차지 스토리지 메모리의 구조를 이용한 측정 장치 및 측정 방법
    2.
    发明公开
    차지 스토리지 메모리의 구조를 이용한 측정 장치 및 측정 방법 有权
    使用充电存储器结构的测量装置及其测量方法

    公开(公告)号:KR1020150092516A

    公开(公告)日:2015-08-13

    申请号:KR1020140012979

    申请日:2014-02-05

    Abstract: 외부인자를 측정하는 장치가 개시된다. 실시예들은 외부인자에 의해 빛을 발생시키는 발광부, 발생된 빛에 의해 전하 밀도가 변하는 차지 스토리지 메모리, 및 전하 밀도의 변화에 따라 저장되는 정보가 변경되도록 바이아스 전압을 제어하는 제어부를 포함한다.

    Abstract translation: 本发明涉及外部因素的测量设备。 提供了通过外部因素产生光的发光单元。 电荷存储器,其通过产生光而改变电荷密度,并且包括控制单元,其控制偏置电压以根据电荷密度的变化来改变存储的信息。

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