Ⅲ족 질화물 표면 격자 반사체
    1.
    发明申请
    Ⅲ족 질화물 표면 격자 반사체 审中-公开
    III-NITRIDE表面镀层反射器

    公开(公告)号:WO2011046244A1

    公开(公告)日:2011-04-21

    申请号:PCT/KR2009/005996

    申请日:2009-10-16

    CPC classification number: G02B5/1861

    Abstract: Ⅲ족 질화물 표면 격자 반사체가 개시된다. 일 실시예로서, 기판 및 상기 기판의 일면 위에 배치되며 1차원 회절 격자 패턴의 구조가 표면에 형성된 Ⅲ족 질화물 층을 포함하되, 상기 격자 패턴 구조는 마루 부분과 골 부분이 주기적으로 배치된 요철 형상의 단면을 가지며, 상기 Ⅲ족 질화물 내부로부터 입사한 입사광 중 상기 마루 부분을 투과하는 제 1 광과 상기 골 부분을 투과하는 제 2 광이 서로 상쇄간섭을 일으킴으로써 상기 입사광이 상기 격자 패턴 구조의 표면에서 반사되는 Ⅲ족 질화물 표면 격자 반사체가 개시된다.

    Abstract translation: 公开了III族氮化物表面光栅反射器。 作为一个实施例,III族氮化物表面光栅反射器包括:衬底; 以及设置在基板的一侧上的III族氮化物层,并且在表面上形成有一维衍射光栅图案的结构,其中光栅图案的结构具有不均匀的横截面,峰顶 并且槽周期性地布置,并且在从III族氮化物层的内部入射的光中,穿过波峰的第一光和通过槽的第二光相互造成相互干扰,由此入射光在 光栅图案的结构表面。

    Ⅲ족 질화물 표면 격자 반사체
    2.
    发明授权
    Ⅲ족 질화물 표면 격자 반사체 有权
    III-NITRIDE表面镀层反射器

    公开(公告)号:KR101377397B1

    公开(公告)日:2014-03-25

    申请号:KR1020127010505

    申请日:2009-10-16

    CPC classification number: G02B5/1861

    Abstract: Ⅲ족질화물표면격자반사체가개시된다. 일실시예로서, 기판및 상기기판의일면위에배치되며 1차원회절격자패턴의구조가표면에형성된Ⅲ족질화물층을포함하되, 상기격자패턴구조는마루부분과골 부분이주기적으로배치된요철형상의단면을가지며, 상기Ⅲ족질화물내부로부터입사한입사광중 상기마루부분을투과하는제 1 광과상기골 부분을투과하는제 2 광이서로상쇄간섭을일으킴으로써상기입사광이상기격자패턴구조의표면에서반사되는Ⅲ족질화물표면격자반사체가개시된다.

    Ⅲ족 질화물 박막 격자 반사체
    4.
    发明公开
    Ⅲ족 질화물 박막 격자 반사체 有权
    III-NITRIDE膜烧结反射器

    公开(公告)号:KR1020110041969A

    公开(公告)日:2011-04-22

    申请号:KR1020100006793

    申请日:2010-01-26

    Abstract: PURPOSE: A family III nitride thin film lattice reflector is provided to obtain the high reflectivity for the incident light of a particular wavelength by comprising the lattice shape grid structure being parallel. CONSTITUTION: A buffer layer is arranged on a substrate. A first layer made of the family III nitride comprises an air gap(235) on the buffer layer. A second level made of III family nitride comprises the lattice shape thin film grid structure being parallel where lattice and air hole(244) are periodically arranged on the first layer. Since the second light passing through the first light and air hole each other raises the destructive interference the incident light is reflected to the grid structure surface.

