-
公开(公告)号：CN100526898C
公开(公告)日：2009-08-12
申请号：CN200480032658.5
申请日：2004-10-27
Applicant: 爱德万测试株式会社 , 古河电气工业株式会社
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31905
Abstract: 一种测试装置以及电缆导引单元，以提供能满足多条光缆的曲率限制的排设技术为目的，测试装置100包括检测头102、主要框架104、光纤缆器106、光塞107、光缆108、周长差吸收装置110与电缆导引单元112。检测头102具有多块检测基板，此多块检测基板外加检测模型在被测试元件中。主要框架104根据检测头102控制检测程序。光纤缆器106具有多条平坦型缆线200，此平坦型缆线200用以光性连接检测头102和主要框架104。光塞107连接光纤缆器106和光缆108。周长差吸收装置110吸收平坦型缆线200之间的周长差。电缆导引单元112使光缆108保持弯曲，光缆108连接有主要框架104的检测基板612。
-
公开(公告)号：CN1875282A
公开(公告)日：2006-12-06
申请号：CN200480032658.5
申请日：2004-10-27
Applicant: 爱德万测试株式会社 , 古河电气工业株式会社
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31905
Abstract: 一种测试装置以及电缆导引单元，以提供能满足多条光缆的曲率限制的排设技术为目的，测试装置100包括检测头102、主要框架104、光纤缆器106、光塞107、光缆108、周长差吸收装置110与电缆导引单元112。检测头102具有多块检测基板，此多块检测基板外加检测模型在被测试元件中。主要框架104根据检测头102控制检测程序。光纤缆器106具有多条平坦型缆线200，此平坦型缆线200用以旋光性连接检测头102和主要框架104。光塞107连接光纤缆器106和光缆108。周长差吸收装置110吸收平坦型缆线200之间的周长差。电缆导引单元112使光缆108保持弯曲，光缆108连接有主要框架104的检测基板612。
-
公开(公告)号：CN101646954A
公开(公告)日：2010-02-10
申请号：CN200880010198.4
申请日：2008-03-21
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/28 , H01L21/822 , H01L27/04
CPC classification number: G01R31/31813 , G01R31/318385 , G01R31/318544
Abstract: 本发明提供一种测试装置，是测试具有外部接口电路的被测试器件的测试装置，所述外部接口电路在该器件内部的内部电路和该器件外部之间进行信号传输，所述测试装置包括：接口控制部，使在所述外部接口电路中折回输出所述测试图形；接口判断部，根据所述外部接口电路折回输出的所述测试图形，判定所述外部接口电路的好坏。
-
公开(公告)号：CN101233704A
公开(公告)日：2008-07-30
申请号：CN200680027622.7
申请日：2006-07-19
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: H04B10/6932
Abstract: 本发明提供一种光信号接收装置，用于接收光信号，输出通过光信号传输的数码数据的数据值。该装置包括：接收光信号，输出对应光信号强度的光电流的受光元件；将与数码数据的现周期对应的光电流，进行周期内的规定期间积分的现周期积分器；将与现周期的前周期对应的光电流，在该周期中进行和规定的期间大致相等的期间积分的前周期积分器；根据现周期积分器积分的电荷量和前周期积分器积分的电荷量的差分，输出数码数据的现周期中的数据值的数据值识别电路。
-
公开(公告)号：CN1883153A
公开(公告)日：2006-12-20
申请号：CN200480034306.3
申请日：2004-04-28
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: H03L7/0812 , G01R31/31922 , H03K5/135 , H03K2005/00026 , H03L7/0805 , H04L1/205 , H04L1/24 , H04L7/0008 , H04L7/0037 , H04L7/0041
Abstract: 本发明的一种时钟恢复电路，包括：多级第1可变延迟元件，使数据信号依次延迟第1延迟量；多级第2可变延迟元件，使时钟信号依次延迟大于第1延迟量的第2延迟量；多个定时比较器，根据因同一级第2可变延迟元件而延迟的时钟信号，对因多级第1可变延迟元件而延迟的多个数据信号进行抽样；多个EOR电路，对连续的2个定时比较器的2个抽样结果进行逻辑异或运算；以及恢复可变延迟电路，依据多个EOR电路的运算结果，使时钟信号延迟。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1833175A
公开(公告)日：2006-09-13
申请号：CN200480022637.5
申请日：2004-04-28
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/3181
