公开(公告)号：CN1774642A

公开(公告)日：2006-05-17

申请号：CN200480009920.4

申请日：2004-02-16

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 安肯·拉马尼克 ,  马克·艾尔斯顿 ,  陈良力 ,  罗伯·萨乌尔

IPC: G01R31/319

Abstract: 本发明描述一种用于半导体测试系统的分布式操作系统，如自动化测试设备(ATE)。该操作系统包括一用于藉由一系统控制器实现对一个或多个现场控制器进行控制的主操作系统。一个或多个本地操作系统，每个都与一现场控制器相关联，藉由一相关联的现场控制器实现对一个或多个测试模块的控制。每个测试模块在一测试现场执行对一个对应的被测元件的测试。

公开(公告)号：CN1768275A

公开(公告)日：2006-05-03

申请号：CN200480008414.3

申请日：2004-03-30

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 东晋作 ,  市吉清司 ,  安肯·拉马尼克 ,  马克·艾尔斯顿 ,  陈利 ,  罗伯·萨乌尔 ,  瑞马克德兰·克里沙瓦米 ,  赫杉吉尔·辛区 ,  足立敏明 ,  田原善文

IPC: G01R31/3183

CPC classification number: G01R31/318342 ,  G01R31/318307 ,  G01R31/31907

Abstract: 本发明提供一种测试模拟装置，其具有对依据不同循环周期生成测试信号用的所述数个测试模组实施模拟的数个测试模组模拟部；使所述数个测试模组模拟部模拟生成的循环时间相对应的测试信号的测试信号生成用计时时间实施生成的同步模拟部；对所述同步模拟部生成出的数个所述测试信号生成用计时时间，按时间顺序进行排列并实施依次输出用的计时时间排列部；以及使与所述计时时间排列部输出的一个所述测试信号生成用计时时间相对应的所述测试模组模拟部分，在与该一个测试信号生成用计时时间相对应的循环时间里模拟生成测试信号用的进度安排部。

公开(公告)号：CN100456043C

公开(公告)日：2009-01-28

申请号：CN200480009920.4

申请日：2004-02-16

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 安肯·拉马尼克 ,  马克·艾尔斯顿 ,  陈良力 ,  罗伯·萨乌尔

IPC: G01R31/319

Abstract: 本发明描述一种用于半导体测试系统的分布式操作系统，如自动化测试设备(ATE)。该操作系统包括一用于藉由一系统控制器实现对一个或多个现场控制器进行控制的主操作系统。一个或多个本地操作系统，每个都与一现场控制器相关联，藉由一相关联的现场控制器实现对一个或多个测试模块的控制。每个测试模块在一测试现场执行对一个对应的被测元件的测试。

公开(公告)号：CN1784609A

公开(公告)日：2006-06-07

申请号：CN200480009690.1

申请日：2004-02-16

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 克里沙瓦米·瑞马克德兰 ,  辛区·赫杉吉尔 ,  安肯·拉马尼克 ,  马克·艾尔斯顿 ,  陈良力 ,  足立敏明 ,  田原善文

IPC: G01R31/319 ,  G01R31/3183 ,  G06F11/263

CPC classification number: G01R31/31907 ,  G01R31/318307 ,  G01R31/318342

Abstract: 本发明描述了一种用于例如自动测试装置(ATE)等的使用面向对象结构的半导体测试系统的测试程序。本发明提供一种以通用面向对象结构(例如，C++对象和类)来描述测试系统资源、测试系统配置、模块配置测试序列、测试计划、测试条件、测试模式和计时信息的方法。特定而言，程序开发的模块性适用于开发开放式架构半导体测试系统的测试程序。

公开(公告)号：CN1784609B

公开(公告)日：2011-02-23

申请号：CN200480009690.1

申请日：2004-02-16

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 克里沙瓦米·瑞马克德兰 ,  辛区·赫杉吉尔 ,  安肯·拉马尼克 ,  马克·艾尔斯顿 ,  陈良力 ,  足立敏明 ,  田原善文

IPC: G01R31/319 ,  G01R31/3183 ,  G06F11/263

CPC classification number: G01R31/31907 ,  G01R31/318307 ,  G01R31/318342

Abstract: 本发明描述了一种用于例如自动测试装置(ATE)等的使用面向对象结构的半导体测试系统的测试程序。本发明提供一种以通用面向对象结构(例如，C++对象和类)来描述测试系统资源、测试系统配置、模块配置测试序列、测试计划、测试条件、测试模式和计时信息的方法。特定而言，程序开发的模块性适用于开发开放式架构半导体测试系统的测试程序。

公开(公告)号：CN100489554C

公开(公告)日：2009-05-20

申请号：CN200480008414.3

申请日：2004-03-30

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 东晋作 ,  市吉清司 ,  安肯·拉马尼克 ,  马克·艾尔斯顿 ,  陈利 ,  罗伯·萨乌尔 ,  瑞马克德兰·克里沙瓦米 ,  赫杉吉尔·辛区 ,  足立敏明 ,  田原善文

IPC: G01R31/3183

CPC classification number: G01R31/318342 ,  G01R31/318307 ,  G01R31/31907

Abstract: 本发明提供一种测试装置，其具有对依据不同循环周期生成测试信号用的所述数个测试模组实施模拟的数个测试模组模拟部；使所述数个测试模组模拟部模拟生成的循环时间相对应的测试信号的测试信号生成用计时时间实施生成的同步模拟部；对所述同步模拟部生成出的数个所述测试信号生成用计时时间，按时间顺序进行排列并实施依次输出用的计时时间排列部；以及使与所述计时时间排列部输出的一个所述测试信号生成用计时时间相对应的所述测试模组模拟部分，在与该一个测试信号生成用计时时间相对应的循环时间里模拟生成测试信号用的进度安排部。