전계 발광 검사 장치
    2.
    发明申请

    公开(公告)号:WO2023090622A1

    公开(公告)日:2023-05-25

    申请号:PCT/KR2022/014389

    申请日:2022-09-27

    Abstract: 전계 발광 검사 장치가 개시된다. 전계 발광 검사 장치는, 제1 기판과, 제1 기판의 제1 면에 배열되고 탄성력을 가지는 복수의 전극 부재와, 제1 기판의 제1 면의 반대 측에 위치한 제1 기판의 제2 면에 배치되며 복수의 전극 부재를 통해 제2 기판에 배열된 복수의 발광 다이오드에 전류를 인가하는 구동 회로와, 복수의 전극 부재와 구동 회로를 전기적으로 연결하는 복수의 연결 배선을 포함할 수 있다.

    전계 발광 검사 장치
    3.
    发明申请

    公开(公告)号:WO2023080422A1

    公开(公告)日:2023-05-11

    申请号:PCT/KR2022/013516

    申请日:2022-09-08

    Abstract: 전계 발광 검사 장치가 개시된다. 개시된 전계 발광 검사 장치는 제1 기판과, 제1 기판의 일면에 배열되고 전계 발광 검사 시 제2 기판에 배열된 복수의 광 다이오드의 칩 전극 패드에 각각 전기적으로 접촉되는 복수의 전극 부재를 포함하며, 각 전극 부재는 제1 기판이 제2 기판에 의해 가압 될 때 발광 다이오드의 칩 전극 부재에 탄력적으로 접촉되는 복수의 접촉 돌기부가 마련될 수 있다.

    디스플레이 모듈
    4.
    发明申请

    公开(公告)号:WO2022025394A1

    公开(公告)日:2022-02-03

    申请号:PCT/KR2021/005553

    申请日:2021-05-03

    Abstract: 디스플레이 모듈이 개시된다. 디스플레이 모듈은 글라스 기판과 글라스 기판의 일면에 형성된 TFT(Thin Film Transistor) 층을 포함하는 TFT 기판과, TFT 층에 형성된 다수의 TFT 전극에 전기적으로 연결된 다수의 LED(Light Emitting Diode)를 포함하며, TFT 층은 다수의 LED에 각각 병렬로 연결되어 TFT 층에 발생하는 정전기를 흡수하는 다수의 희생 스위칭 소자를 포함한다.

    디스플레이 모듈 및 그 제조 방법

    公开(公告)号:WO2022114395A1

    公开(公告)日:2022-06-02

    申请号:PCT/KR2021/001394

    申请日:2021-02-03

    Abstract: 디스플레이 모듈이 개시된다. 개시된 디스플레이 모듈은 다수의 전극 패드가 배열된 기판; 및 상기 다수의 기판 전극 패드에 전기적으로 연결되는 다수의 마이크로 LED;를 포함하며, 상기 다수의 기판 전극 패드는 하나의 픽셀 당 적어도 4개가 구비되며,각 기판 전극 패드는 다수의 접촉 돌기가 형성된 제1 영역과, 리페어용 마이크로 LED를 전기적으로 연결하기 위한 제2 영역을 포함한다.

Patent Agency Ranking