Abstract:
본 발명은 터널 전계효과 트랜지스터 및 그 제조방법에 관한 것으로, 터널영역에 접하는 게이트 산화막과, 게이트 산화막 상부에 위치하는 게이트와, 상기 터널영역을 중심으로 양측면에 각각 배치되는 소스와 드레인을 포함하는 터널 전계효과 트랜지스터에 있어서, 상기 소스는 상기 터널영역과 이격된 기판의 영역에 소정 깊이로 매립되어 위치하는 소스 플러그와, 상기 소스 플러그에서 상기 터널영역에 접하도록 돌출된 다수의 소스 돌출부를 포함한다.
Abstract:
PURPOSE: A tunneling field effect transistor having the FINFET structure of an independent dual gate and a fabrication method thereof are provided to increase the driving current without the loss of a separate area by forming a vertical dual gate structure which is electrically separated from both sides of a semiconductor pin. CONSTITUTION: A semiconductor substrate (10) includes a semiconductor pin (14) at a constant height. A p+ region (62) and an n+ region (64) are formed at both sides of the semiconductor substrate. The semiconductor pin is formed between the p+ region and the n+ region. A first gate (52) is formed between one side of the semiconductor pin and the n+ region. A second gate (54) is formed between the other side of the semiconductor pin and the p+ region. The material of the first gate is different from that of the second gate.