변형 조절된 복합 반도체 기판들 및 그의 형성 방법
    3.
    发明授权
    변형 조절된 복합 반도체 기판들 및 그의 형성 방법 有权
    应变工程复合半导体基板及其形成方法

    公开(公告)号:KR101226073B1

    公开(公告)日:2013-01-25

    申请号:KR1020117012475

    申请日:2008-12-19

    Applicant: 소이텍

    CPC classification number: H01L33/007 H01L21/76254 H01L33/0079

    Abstract: 지지 기판 위에 변형된 III-질화물 재료 시드층을 구비하는 복합 기판들이 생성된다. 복합 기판을 생성하는 방법들은 복합 기판 위에 형성될 디바이스 구조의 격자 상수와 실질적으로 일치하는 격자 상수를 생성하기 위해 III-질화물 재료에서 원하는 격자 변형을 발전시키는 단계를 포함한다. III-질화물 재료는 Ga 극성 또는 N 극성으로 형성될 수 있다. 원하는 격자 변형은 III-질화물 재료와 성장 기판 사이에 버퍼층을 형성하고, III-질화물 재료에 도펀트를 주입하거나 불순물을 도입하여 그 격자 상수를 변경하는 단계, 또는 상이한 열팽창 계수(CTE)를 갖는 성장 기판 위에 CTE를 갖는 III-질화물 재료를 형성하는 단계에 의해 발전될 수 있다.

    변형 조절된 복합 반도체 기판들 및 그의 형성 방법
    4.
    发明公开
    변형 조절된 복합 반도체 기판들 및 그의 형성 방법 有权
    应变工程复合半导体基片及其形成方法

    公开(公告)号:KR1020110081331A

    公开(公告)日:2011-07-13

    申请号:KR1020117012475

    申请日:2008-12-19

    Applicant: 소이텍

    CPC classification number: H01L33/007 H01L21/76254 H01L33/0079

    Abstract: 지지 기판 위에 변형된 III-질화물 재료 시드층을 구비하는 복합 기판들이 생성된다. 복합 기판을 생성하는 방법들은 복합 기판 위에 형성될 디바이스 구조의 격자 상수와 실질적으로 일치하는 격자 상수를 생성하기 위해 III-질화물 재료에서 원하는 격자 변형을 발전시키는 단계를 포함한다. III-질화물 재료는 Ga 극성 또는 N 극성으로 형성될 수 있다. 원하는 격자 변형은 III-질화물 재료와 성장 기판 사이에 버퍼층을 형성하고, III-질화물 재료에 도펀트를 주입하거나 불순물을 도입하여 그 격자 상수를 변경하는 단계, 또는 상이한 열팽창 계수(CTE)를 갖는 성장 기판 위에 CTE를 갖는 III-질화물 재료를 형성하는 단계에 의해 발전될 수 있다.

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