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公开(公告)号：CN1784609A
公开(公告)日：2006-06-07
申请号：CN200480009690.1
申请日：2004-02-16
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/319 , G01R31/3183 , G06F11/263
CPC classification number: G01R31/31907 , G01R31/318307 , G01R31/318342
Abstract: 本发明描述了一种用于例如自动测试装置(ATE)等的使用面向对象结构的半导体测试系统的测试程序。本发明提供一种以通用面向对象结构(例如，C++对象和类)来描述测试系统资源、测试系统配置、模块配置测试序列、测试计划、测试条件、测试模式和计时信息的方法。特定而言，程序开发的模块性适用于开发开放式架构半导体测试系统的测试程序。
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公开(公告)号：CN1768275A
公开(公告)日：2006-05-03
申请号：CN200480008414.3
申请日：2004-03-30
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/3183
CPC classification number: G01R31/318342 , G01R31/318307 , G01R31/31907
Abstract: 本发明提供一种测试模拟装置，其具有对依据不同循环周期生成测试信号用的所述数个测试模组实施模拟的数个测试模组模拟部；使所述数个测试模组模拟部模拟生成的循环时间相对应的测试信号的测试信号生成用计时时间实施生成的同步模拟部；对所述同步模拟部生成出的数个所述测试信号生成用计时时间，按时间顺序进行排列并实施依次输出用的计时时间排列部；以及使与所述计时时间排列部输出的一个所述测试信号生成用计时时间相对应的所述测试模组模拟部分，在与该一个测试信号生成用计时时间相对应的循环时间里模拟生成测试信号用的进度安排部。
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公开(公告)号：CN1784609B
公开(公告)日：2011-02-23
申请号：CN200480009690.1
申请日：2004-02-16
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/319 , G01R31/3183 , G06F11/263
CPC classification number: G01R31/31907 , G01R31/318307 , G01R31/318342
Abstract: 本发明描述了一种用于例如自动测试装置(ATE)等的使用面向对象结构的半导体测试系统的测试程序。本发明提供一种以通用面向对象结构(例如，C++对象和类)来描述测试系统资源、测试系统配置、模块配置测试序列、测试计划、测试条件、测试模式和计时信息的方法。特定而言，程序开发的模块性适用于开发开放式架构半导体测试系统的测试程序。
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公开(公告)号：CN100489554C
公开(公告)日：2009-05-20
申请号：CN200480008414.3
申请日：2004-03-30
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/3183
CPC classification number: G01R31/318342 , G01R31/318307 , G01R31/31907
Abstract: 本发明提供一种测试装置，其具有对依据不同循环周期生成测试信号用的所述数个测试模组实施模拟的数个测试模组模拟部；使所述数个测试模组模拟部模拟生成的循环时间相对应的测试信号的测试信号生成用计时时间实施生成的同步模拟部；对所述同步模拟部生成出的数个所述测试信号生成用计时时间，按时间顺序进行排列并实施依次输出用的计时时间排列部；以及使与所述计时时间排列部输出的一个所述测试信号生成用计时时间相对应的所述测试模组模拟部分，在与该一个测试信号生成用计时时间相对应的循环时间里模拟生成测试信号用的进度安排部。
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