CPC classification number: G01R31/31922 , H03K5/133 , H03K5/135 , H03K2005/00026 , H03L7/07 , H03L7/0805 , H03L7/0812 , H03L7/0814 , H03L7/091 , H04L7/00 , H04L7/0037 , H04L7/0041
Abstract: 本发明中所述的数据取样装置包含：多数段第1可变延迟元件，其以第1延迟量依次延迟数据信号；多数段第2可变延迟元件，其以大于第1延迟量的第2延迟量依次延迟选通信号；以及多数个时序比较器，其利用由同一段的第2可变延迟元件而延迟的选通信号，对由多数段第1可变延迟元件而延迟的多数个数据信号进行取样；并且，时序比较器具备：动态D－FF电路，其根据选通信号且使用寄生电容锁存数据信号并进行输出，以及正反馈D－FF电路，其根据延迟的选通信号且使用正反馈电路将动态D－FF电路所输出的输出信号锁存并进行输出。
-
公开(公告)号：CN101657731B
公开(公告)日：2012-10-10
申请号：CN200880012375.2
申请日：2008-04-21
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/3183 , H03K5/156 , G01R29/02
CPC classification number: G01R31/31917 , G01R29/26 , G01R31/31709 , G01R31/31937 , H03K3/84 , H03K5/156
Abstract: 本发明提供一种测试装置，是对被测试器件进行测试的测试装置，包括：产生用于规定应供给至被测试器件的测试信号的测试图案的图案生成部；产生表示将测试信号供给至被测试器件时序的时序信号的时序信号产生部；对测试图案进行滤波，输出表示与测试图案相对应的抖动的抖动控制信号的数字滤波器；根据抖动控制信号而使时序信号延迟，借此将抖动施加至时序信号的抖动施加部；以及波形成形部，以施加了抖动的时序信号为基准，生成已形成测试图案的测试信号。
-
公开(公告)号：CN101233704B
公开(公告)日：2011-04-20
申请号：CN200680027622.7
申请日：2006-07-19
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: H04B10/6932
Abstract: 本发明提供一种光信号接收装置，用于接收光信号，输出通过光信号传输的数码数据的数据值。该装置包括：接收光信号，输出对应光信号强度的光电流的受光元件；将与数码数据的现周期对应的光电流，进行周期内的规定期间积分的现周期积分器；将与现周期的前周期对应的光电流，在该周期中进行和规定的期间大致相等的期间积分的前周期积分器；根据现周期积分器积分的电荷量和前周期积分器积分的电荷量的差分，输出数码数据的现周期中的数据值的数据值识别电路。
-
公开(公告)号：CN101088018B
公开(公告)日：2010-05-12
申请号：CN200580044457.1
申请日：2005-11-25
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2889
Abstract: 本发明提供一种测试装置，具有：向电子设备施加测试图案的测试头；设置了多个机架侧连接器并通过机架侧连接器将控制信号提供给测试头的主机机架；将机架侧连接器和测试头进行光连接并将控制信号传输给测试头的电缆单元；其中电缆单元具有：用于传输控制信号的多个光纤电缆；设置在光纤电缆端部并与多个机架侧连接器对应而设置的多个单元侧连接器；对主机机架固定电缆单元的单元固定部；能够相对于对应的机架侧连接器各自独立插拔地保持各个单元侧连接器的连接器保持部。
-
公开(公告)号：CN101238566A
公开(公告)日：2008-08-06
申请号：CN200580051329.X
申请日：2005-08-18
Applicant: 爱德万测试株式会社 , 国立大学法人东北大学
IPC: H01L21/66 , H01L21/822 , H01L27/04
CPC classification number: H01L23/544 , G01R31/31718 , G11C2029/4402 , H01L21/76254 , H01L22/14 , H01L2223/5444 , H01L2924/0002 , Y10T29/49004 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供电子器件的器件识别方法，是识别具有电子器件实际工作时工作的实际工作电路；以及设有多个测试用元件，在测试电子器件时工作的测试用电路的电子器件的器件识别方法；该方法具有：特性测量步骤，其测试多个测试用元件的电特性；识别信息存储步骤，其作为电子器件的识别信息存储各个测试用元件的电特性；识别信息取得步骤，其为了识别所需的电子器件，测量该电子器件中包含的多个测试用元件的电特性，取得该电子器件的识别信息；匹配步骤，其将识别信息取得步骤取得的前述识别信息与识别信息存储步骤存储的识别信息进行比较，当识别信息一致的情况下，判定为同一电子器件。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
27
records
(took 0.062 seconds)
