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公开(公告)号:KR100538863B1
公开(公告)日:2005-12-23
申请号:KR1020010021912
申请日:2001-04-24
Applicant: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤
IPC: H01L21/3065
Abstract: 플라즈마 에칭 장치는 기밀한 처리실 내에 배치된 재치대를 포함한다. 재치대는 웨이퍼를 재치하는 주재치면과, 포커스 링을 재치하는 부재치면을 갖는다. 재치대 내에는 주재치면 및 부재치면에 냉열을 부여하기 위한 냉각 기구가 배치된다. 부재치면과 포커스 링 사이에 도전성 실리콘 고무로 구성되는 열전달 매체가 개재된다. 가압 기구에 의해 포커스 링이 부재치면을 향하여 가압된다. 열전달 매체는 열전달 매체가 없는 경우보다도 부재치면과 포커스 링 사이의 열전도성을 높인다.
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公开(公告)号:KR1020010098814A
公开(公告)日:2001-11-08
申请号:KR1020010021912
申请日:2001-04-24
Applicant: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤
IPC: H01L21/3065
Abstract: 플라즈마 에칭 장치는 기밀한 처리실 내에 배치된 재치대를 포함한다. 재치대는 웨이퍼를 재치하는 주재치면과, 포커스 링을 재치하는 부재치면을 갖는다. 재치대 내에는 주재치면 및 부재치면에 냉열을 부여하기 위한 냉열 기구가 배치된다. 부재치면과 포커스 링 사이에 도전성 실리콘 고무로 구성되는 열전달 매체가 개재된다. 가압 기구에 의해 포커스 링이 부재치면을 향하여 가압된다. 열전달 매체는 열전달 매체가 없는 경우보다도 부재치면과 포커스 링 사이의 열전도성을 높인다.
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