大于电子束焦点，且具有沿所述照射方向弯曲的面；及检测器，其沿所述正交的方向排列多个而配置，测量自照射有利用所述分光元件所集光的所述X射线的所述试样产生的荧光X射线的强度。
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公开(公告)号：CN117836616A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202280057712.X
申请日：2022-05-10
Applicant: 株式会社理学
Inventor： 多田勉
IPC: G01N23/223 , G01T1/36
Abstract: 在本发明中，无论X射线探测器的种类和前置放大器的电路结构如何，即使在高计数的X射线测量时也高速且高精度地进行X射线信号的峰值的测量。本发明具有：激发源；X射线探测器；输出模拟信号的前置放大器；将模拟信号转换为数字信号的AD转换器；检测入射定时的信号检测部；将数字信号转换为包含上升部和上升前后的平坦部的阶梯波的波形转换部；生成包含台阶或峰的整形波的波形整形部；基于入射定时和阶梯等测量峰值的峰值测量部、使用入射定时取得包含上升部的阶梯波的一部分，并使用包含多个取得的一部分和峰值的组的学习用数据而生成已学习这些相关关系的学习模型的学习部；以及使用入射定时从新转换的阶梯波中取得阶梯波的一部分，并基于取得的阶梯波的一部分和学习模型而计算预测峰值的峰值预测部。
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公开(公告)号：CN116868048A
公开(公告)日：2023-10-10
申请号：CN202180076558.6
申请日：2021-11-01
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明的课题在于提供一种分析灵敏度高且分析速度快的全反射荧光X射线分析装置。本发明的全反射荧光X射线分析装置具有：X射线源，其具有电子束焦点，该电子束焦点的与试样表面平行且与X射线照射方向正交的方向的有效宽度大于所述照射方向的尺寸；分光元件，其所述正交的方向的有效宽度大于电子束焦点，且具有沿所述照射方向弯曲的面；及检测器，其沿所述正交的方向排列多个而配置，测量自照射有利用所述分光元件所集光的所述X射线的所述试样产生的荧光X射线的强度。
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