公开(公告)号：KR20210029396A

公开(公告)日：2021-03-16

申请号：KR1020190110551A

申请日：2019-09-06

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 김태효 ,  변대석 ,  김찬호

IPC: H01L27/02 ,  H01L21/66 ,  H01L27/105

CPC classification number: H01L27/0214 ,  H01L22/34 ,  H01L22/30 ,  G01N21/9505 ,  H01L22/12 ,  H01L22/14 ,  H01L23/544 ,  H01L27/1052 ,  H01L27/115 ,  H01L27/11582

Abstract: 반도체 장치는, 중앙 영역과 상기 중앙 영역을 둘러싸는 외곽 영역을 포함하는 반도체 다이, 상기 중앙 영역의 복수의 서브 영역들에 형성되는 반도체 집적 회로, 상기 외곽 영역에 환형으로 형성되는 외측 크랙 검출 구조물(crack detection structure), 상기 복수의 서브 영역들에 각각 형성되는 복수의 내측 크랙 검출 구조물들, 및 상기 외측 크랙 검출 구조물 및 상기 복수의 내측 크랙 검출 구조물들의 전기적인 연결을 제어하는 복수의 경로 선택 회로들을 포함한다.

公开(公告)号：KR20210027670A

公开(公告)日：2021-03-11

申请号：KR1020190107496A

申请日：2019-08-30

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 김태효 ,  김찬호 ,  변대석

IPC: H01L23/58 ,  G11C29/04 ,  G11C29/54 ,  H01L21/50 ,  H01L21/66 ,  H01L21/78 ,  H01L23/00 ,  H01L25/07

CPC classification number: H01L23/58 ,  H01L23/4951 ,  G11C29/04 ,  G11C29/54 ,  H01L21/50 ,  H01L21/78 ,  H01L22/30 ,  H01L23/49558 ,  H01L23/5389 ,  H01L24/14 ,  H01L24/29 ,  H01L24/75 ,  H01L25/0657 ,  H01L25/074 ,  H01L2924/14

Abstract: 본 발명은 반도체 다이에 관한 것이다. 본 발명의 반도체 다이는 제1 패드들, 제1 패드들과 각각 연결된 스위치들, 테스트 신호들을 생성하고, 그리고 테스트 신호들을 스위치들에 전송하도록 구성되는 테스트 신호 생성기, 제1 패드들 및 스위치들을 통해 제1 신호들을 수신하고, 제1 신호들에 기반하여 제1 신호들에 대응하는 동작들을 수행하고, 그리고 동작들의 결과에 따라 스위치들 및 제1 패드들을 통해 제2 신호들을 출력하도록 구성되는 내부 회로들, 그리고 테스트 동작 시에 제1 패드들을 테스트 신호 생성기에 연결하고, 그리고 테스트 동작의 완료 후에 제1 패드들을 내부 회로들로 연결하도록 스위치들을 제어하도록 구성되는 스위치 제어기를 포함한다.

公开(公告)号：KR1020020095723A

公开(公告)日：2002-12-28

申请号：KR1020010033906

申请日：2001-06-15

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 박기웅 ,  홍인표 ,  신석종 ,  강제성 ,  김태효 ,  이남희 ,  차성덕

IPC: G06F11/28

Abstract: PURPOSE: A method and tool for automating an integrated software test are provided to automatically generate the test data based on an interaction between the tasks described by a message sequence chart and to automatically execute the generated test data. CONSTITUTION: The interaction between the tasks of an embedded software is described by using the message sequence chart. The transition between a system state and a message sequence state obtained by the execution of the message sequence charts is converted into a GFSM(Global Finite State Machine)(s102). A test sequence to visit all states and transitions of the system is generated from the generated GFSM(s104). The generated test sequence is executed by using a test driver realizing on a simulator of the embedded software(s106). In order to examine a test result, a native test driver and a Java test driver are monitored(s108).

Abstract translation: 目的：提供用于自动化集成软件测试的方法和工具，以根据消息序列图描述的任务之间的交互自动生成测试数据，并自动执行生成的测试数据。 构成：使用消息序列图描述嵌入式软件任务之间的交互。 通过执行消息序列图获得的系统状态和消息序列状态之间的转换被转换为GFSM（全局有限状态机）（s102）。 从生成的GFSM生成访问系统的所有状态和转换的测试序列（s104）。 通过使用在嵌入式软件的模拟器上实现的测试驱动程序来执行生成的测试序列（s106）。 为了检查测试结果，监视本机测试驱动程序和Java测试驱动程序（s108）。