Abstract:
일 실시예는 적어도 하나의 MOS 커패시터에 인가되는 게이트 전압 및 MOS 커패시터에 저장되는 전하량을 조절하여 MOS 커패시터에 저장된 전하량 변화의 민감도를 결정하고, 일정 시간 전기장에 노출시킨 후 전기장에 의한 전자의 유입 또는 유출의 결과를 판독하여 전기장의 세기 및 방향을 해석함으로써 전기장의 세기 및 방향을 측정하는 기술을 제공한다.
Abstract:
병렬화 기법을 활용하는 플래시 메모리 칩이 개시된다. 일 실시예는 플래시 메모리 소자들로 구성된 복수의 메모리 플레인들, 플래시 메모리 컨트롤러로부터 전송된 복수의 명령들을 저장하는 명령 저장부, 플래시 메모리 컨트롤러와 복수의 메모리 플레인들 사이에 전송되는 데이터를 저장하는 데이터 저장부, 및 복수의 명령들에 기초하여 복수의 플래시 메모리 연산들을 병렬화하기 위하여 명령 저장부, 데이터 저장부, 및 복수의 메모리 플레인들을 제어하는 병렬화 제어부를 포함한다.
Abstract:
PURPOSE: A method and a storage system for controlling materialization in a storage medium using mode setting and delimiters are provided to accurately and efficiently implement the materialization by directly transferring materialization order or atomicity control requests to a storage device. CONSTITUTION: A host interface (1310) receives writing commands for writing data from a host system on a storage medium of a storage device; a group starting delimiter for representing the starting of a group inserted between the writing commands; and a group finishing delimiter for representing the finishing of the group. A controller (1330) identifies the group from the writing commands using the group starting and finishing delimiters and determines materialization order or atomicity of the writing commands based on the group. The controller processes the writing commands based on the determined result. A storage device (1350) materializes the writing commands according to the processed result. [Reference numerals] (1310) Host interface; (1330) Controller; (1350) Storage device
Abstract:
일실시예는적어도하나의 MOS 커패시터에인가되는게이트전압및 MOS 커패시터에저장되는전하량을조절하여 MOS 커패시터에저장된전하량변화의민감도를결정하고, 일정시간전기장에노출시킨후 전기장에의한전자의유입또는유출의결과를판독하여전기장의세기및 방향을해석함으로써전기장의세기및 방향을측정하는기술을제공한다.
Abstract:
일실시예는적어도하나의 MOS 커패시터에인가되는게이트전압및 MOS 커패시터에저장되는전하량을조절하여 MOS 커패시터에저장된전하량변화의민감도를결정하고, 일정시간전기장에노출시킨후 전기장에의한전자의유입또는유출의결과를판독하여전기장의세기및 방향을해석함으로써전기장의세기및 방향을측정하는기술을제공한다.