公开(公告)号：CN100489554C

公开(公告)日：2009-05-20

申请号：CN200480008414.3

申请日：2004-03-30

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 东晋作 ,  市吉清司 ,  安肯·拉马尼克 ,  马克·艾尔斯顿 ,  陈利 ,  罗伯·萨乌尔 ,  瑞马克德兰·克里沙瓦米 ,  赫杉吉尔·辛区 ,  足立敏明 ,  田原善文

IPC: G01R31/3183

CPC classification number: G01R31/318342 ,  G01R31/318307 ,  G01R31/31907

Abstract: 本发明提供一种测试装置，其具有对依据不同循环周期生成测试信号用的所述数个测试模组实施模拟的数个测试模组模拟部；使所述数个测试模组模拟部模拟生成的循环时间相对应的测试信号的测试信号生成用计时时间实施生成的同步模拟部；对所述同步模拟部生成出的数个所述测试信号生成用计时时间，按时间顺序进行排列并实施依次输出用的计时时间排列部；以及使与所述计时时间排列部输出的一个所述测试信号生成用计时时间相对应的所述测试模组模拟部分，在与该一个测试信号生成用计时时间相对应的循环时间里模拟生成测试信号用的进度安排部。

公开(公告)号：CN1768275A

公开(公告)日：2006-05-03

申请号：CN200480008414.3

申请日：2004-03-30

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 东晋作 ,  市吉清司 ,  安肯·拉马尼克 ,  马克·艾尔斯顿 ,  陈利 ,  罗伯·萨乌尔 ,  瑞马克德兰·克里沙瓦米 ,  赫杉吉尔·辛区 ,  足立敏明 ,  田原善文

IPC: G01R31/3183

CPC classification number: G01R31/318342 ,  G01R31/318307 ,  G01R31/31907

Abstract: 本发明提供一种测试模拟装置，其具有对依据不同循环周期生成测试信号用的所述数个测试模组实施模拟的数个测试模组模拟部；使所述数个测试模组模拟部模拟生成的循环时间相对应的测试信号的测试信号生成用计时时间实施生成的同步模拟部；对所述同步模拟部生成出的数个所述测试信号生成用计时时间，按时间顺序进行排列并实施依次输出用的计时时间排列部；以及使与所述计时时间排列部输出的一个所述测试信号生成用计时时间相对应的所述测试模组模拟部分，在与该一个测试信号生成用计时时间相对应的循环时间里模拟生成测试信号用的进度安排部。