    Abstract translation: 目的:提供一种III族氮化物薄膜点阵反射器,以通过包括平行的格子状网格结构来获得特定波长的入射光的高反射率。 构成:在衬底上布置缓冲层。 由III族氮化物构成的第一层包括缓冲层上的气隙(235)。 由III族氮化物构成的第二级包括晶格形状薄膜栅格结构平行,其中晶格和空气孔(244)周期性地布置在第一层上。 由于通过第一光和空气孔的第二光使得入射光被反射到栅格结构表面而引起相消干涉。

    생물막 측정 방법
    5.
    发明公开
    생물막 측정 방법 有权
    检测生物膜的方法

    公开(公告)号:KR1020100052165A

    公开(公告)日:2010-05-19

    申请号:KR1020080111063

    申请日:2008-11-10

    Abstract: PURPOSE: A method of measuring a bio film is provided to be able to monitor the growth of a bio film in real time by perceiving the microorganism amount of the bio film without affecting the growth of the bio film. CONSTITUTION: A method of measuring a bio film is as follows. A first bio film is formed(S10). While the first bio film is formed, a plurality of impedance data is obtained by measuring the impedance of the first bio film using the electrochemical impedance spectroscopy(S20). A microorganism amount data is obtained by measuring the microorganism amount of the first bio film corresponding to the impedance of the first bio film(S40). The impedance-microorganism amount data is obtained by corresponding the impedance data to the microorganism amount data. The impedance of a second bio film is measured (S50). The microorganism amount of the second bio film at the impedance of the second bio film is derived using the impedance-microorganism amount data(S60).

    Abstract translation: 目的:提供一种测量生物膜的方法,以便通过感知生物膜的微生物量而不影响生物膜的生长来实时监测生物膜的生长。 构成:测量生物膜的方法如下。 形成第一生物膜(S10)。 当形成第一生物膜时,通过使用电化学阻抗光谱测量第一生物膜的阻抗来获得多个阻抗数据(S20)。 通过测量与第一生物膜的阻抗相对应的第一生物膜的微生物量来获得微生物量数据(S40)。 通过将微生物量数据的阻抗数据对应来获得阻抗 - 微生物量数据。 测量第二生物膜的阻抗(S50)。 使用阻抗微生物量数据导出第二生物膜的阻抗处的第二生物膜的微生物量(S60)。

    전기이중층 전기용량에 기초한 생물막의 성장 정도 측정 방법 및 측정 장치
    6.
    发明授权
    전기이중층 전기용량에 기초한 생물막의 성장 정도 측정 방법 및 측정 장치 有权
    基于双层电容测量生物膜的方法和装置

    公开(公告)号:KR101166222B1

    公开(公告)日:2012-07-16

    申请号:KR1020100017490

    申请日:2010-02-26

    Abstract: 전기화학적 임피던스 분광법을 이용하여 서로 다른 주파수를 가지는 복수의 교류 신호들에 대한 생물막의 임피던스를 각각 측정하여 복수의 임피던스 데이터를 획득한다. 복수의 임피던스 데이터를 수치 해석하여 생물막의 전기이중층 전기용량을 모니터링한다. 모니터링된 전기이중층 전기용량에 기초하여 생물막의 성장 정도를 판단한다. 전기화학적 분석 방법에 기초하여 생물막의 전기이중층 전기용량을 모니터링함으로써 생물막의 성장 정도를 정확하고 효과적으로 측정할 수 있다.

    Ⅲ족 질화물 표면 격자 반사체
    7.
    发明公开
    Ⅲ족 질화물 표면 격자 반사체 有权
    III-NITRIDE SURFACE GRATING REFRDOR

    公开(公告)号:KR1020120079113A

    公开(公告)日:2012-07-11

    申请号:KR1020127010505

    申请日:2009-10-16

    CPC classification number: G02B5/1861

    Abstract: PURPOSE: An III-nitride surface grating reflector is provided to increase a wavelength band of incident light showing high reflectivity of more than about 0.8 as well as produce excellent reflectivity from TE polarized light. CONSTITUTION: An III-nitride surface grating reflector is arranged on a substrate and one side of the substrate and includes an III nitride layer. The III family nitride layer forms one dimensional diffraction grating pattern on the surface. A grid pattern has a cross section of an uneven shape in which a valley portion and a floor portion are periodically arranged. First light and second light causes destructive interference and incident light is reflected from the surface of the grating pattern structure. The first light transmits the floor portion of the incident light entering from the inside III family nitride. The second light transmits the valley portion.

