公开(公告)号：CN1320621C

公开(公告)日：2007-06-06

申请号：CN01109722.1

申请日：2001-03-23

Applicant: 株式会社鼎新

Inventor： 格伦·A·戈梅斯 ,  安东尼·勒 ,  詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特 ,  罗基特·拉尤斯曼 ,  菅森茂

IPC: H01L21/66

CPC classification number: G01R31/31922 ,  G01R31/31921

Abstract: 在基于事件的测试系统中通过产生不同定时的事件对被测电子器件进行测试的装置和方法，该装置包括一个用于储存每个事件的定时数据和事件类型数据的事件存储器，其中，当前事件的定时数据是用延迟时间来表示的，在特定事件的定时数据中插入一个延迟时间，当前事件的总延迟时间比由事件存储器中的特定数目的数据位可以表示的要长；附加延迟时间是通过重复恰好在特定事件之前的事件的定时数据和事件类型数据而插入的，或者是通过在事件存储器中加入NOP事件而插入的。

公开(公告)号：CN1316772A

公开(公告)日：2001-10-10

申请号：CN01109722.1

申请日：2001-03-23

Applicant: 株式会社鼎新

Inventor： 格伦·A·戈梅斯 ,  安东尼·勒 ,  詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特 ,  罗基特·拉尤斯曼 ,  菅森茂

IPC: H01L21/66 ,  G01R31/26 ,  G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31922 ,  G01R31/31921

Abstract: 在基于事件的测试系统中通过产生不同定时的事件对被测电子器件进行测试的装置和方法，该装置包括一个用于储存每个事件的定时数据和事件类型数据的事件存储器，其中，当前事件的定时数据是用延迟时间来表示的，在特定事件的定时数据中插入一个延迟时间，当前事件的总延迟时间比由事件存储器中的特定数目的数据位可以表示的要长；附加延迟时间是通过重复恰好在特定事件之前的事件的定时数据和事件类型数据而插入的，或者是通过在事件存储器中加入NOP事件而插入的。