플라즈마 장치
    1.
    发明授权
    플라즈마 장치 失效
    等离子体设备

    公开(公告)号:KR100155569B1

    公开(公告)日:1998-11-16

    申请号:KR1019910012351

    申请日:1991-07-19

    CPC classification number: H01J37/32935 H01J37/32963 H01J37/3455

    Abstract: 본 발명은 플라즈마광의 강도 변화에 따라서 플라즈마 처리의 종점을 정확히 검출하는 플라즈마 장치에 대한 것이다. 플라즈마 처리부는 플라즈마 발생부에 의해 발생된 플라즈마를 이동시켜 피처리 물질에 대한 플라즈마 처리를 실행한다. 센서부(30)는 플라즈마 처리부에 의해 플라즈마 처리가 실행될 때 플라즈마 중의 예정된 파장을 갖는 플라즈마 강도에 대응한 전기신호를 출력한다.
    평활화부(40)는 수광센서로 부터의 전기신호를 평활화한다. 종점 검출부(50)는 상기 평활화부에서 평활화된 신호에 따라서 상기 플라즈마 처리의 종점을 검출한다.

    플라즈마 에칭장치
    5.
    发明授权
    플라즈마 에칭장치 失效
    等离子体蚀刻装置

    公开(公告)号:KR100167475B1

    公开(公告)日:1999-02-01

    申请号:KR1019910020979

    申请日:1991-11-22

    Inventor: 고야마시로

    CPC classification number: H01J37/32935 H01J37/32963 H01J37/3405 H01J37/3455

    Abstract: 마그네트 플라즈마 에칭장치는, 챔버와 기판 재치대를 구비한다.
    상기 재치대는 RF전원에 접속되는 고전위전극이 상기 챔버에 접지되는 저전위전극이 각각 배치된다. 상기 챔버 밖의 윗쪽의 회전마그네트가 배치되고, 상기 양전극에서 형성되는 전계와 직교하는 회전자계가 형성된다. 상기 챔버의 측부에는, 상기 기판의 에칭의 종점을 검출하는 종점검출부재가 배설된다. 상기 종점검출부내는, 상기 자계의 회전중심근방부분의 빛을 주로 집광한다.
    상기 집광광의 속에서 상기 에칭의 진행에 따라 강도변화가 큰 스펙트럼이 분광되고, 그 발광강도가 제1전기신호로 변환된다. 또, 상기 집광광의 발광강도가 제2전기신호로 변환된다.
    상기 종점검출수단은, 상기 제1 및 제2전기신호의 비를 연산하고, 상기 비에 따라서 상기 에칭의 종점을 검출한다.

    플라즈마 처리장치
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:KR1019940020497A

    公开(公告)日:1994-09-16

    申请号:KR1019940002805

    申请日:1994-02-16

    Abstract: 플라즈마 생성용 대향전극의 한 쪽 서셉터에, 정전척 및 피처리체의 상부 돌출용 핀이 설치되어 있다. 상부 돌출용 핀과 서셉터가 전기적으로 접속되어 있다. 서셉터에의 RF 전력 공급회로와 병렬로 서셉터에 대전할 가능성이 있는 전하를 방전하는 접지회로가 설치되어 있다. 따라서, 서셉터에의 전력 공급회로에 잔류하는 전하를 방전할 수 있음과 동시에, 상부 돌출용 핀과 서셉터 사이의 이상방전을 방지한다.

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