    Abstract translation: 目的:提供III族氮化物表面光栅反射器,以增加大于约0.8的高反射率的入射光的波长带,以及从TE偏振光产生优异的反射率。 构成:III族氮化物表面光栅反射器设置在衬底和衬底的一侧上并且包括III族氮化物层。 III族氮化物层在表面上形成一维衍射光栅图案。 栅格图案具有不平坦的形状的横截面,其中谷部分和地板部分周期性地布置。 第一光和第二光引起相消干涉,入射光从光栅图案结构的表面反射。 第一光透射从内部III族氮化物进入的入射光的地板部分。 第二光透过谷部。

    Ⅲ족 질화물 박막 격자 반사체
    8.
    发明授权
    Ⅲ족 질화물 박막 격자 반사체 有权
    III族氮化物薄膜晶格反射器

    公开(公告)号:KR101061803B1

    公开(公告)日:2011-09-05

    申请号:KR1020100006793

    申请日:2010-01-26

    Abstract: Ⅲ족 질화물 박막 격자 반사체가 개시된다. 일 실시 예로서, Ⅲ족 질화물 박막 격자 반사체는 기판 및 상기 기판 위에 완충층이 배치되고 상기 완충층 위에 에어갭(air gap)을 포함하는 Ⅲ족 질화물로 된 제 1 층이 배치되고, 상기 제 1 층 위에 격자와 공기홀이 주기적으로 배열되는 평행한 창살형 박막 격자 구조를 포함하는 Ⅲ족 질화물로 된 제 2 층을 포함하여 외부에서 상기 격자 구조에 수직으로 입사하는 입사광 중 상기 격자를 통과하는 제 1 광과 상기 공기홀을 통과하는 제 2 광이 서로 상쇄간섭을 일으킴으로써 상기 입사광이 상기 격자 구조 표면에서 반사된다.

    Abstract translation: 公开了一种III族氮化物薄膜晶格反射器。 在一个实施例中,Ⅲ族氮化物薄膜格栅反射器是包含设置在衬底和衬底和所述缓冲层上方的空气间隙(气隙)上的缓冲层被设置在一Ⅲ族氮化物的第一层,所述第一层 从外面看,包括光栅和第二层的空气孔,以ⅲ族氮化物,其包括平行炉排型薄膜格子,其被周期性地布置在穿过入射光的网格垂直入射在晶格结构中的第一光, 和已经通过空气孔通过了第二光从反射的入射光,所述通过使彼此相消干涉光栅的表面结构。

    전기이중층 전기용량에 기초한 생물막의 성장 정도 측정 방법 및 측정 장치
    10.
    发明公开
    전기이중층 전기용량에 기초한 생물막의 성장 정도 측정 방법 및 측정 장치 有权
    基于双层电容测量生物膜的方法和装置

    公开(公告)号:KR1020110098067A

    公开(公告)日:2011-09-01

    申请号:KR1020100017490

    申请日:2010-02-26

    Abstract: 전기화학적 임피던스 분광법을 이용하여 서로 다른 주파수를 가지는 복수의 교류 신호들에 대한 생물막의 임피던스를 각각 측정하여 복수의 임피던스 데이터를 획득한다. 복수의 임피던스 데이터를 수치 해석하여 생물막의 전기이중층 전기용량을 모니터링한다. 모니터링된 전기이중층 전기용량에 기초하여 생물막의 성장 정도를 판단한다. 전기화학적 분석 방법에 기초하여 생물막의 전기이중층 전기용량을 모니터링함으로써 생물막의 성장 정도를 정확하고 효과적으로 측정할 수 있다.

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