감광성 반사 방지막 형성용 조성물, 이를 이용한 패턴 형성 방법 및 이를 이용한 반도체 소자의 제조 방법
    1.
    发明公开
    감광성 반사 방지막 형성용 조성물, 이를 이용한 패턴 형성 방법 및 이를 이용한 반도체 소자의 제조 방법 无效
    用于感光型底漆底漆抗反射涂料的组合物,使用其的图案的制造方法以及使用其的半导体器件的制造方法

    公开(公告)号:KR1020110088809A

    公开(公告)日:2011-08-04

    申请号:KR1020100008495

    申请日:2010-01-29

    CPC classification number: G03F7/091 G03F7/11 H01L21/0276

    Abstract: PURPOSE: A composition for forming a photosensitive type anti-reflective coating, a pattern forming method using the same, and a semiconductor device manufacturing method using the same are provided to form superior trench patterns based on little amount of exposed light. CONSTITUTION: A composition for forming a photosensitive type anti-reflective coating includes a photoacid generator containing onium salt and a photo-resist agent reacting with i-line light. The onium salt includes sulfonate. The sulfonate includes a sulfonate cation part represented by chemical formula 1 and a sulfonate anion part represented by chemical formula 2. In the chemical formula 1, the A, the B, and the C includes C1 to C20 alkyl group, C2 to C20 alkoxy group, C4 to C20 aryl group, C3 to C20 cyclo alkyl group, or C5 to C20 alkoxycyclo alkyl group. In the chemical formula 2, the n is 1 to 3. The X includes C4 to C10 cyclic group, alkyl group, cycloalkyl group, and other groups.

    Abstract translation: 目的:提供一种用于形成感光型抗反射涂层的组合物,使用该组合物的图案形成方法和使用该组合物的半导体器件制造方法,以基于少量的曝光而形成优异的沟槽图案。 构成:用于形成感光型抗反射涂层的组合物包括含有鎓盐的光酸产生剂和与i线光反应的光致抗蚀剂。 鎓盐包括磺酸盐。 磺酸盐包括由化学式1表示的磺酸盐阳离子部分和由化学式2表示的磺酸根阴离子部分。在化学式1中,A,B和C包括C1〜C20烷基,C2〜C20烷氧基 C4〜C20芳基,C3〜C20环烷基或C5〜C20烷氧基环烷基。 在化学式2中,n为1〜3。X包括C 4〜C 10的环状基,烷基,环烷基等。

    프로브 어레이 제조용 포토레지스트 조성물 및 이를 이용한 프로브 어레이의 제조 방법
    2.
    发明公开
    프로브 어레이 제조용 포토레지스트 조성물 및 이를 이용한 프로브 어레이의 제조 방법 无效
    用于制作探针阵列的光电组合物和使用其制造探针阵列的方法

    公开(公告)号:KR1020110135752A

    公开(公告)日:2011-12-19

    申请号:KR1020100055662

    申请日:2010-06-11

    CPC classification number: G03F7/0045 G03F7/004 G03F7/0046 G03F7/0047 G03F7/029

    Abstract: PURPOSE: A photo-resist composition for manufacturing a probe array and a method for manufacturing the probe array using the same are provided to include an onium salt-containing photoacid generating agent and a photo-sensitive agent reactive to i-line light. CONSTITUTION: A photo-resist composition for manufacturing a probe array includes an onium salt-containing photoacid generating agent and a photo-sensitive agent reactive to i-line light. The onium salt includes sulfonate cation part represented by chemical formula 1 and sulfonate anion part represented by chemical formula 2. In the chemical formula 1, the A, the B, and the C are respectively hydroxyl group, cyclo group, and cycloalkyl group. In the chemical formula 2, the n is between 1 and 3. The X includes C3 to C10 cyclogroup, adamantyl group, and oxygen containing cycloheptane group.

    Abstract translation: 目的:提供用于制造探针阵列的光致抗蚀剂组合物和使用其的制造探针阵列的方法,以包括含鎓盐的光酸产生剂和对i线光无反应的光敏剂。 构成:用于制造探针阵列的光致抗蚀剂组合物包括含鎓盐的光酸产生剂和与i线光反应的光敏剂。 鎓盐包括由化学式1表示的磺酸盐阳离子部分和由化学式2表示的磺酸根阴离子部分。在化学式1中,A,B和C分别是羟基,环基和环烷基。 在化学式2中,n在1和3之间.X包括C 3至C 10环基,金刚烷基和含氧环庚烷基。

    프로브 어레이의 제조 방법
    3.
    发明公开
    프로브 어레이의 제조 방법 无效
    微波炉制作方法

    公开(公告)号:KR1020110111720A

    公开(公告)日:2011-10-12

    申请号:KR1020100030945

    申请日:2010-04-05

    CPC classification number: G03F7/165 G01N33/487 G03F7/0392 G03F7/095 G03F7/405

    Abstract: 프로브 어레이의 제조 방법이 제공된다. 프로브 어레이의 제조 방법은, 표면에 아세탈기를 포함하고 하기 화학식 1로 표시되는 산분해성 보호기에 의해 보호되고, 프로브의 제1 모노머와 커플링할 수 있는 작용기를 가지는 기판을 제공하고, 광산발생제를 포함하는 포토레지스트를 기판 상에 제공하고, 포토레지스트를 선택적으로 노광하여 노광된 영역에 대응하는 산분해성 보호기를 탈보호하고, 포토레지스트를 제거하고, 산분해성 보호기와 결합된 제1 모노머를 탈보호된 작용기와 커플링하는 것을 포함한다.


    (단, 상기 R1은 탄소수가 1 내지 5인 알킬기이고, 상기 R2는 수소, 또는 메틸기이고, Y는 모노머 또는 기판과 커플링되는 사이트이다.)

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